共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
《有色金属材料与工程》1988,(1)
1.φ3″IC用硅抛光片φ3″IC用硅抛光片为市级科研项目。鉴定专家对上冶二厂新的无蜡抛光清洗工艺和硅片技术参数进行了评定,认为无蜡抛光工艺先进、制备的抛光片平整度高、翘曲度低、无白雾、无划痕,达到了市科委下达的指标要求。其中平整度和表面白雾等部分指标接近联邦德国瓦克公司硅抛光片标准。 相似文献
2.
3.
4.
黄志清 《有色金属材料与工程》1991,(6)
日本硅公司和三菱材料公司开发了半导体单晶硅的连续直拉法——SCCZ 法,日本硅公司新建了一台专用炉,经试生产,从91年8月起正式投产并开始出售产品。生产能力为每月生产一万片5英寸硅片。此外,还在6英寸试验炉上连续直拉成功2米多长的单晶硅。其它硅厂也在进行连续直拉法的研 相似文献
5.
6.
7.
刷洗对硅单晶抛光片表面质量的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
本文研究了用SVG-18DWC双面擦片机刷洗经RCA工艺清洗后的硅单晶抛光片表面。结果表明:经SVG-18DWC双面擦片机刷洗后,抛光片的表面颗粒有明显的减少,经WISCR-80测试Φ100mm的抛光片,表面大于0.3μm的颗粒总数小于10个/片,而抛光片表面的部分金属杂质沾污有明显的增加。 相似文献
8.
张润国 《有色金属材料与工程》1984,(2)
目前,日本半导体硅市场产生了供不应求的局面。1983年10月下旬,欧美的瓦克及孟山都等公司已将硅晶片价格提高了7%,日本硅生产工厂也有提高硅价的趋势,但1983年可能暂不涨价,待1984年春再作调整。从日本半导体硅目前的订货量来看, 相似文献
9.
10.
采用流化床反应技术,以H2还原SiHCl3的方法制备太阳能级多晶硅。在直径50 mm的流化床反应器中,加入多晶硅颗粒作为初始晶种,通入SiHCl3和H2气体使颗粒处于流态化状态;高温下,反应生成的多晶硅在晶种表面沉积令颗粒逐渐长大而获得颗粒多晶硅。实验考察了流化床反应状态下的硅还原率和硅沉积速率及其影响因素,分别在950~1100℃,H2/SiHCl3摩尔配比为15,20,30及晶种粒径为350,550μm的条件范围内进行实验。当加入晶种粒径为550μm时,在1100℃条件下,H2/SiHCl3摩尔配比从15%增加到30%,硅还原率从14.2%提高到21.6%;当H2/SiHCl3摩尔配比为20时,温度从950℃提高到1100℃,硅还原率从14.9%提高到19.4%。在1100℃,H2/Si-HCl3摩尔配比为30的条件下,当加入晶种粒径为350μm时,测得硅还原率为25.7%,硅沉积速率为21.3 g.h-1;而晶种粒径为550μm时,硅还原率为22.9%,硅沉积速率为18.0 g.h-1。实验结果表明:提高H2/SiHCl3摩尔配比、提高温度和减少晶种粒径均可显著提高硅还原率和沉积速率,适宜的工艺条件为1050~1100℃,H2/SiHCl3(摩尔比)20~30;晶种颗粒粒径和流化床气流速度是流化床反应过程主要的动力学因素。在西门子法中应用流化床技术将能显著提高硅的还原率和沉积速率,是制备太阳能级多晶硅的可行技术。 相似文献
11.
对3%无取向硅钢进行表面机械研磨处理(SMAT),获得表面纳米结构,再进行550~650℃、4h固体粉末渗硅处理,用透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)和X射线衍射仪(XRD)研究表层组织演变。结果表明:经过SMAT后,3%无取向硅钢表面晶粒尺寸降低至10nm左右,纳米晶层厚度约为20μm。经过550~650℃、4h渗硅处理后,SMAT样品表面形成化合物层,其厚度随着渗硅温度的升高由27μm增加到150μm。化合物层由FeSi和Fe3Si两相组成,其中FeSi相随着渗硅温度的升高而逐渐增加。 相似文献
12.
法国无缝钢管生产商瓦克瑞克(Vallourec)的子公司Valtimet公司2013年夏季将向卡塔尔地区某海水淡化项目供应42000余根长度在25.9m以上的无缝钛管材,其总长度累计达到1.09×10^6m。 相似文献
13.
使区熔硅圆片的规格停留在3英寸的若干工程障碍已经被西门子突破,该公司宣称它可以供应生产4英寸硅棒的区熔炉。西门子的公务人员相信,这种新型的区熔炉将有助干使区熔硅更加吸引超大规模集成电路制造厂商的注意。 现有的区熔工艺仅限于生产棒长短、直径较小的单晶,而西门子的VZA9型新装置可处理长达1500毫米的多晶进料棒,比普通设备所处理的长度 相似文献
14.
目前多晶硅供应十分紧张,现货交易价已达80~100美元/公斤,甚至超过100美元/公斤,故各多晶生产厂家都在积极扩建。本月初瓦克硅电子(Wacker Siltronic)公司发表建设世界最大多晶硅厂的计划,准备在美国的波特兰特厂投资8000万美元建设年产5000吨多晶的工厂(是否在该厂原有多晶2000吨/年左右的基础上扩建,不详一摘者注)。该厂准备明年开春动工,1987年出产品,采用西门子工艺。 相似文献
15.
16.
据日本电报电话公用公司报道,由该公司设计,经Anelva公司制造的硅分子束外延设备能大量生产4英寸的硅外延片。生产一片外延片需20分钟,最高的生长速率为20(?)/s。硅片沉积室50cm~3。硅片可以旋转,整个片子上的厚度均匀性变化<±5%。掺杂剂为锑,掺杂均匀度变化<±10%。均匀度的变化反应整个硅片上温度变化±5℃。加 相似文献
17.
18.
用光学显微镜(OM)及Image Pro Plus金相分析软件对半固态二次加热处理后的过共晶铝硅合金的初生硅组织特征进行分析。结果表明,在过共晶铝硅合金中,通过磷盐变质处理可以让初生硅相细化,平均直径由117μm降至31μm,并通过半固态二次加热使初生硅的形态得到显著的改善,其形状因子为0.67。 相似文献
19.