CeO2包覆SiO2复合粉体的制备及其抛光性能研究

以石英微粉为内核,六水硝酸亚铈(Ce(NO3)3.6H2O)为铈源,以碳铵(NH4HCO3)为沉淀剂,采用化学沉淀法制备出了包覆型的CeO2@SiO2复合粉体。利用热分析仪(TG/DSC)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)、傅里叶红外分析仪(IR)等对所制备复合粉体的成分、晶相结构、形貌、粒径分布及团聚状况进行了表征。将制备的样品对K9玻璃进行了抛光实验,用原子力显微镜观察K9玻璃抛光前后的微观形貌,并测量表面粗糙度。结果表明,所制备的CeO2@SiO2复合颗粒具有明显的包覆结构,纳米CeO2主要以物理吸附的方式包覆在微米石英微粉颗粒表面,AFM测量结果表明,抛光后K9玻璃表面划痕得到明显改善,在10μm×10μm范围内表面粗糙度RMS值由54.217 nm降至1.073 nm。     

电化学法和沉淀法制备的纳米结构CeO_2的微观结构比较

利用X射线衍射、X射线小角散射、扫描电子显微镜、透射电子显微镜等分析手段对电化学法、沉淀法制备的纳米结构的CeO2 的微观结构进行了比较 ,发现电化学法制备CeO2 是由分散的纳米颗粒组成 ,而沉淀法制备的CeO2 则是由粗大片状颗粒组成 ,而该片状颗粒具有纳米的结构。电化学法的CeO2 比沉淀法CeO2 具有更细的纳米结构     

微波辐射下CeO2纳米粉末的制备及表征

以柠檬酸为配体,在微波辐射下用sol-gel法制得了CeO2纳米粉末,成胶时间从普通加热时的24h缩短为10min,经XRD、TEM表征,平均粒径为8nm.探讨了金属与配体的浓度、摩尔比、微波辐射功率对CeO2纳米粉末制备的影响.     

碳吸附沉淀法制备氧化钇稳定氧化锆纳米粉末研究

针对纳米粉末制备过程中团聚问题,研究了碳吸附对氨水沉淀法制备的纳米ZrO2(Y2O3)粉末的物相、粒径、比表面积、前驱体热分解特性以及碳黑的加入量对粉末比表面积的影响.结果表明,采用碳吸附沉淀法可以减少在高温条件下ZrO2晶粒增大,制得粒径小、团聚强度低的氧化钇稳定四方氧化锆纳米粉末.经700℃焙烧后制得分散性好的四方相ZrO2纳米粉末,比表面积为101.2m2/g , 平均粒径为8nm.     

电化学法和沉淀法制备的纳米结构CeO2的微观结构比较

利用X射线衍射、X射线小角散射、扫描电子显微镜、透射电子显微镜等分析手段对电化学法、沉淀法制备的纳米结构的C eO2的微观结构进行了比较，发现电化学法制备CeO2是由分散的纳米颗粒组成，而沉淀法制备的Coeh则是由粗大片状颗粒组成，而该片状颗粒具有纳米的结构。电化学法的CeO2比沉淀法CeO2具有更细的纳米结构。     

低温球磨法制备块体纳米晶Al-Zn-Mg-Cu系铝合金

采用低温球磨法制备了纳米晶Al—Zn—Mg—Cu系铝合金粉末，对纳米晶粉末进行真空热压，获得纳米晶铝合金块体。采用显微分析方法研究了纳米晶粉末和块体材料的微观组织结构：试验结果表明，纳米晶铝合金粉末具有良好的热稳定性，热压块体的平均晶粒尺寸在100nm以下。低温球磨所得铝合金粉末晶粒尺寸为48nm；真空退火试验表明其具有良好的热稳定性；热压块体的平均晶粒尺寸在100nm以下。     

Ti4+掺杂纳米CeO2的制备及其抗紫外性能

以Ce(SO4)2.4H2O为主要材料,采用超声-沉淀法制备了掺杂Ti4+的纳米CeO2,并研究了掺杂Ti4+离子对CeO2的晶型和抗紫外性能的影响。用X-ray衍射、傅立叶红外光谱仪、紫外分光光度计、对其进行了表征。测试结果表明,CeO2晶型为面心立方,粒径范围15nm～25 nm,并且CeO2的红外吸收峰明显发生蓝移。当Ti/Ce摩尔比为0.4∶1时吸收性能最好,使CeO2的光谱响应范围变宽。单体CeO2的紫外屏蔽范围在250nm～350 nm,掺杂了Ti4+离子的CeO2的紫外屏蔽范围在220nm～450 nm。     

等离子喷涂纳米结构Cr2O3·5SiO2·3TiO2涂层性能研究

通过在Cr2O3中添加纳米级SiO2、TiO2粉末制备球形Cr2O3·5SiO2·3TiO2复合粉末,与纯Cr2O3粉末和Metco 136F粉末表面和剖面显微组织对比分析,通过XRD分析纳米添加粉末相组成.通过SEM和图像分析软件对等离子喷涂纳米Cr2O3·5SiO2·3TiO2复合粉末涂层显微组织和孔隙率进行研究,测量涂层显微硬度,结果表明纳米涂层具有更优异的致密度和表面硬度.     

纳米(CeO2)0.95(GdO1.5)0.05材料的制备与电化学性能

采用改进的氨水-双氧水法制备了纳米(CeO2)0.95(GdO1.5)0.05粉末,并利用TGA/DTA、XRD和TEM对粉末进行了表征。由TGA/DTA分析曲线可知,粉末在621℃完全转化为晶态(CeO2)0.95(GdO1.5)0.05;XRD分析表明,粉末样品为萤石结构,计算得粉末的粒度为5.23nm,晶胞常数为0.5406nm;由TEM照片可以看出,粉末呈软团聚状,颗粒细小均匀,粒径分布在5～10nm范围内,与XRD的分析计算结果基本一致。用SPS法制备了纳米(CeO2)0.95(GdO1.5)0.05固体电解质材料,采用交流阻抗法测试其电导率,晶格电导率为1.32E-3S/cm,晶界电导率为0.24E-5S/cm,与普通材料相比,纳米材料的晶格电导率提高了两倍,晶界电导率提高了100多倍,但晶界电导仍小于晶格电导,即晶界仍然是阻抗性的。     

化学共沉淀法制备纳米二氧化铈的研究

采用正、反向化学共沉淀法制备了CeO2纳米粉末材料,有机物共沸蒸馏,用XRD、TEM、BET等技术研究粉体的相结构、晶粒大小、比表面积和孔径情况.结果表明,反向制备的纳米CeO2超细粉体粒径在20nm～40nm之间;样品经400℃焙烧3h后粉体的比表面积为123.14m2/g,平均孔径为55.8578(A),总孔容为0.3439cm3/g.