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组合电路可测试性技术的研究 总被引:1,自引:2,他引:1
随着集成电路设计规模的不断增大,在芯片中特别是系统芯片SOC(system on a chip)中组合电路的可测试性设计方法变得越来越重要.本文采用内建自测试技术对组合电路进行可测试性设计.文中详细分析了组合电路内建自测试的实现原理,通过将测试生成及响应分析逻辑置入电路内部,提高了电路的可控制性和可观察性,从而可使该电路的测试和诊断快速而有效.最后对8位行波进位加法器的内建自测试设计过程进行了详细分析,并通过MAX plusⅡ进行了实现. 相似文献
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本文介绍了SOC片上嵌入式微处理器核的各种可测性方法,从是否添加可测性电路来分,可分为基于硬件的自测试方法和基于软件的自测试方法.基于硬件的自测试方法是利用各种可测性设计技术实现对微处理器核的测试,包括插入DFT测试电路的方法和基于BIST技术的功能性测试方法.本文提出了一种BIST型的具体测试结构,可用于测试一个简单8位处理器核;基于软件的自测试方法则是利用处理器核本身的指令集来实现自我测试.文中最后分析了这2类测试方法的优缺点和未来微处理器核的测试发展方向. 相似文献
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组合电路可测试性技术的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
随着集成电路设计规模的不断增大,在芯片中特别是系统芯片SOC(system on a chip)中组合电路的可测试性设计方法变得越来越重要.本文采用内建自测试技术对组合电路进行可测试性设计,详细分析了组合电路内建自测试的实现原理.通过将测试生成及响应分析逻辑置入电路内部,提高了电路的可控制性和可观察性,从而可使该电路的测试和诊断快速而有效.最后对8位行波进位加法器的内建自测试设计过程进行了详细分析,并通过MAX pluslI将其实现. 相似文献
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针对模拟控制和单片机控制的MIG焊接电源控制系统灵活性差、控制精度低及可靠性差等缺点,设计了基于32位微处理器(MCF5213CAF80)和FPGA的数字控制系统.介绍了控制系统的整体硬件电路设计方案、采样和A/D转换电路、PWM驱动电路.同时,介绍了FPGA的软件设计和在MCF5213CAF80上的嵌入式操作系统设计.实验结果表明,基于微处理器和FPGA的脉冲MIG焊接电源控制系统动态响应快、可靠性高、弧长控制稳定. 相似文献
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中低压配电静止无功发生器及其驱动技术研究 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了一种基于电压型逆变器的中低压配电静止无功发生器(DSTATCOM)的系统构成和研制过程.DSTATCOM的主电路功率开关器件采用IGBT功率管,驱动电路采用了智能集成驱动模块2SD315A,给出了详细的驱动电路及其上电复位电路原理图.DSTATCOM的控制系统采用基于旋转坐标系的直接电流控制方法.为了改善DSTATCOM的无功补偿性能,在控制系统中引入了直流侧电容电压的闭环控制.给出了控制系统的DSP实现,并完成了DSTATCOM用于改善电压质量的实验. 相似文献
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基于STM32F105VCT6芯片,设计了一款支持触摸/刷卡操作、电能计量和4G通信等功能的三相交流充电桩控制系统。提出了三相交流充电桩控制系统的主体结构,对其进行了功能模块划分,设计了控制系统的硬件电路和软件程序,主要包括控制导引状态检测电路、三相电压和电流测量等电路,并且采用KeilμVision5软件开发系统对控制系统进行软件开发,设计了控制导引电路和状态检测电路等软件程序。样机测试表明,所设计的三相交流充电桩控制系统能够实现充电桩与车辆的正确响应,可以用于电动汽车充电领域。 相似文献
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提出了一种基于分层结构的内建自测试(BIST)设计方法—3DC-BIST(3D Circuit-BIST)。根据3D芯片的绑定前测试和绑定后测试阶段,针对3D芯片除底层外的各层电路结构,采用传统方法,设计用于绑定前测试的相应BIST结构;针对3D芯片底层电路结构与整体结构,通过向量调整技术,设计既能用于底层电路绑定前测试又能用于整体3D芯片绑定后测试的BIST结构。给出了一种针对3D芯片的BIST设计方法,与传统方法相比减少了面积开销。实验结果表明该结构在实现与传统3D BIST方法同样故障覆盖率的条件下,3D平面面积开销相比传统设计方法减少了6.41%。 相似文献
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基于人工免疫系统的电路小样本故障诊断方法 总被引:2,自引:0,他引:2
针对常规电路故障诊断方法存在的故障样本需求大的问题,基于免疫系统的阴性选择机理,提出了建立人工免疫系统实现电路小样本故障诊断的新方法。该方法仅需电路正常模式测试数据加一组故障模式测试数据为样本,生成随机检测器,再运用变异实值否定选择算法优化随机检测器,结合基于故障样本生成故障类型检测器构成人工免疫系统的故障检测器,并采用二次匹配方法完成电路的故障诊断。对ITC’97的CTSV滤波器电路的故障诊断表明,该方法可应用于小故障样本场合下的电路故障诊断,具有较高的实际应用前景。 相似文献
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随着集成电路工艺和规模的飞速发展,使得VLSI测试变得日益困难,因此测试技术成为VLSI领域的一个重要研究课题。在分析VLSI测试的瓶颈问题基础上,介绍了几种电路分块算法,分析了分块算法对于VLSI测试的必要性。利用分块算法将原始电路划分为若干子块有利于采用不同BIST结构对子块进行测试,使得一定时间内电路翻转次数降低,而功耗也随之降低;通过比较并行BIST和扫描BIST的实验结果,发现并行BIST获得的系统故障覆盖率高于扫描BIST。 相似文献
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克隆选择优化的SVM模拟电路故障诊断方法 总被引:2,自引:0,他引:2
对基于克隆选择算法的支持向量机(SVM)参数优化、及其在模拟电路故障诊断中的应用进行了深入研究,故障诊断实现步骤为:首先对电路的各种故障模式进行蒙特卡洛仿真分析,利用小波分解提取输出信号的各频段能量,进行归一化处理后得到故障特征样本;然后应用克隆选择算法进行SVM参数优化,并将选定的参数用于SVM的训练;最后采用训练好的SVM对故障样本进行分类,从而实现故障判定。论文以CTSV滤波电路和螺距反馈电路为诊断实例进行了实验验证,结果表明对容差模拟电路的故障定位具有较高的准确率。 相似文献
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针对目前的电网故障诊断模型尚存在的不足,提出一种分层、分布、交互式的电网故障诊断系统,利用基于网络结构及故障信息结构的分层故障诊断策略,将故障诊断策略分布于调度中心及各厂站,由调度中心的上层智能体根据故障复杂性逐层调用断路器、保护、电气量波形信息;各厂站的下层智能体向上层智能体提供所需要的中间结果和数据。上下层智能体并行处理数据,通过广域网进行信息交换。 相似文献