上电绝缘系统少胶VPI线圈电老化试验研究

本文主要介绍了中型高压电机线圈的电老化试验方法,对上海电机厂有限公司的少胶VPI系统的常规电老化性能做出评价。通过电老化的试验,验证了tanδ及△tanδ和老化性能的关系。     

空冷水轮发电机定子线棒制造工艺研究

以真机试验线棒的制造为基础,重点对1000MW的超大容量空冷水轮发电机线圈直线胶化工艺、成型焊接工艺、导线压制工艺、模压工艺、绝缘结构应用等方面进行研究。研究结果完善了薄绝缘、大高宽比模压定子线棒生产工艺,为今后空冷1000MW水轮发电机定子线棒正式投产奠定了坚实基础。     

采用介质损耗表征聚酰亚胺薄膜老化特征的研究

对聚酰亚胺薄膜进行电、热及电-热联合老化,测试了老化前后试样的tanδ和试样电容随试验电压的变化趋势,分析了不同老化条件对tanδ和电容的影响。实验结果表明,试样电容随不同老化条件变化的物理过程与介质损耗实验结果的分析是一致的电老化对tanδ的影响最大,热老化在一定程度上起了热清洗的作用,导致老化后介损反而降低。通过介电频谱分析,tanδ随频率变化曲线上的峰值点可以确定绝缘的老化状况。     

电机定子线圈绝缘多因子老化特征的研究

对电机线棒进行了多因子老化试验 ,在不同的老化阶段 ,测试了线棒的介损 tanδ、电容、电流激增点等非破坏性和破坏性参数——剩余击穿电压。比较了非破坏性参数与剩余击穿电压的相关性 ,提出了表征环氧云母定子线圈老化状态的特征参数     

介质损耗因数出现负值原因分析

对现场测量电气设备tanδ出现负值的各种原因进行分析和讨论,指出试验回路中如存在接触不良、附加损耗电阻、杂散阻抗等均可导致tanδ测量结果出现负值。提出铁心损耗是电磁式电压互感器产生负介损的一个重要因素。认为短路二次绕组后可同时减小铁心损耗和电感的影响。最后提出了解决tanδ为负值的一些措施。     

谈谈影响高压定子线圈介质损耗正切值的一些原因和分析

高压定子线圈的tgδ(介质损耗角正切)是衡量线圈质量的一项重要指标。由于绝缘材料的质量问题或工艺不良将造成线圈绝缘的tgδ值增大。因此,现就我厂高压定子线圈在生产中绝缘处理的情况,影响tgδ值的各种因素,控制线圈的绝缘质量问题做些分析。我厂高压定子线圈的对地绝缘材料用5438—1环氧粉云母带,线圈主绝缘采用模压固化成形工     

基于FDS区分热老化和水分对油纸绝缘状态的影响研究

为区分热老化和水分对频域介电特性的影响,将FDS法应用于变压器主绝缘的老化和受潮状态评估。通过绝缘诊断仪对制备的老化和水分试品进行FDS测量,提取1 mHz及0.1 mHz为老化试品特征频率,100 Hz、1 kHz为水分试品特征频率,利用特征频率处的tanδ区分老化和水分对频域介电特性的影响,并给出了特征频率处tanδ与聚合度以及水分含量的定量拟合关系。研究结果表明:聚合度和水分含量与特征频率处的tanδ均呈指数函数关系,tanδ随着聚合度增大而减小,随着水分含量的增大而增大。     

线圈主绝缘发空因素探讨

从理论上分析了线圈发空的基本机理，找出了引起线圈发空的主要因素，并对我公司如何减少线圈发空的机率提出了基本对策，并将这些基本对策应用到2004年线圈生产中，对多胶模压线圈的生产起到了指导作用。通过材料和工艺制造的改进，使2004年线圈全年发空率降到0．3％（2003年线圈发空率为1．4％）；为公司节约成本65万元。     

冷热循环老化对变频调速电机电磁线绝缘电性能影响的研究

为研究冷热循环老化对变频调速电机电磁线绝缘电性能的影响,通过对电磁线进行冷热循环试验,测试分析了冷热循环次数对电磁线绝缘电性能的影响规律。结果表明:电磁线试样的介质损耗因数(tanδ)、电阻(R)、电容(C)随冷热循环次数的增加而有所减小,击穿电压随循环次数的增加而变化不明显。tanδ随着电压的增大而减小,可能是由于该绝缘材料具有非线性效应。     

论测试条件及环境对介质损耗因数的影响

对在测试黄丹电站水轮发电机定干线圈介质损耗因数的过程中出现的测试条件及环境对tanδ值的影响进行了理论分析,认为其主要原因是绝缘子表面漏导引起沿面放电,从而干扰了测量系统,造成△tanδ的测试值超标。笔者就此提出了处理办法,并已取得了效果。