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应用传统方法对介质损耗因数进行在线测量存在许多内在的性能局限,包括同步采样、间谐波和电力系统频率必须保持不变等问题。在频率波动和间谐波都存在的非稳态信号环境下,采用传统方法不能保证测量的准确性。文章提出一种对电力设备介质损耗因数进行在线测量的高准确度改进方法。新提出的包括数据截断和数据叠加的数据处理方法,能够补偿数据频谱泄漏所引起的相位偏移,它能够准确地提取基波信号并计算介质损耗因数。数据仿真和实际工程测量结果表明,新方法不受以上所提局限的影响,具有良好的应用可行性。 相似文献
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基于正交分解的介质损耗因数数字测量算法 总被引:5,自引:0,他引:5
首先概述了过零点电压比较法、谐波分析法等几种现有的介质损耗因数tand 数字化测量算法的优缺点,分析tand 的物理意义及其谐波条件下的定义问题。将电压与电流定义为欧氏函数空间的2个向量,利用正交特性将泄漏电流分解为相互正交的有功分量与无功分量,进而提出了基于正交分解的tand 数字化测量算法及其简化计算公式。最后分别在电压无畸变、电压含谐波、电压频率波动、采样频率以及采样时间长度变化时,对文中提出的介损测量正交分解法进行仿真验证,并与谐波分析法进行比较分析。仿真结果显示,当电压频率波动与采样数据长度变化时,正交分解法的最大测量误差分别为谐波分析法的23.72%与5.35%;采样频率变化对2种方法的影响相同;在电压频率为50.5 Hz时,tand 实时测量值的波动幅度降低了110倍。该算法物理意义明确,计算简单,测量结果精确、稳定,可用于tand的离线测量与在线监测。 相似文献
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采用基本窗函数和广义余弦窗函数对信号加权的谐波分析法可减轻非整周期截断对介质损耗因数tanδ测量的影响,但其效果受到窗函数固定旁瓣性能的制约.Kaiser窗可定义一组可调的窗函数,自由选择主瓣与旁瓣衰减之间的比重,因此能全面地反映主瓣与旁瓣衰减之间的交换关系.本文讨论了Kaiser窗的旁瓣特性,提出了基于Kaiser窗双谱线插值FFT的tanδ测量方法,运用多项式拟合求出了实用的插值修正公式,推导了信号初相角及tanδ的计算式.仿真结果表明,Kaiser窗函数抑制频谱泄漏效果好,基于Kaiser窗的双谱线插值FFT方法克服了谐波干扰、基波频率波动、采样频率变动、采样时间长度变化及白噪声对tanδ测量的影响,且设计实现灵活,测量结果精确、稳定,可用于介质损耗因数tanδ的离线测量与在线监测. 相似文献
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介质损耗因数(tanδ)是高压套管等电容型电气设备绝缘状况的重要特性参数,但由于变压器运行环境中存在很多的干扰信号影响了套管的介质损耗因数测量,采用小波去噪的方法,研究了基于虚拟仪器的变压器套管介质损耗因数在线检测。测量结果表明,虚拟测试仪引入小波函数法,具有较高的准确度。 相似文献
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基于瞬时功率变换的介损监测数字化算法 总被引:1,自引:0,他引:1
在目前电气设备介质损耗因数的数字化算法中,普遍存在着必须严格满足同步采样条件、计算分辨率低等局限性。为此,基于瞬时功率变换,提出一种提高介质损耗因数监测准确度的数字化新算法,并给出算法的理论基础。该算法无需同步采样,可以跟踪电网频率并实现电阻性电流和电容性电流的分解。仿真结果表明,该算法受采样数据长度、频率跟踪误差的影响较小,在非同步采样的情况下具有良好的应用特性,能够较好地解决实际信号量测中存在的非同步采样问题。 相似文献
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文章分析了使用电容分压法取标准电压和电桥平衡法在线测量电容型设备介质损耗因数时采用的测量方法中产生的测量误差,并提出了解决办法,可提高数据的测试和分析判断的准确度。 相似文献
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为了减少白噪声给介损在线监测带来的误差,比较常规离散Fourier算法与加窗插值算法的准确性,分析了信号点数及其使用方式对计算所得介损误差的影响,分析了小波分解层数、阈值获得准则和阈值模式对介损计算准确性的影响,获得了不同类型的小波方法的去噪效果。结果表明:受噪声干扰明显时应采用常规离散Fourier算法。随信号点数的增加误差呈幂规律减少,采样时应该选择更高的采样频率。叠加平均法可有效提高介损测量的准确性;计算时仅用长信号计算一次即可,而不应该采用长信号的分段或滑动窗计算计算。含有白噪声干扰时小波方法虽可对时域信号去噪但该方法对提高介损测量的准确性无效。同时用实验室实测含噪信号的计算验证了分析结果。 相似文献
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简要回顾了高压电气设备在线监测与故障诊断技术的研究现状和应用情况。基于绝缘电介质物理特性,提出了谐波条件下介质损耗因数的新定义,以更合理地评估电气设备的运行状况,并给出了相应的数字化算法。为配合实现介质损耗因数的新定义策略,给出了两种算法:阻容解耦法和基波逼近法。通过计算机仿真分析了背景噪声和电网频率波动对介质损耗因数估算准确度的影响。结果表明,基波逼近法比阻容解耦法的应用误差小。建议采用同时监测全电流、介质损耗因数、阻性电流和容性电流的综合策略来有效评估和诊断电介质的绝缘状况。 相似文献