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为了利用光激电流谱准确地表征聚合物电介质材料中的电荷陷阱密度按能量分布的情况,需要将原始光激电流谱对光激发能量进行归一化.依据光激电流强度与陷阱电荷释放量以及激发光强的关系,给出了能量归一化光激电流谱的定义及其测量原理.根据这一原理设计了实际的测量系统,该系统由波长可调谐的激光器、光能量计、静电计和测试样品室构成.系统由基于LabVIEW开发的软件控制,实现激发光波长的线性扫描和电流与光能量信号的实时采集.利用该系统测量了聚酯薄膜的能量归一化光激电流谱,测量结果发现在聚酯薄膜中电荷陷阱能量主要分布在4.08~5.17 eV之间,在4.22 eV处具有陷阱态密度最大值,并计算出该能量附近的电荷陷阱密度为5×10~(14)cm~(-3)数量级. 相似文献
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为提高杂光测试系统集成度和测试精度,采用新型光电倍增管模块作为探测器进行杂光系数测试,并研究了测试过程中的数据采集、滤波、计算方法。首先描述了黑斑法测试杂光系数的原理,在此基础上介绍了测试系统工作原理和组成。分析了系统噪声干扰来源,并利用功率谱对噪声信号进行了描述、分析。为降低噪声干扰,对输出信号进行了低通滤波和数据均值处理。对某80~400 mm变焦镜头进行了杂光系数测试实验。当焦距400 mm时,杂光系数均值为2.623%,均方根误差0.019%;焦距80 mm杂光系数均值为1.829%,均方根误差0.02%。实验表明该杂光测试系统具有较高的测量精度和重复精度,满足黑斑法杂光系数重复测量精度要求。 相似文献
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为了研究介质击穿与陷阱特性的关联,分别制备掺杂1%质量分数的聚丙烯/氮化铝和聚丙烯/氧化铝纳米复合电介质,测试了试样的热刺激电流、介电频谱、电阻率和直流击穿特性。实验结果表明:纳米复合电介质的深陷阱密度、体积电阻率和直流击穿强度均高于纯聚丙烯试样。分析发现纳米复合电介质的电阻率和击穿场强与深陷阱密度呈正相关性,深陷阱密度增加,其电阻率和击穿场强增加。基于电荷输运模型和交互区势垒模型,解释了直流击穿机理:介质体内深陷阱密度的增多来源于纳米掺杂形成的界面区;深陷阱密度的增加增强了捕获效应,限制了载流子迁移,导致载流子平均自由程、载流子迁移率和能量减小,使得电导率降低;高场强时,捕获效应增强抑制了介质体内载流子倍增过程,导致碰撞电离不易发生,直流击穿场强增加。 相似文献
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光释光应用与研究发展二十多年来,在矿物研究、地质样品年龄测定以及考古等领域,光释光仪器有着举足轻重的地位,而光释光仪器激发光源的优劣决定着仪器测量的准确性,本文在分析各种激发光源的基础上,提出了用半导体激光器作为激发光源的新方案,列出了红外和蓝光输出半导体激光器的输出参数测试结果,说明了使用方法,并分析了半导体激光器的优点. 相似文献
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选用两种纳米填料:纳米氧化钛(TiO2)和多壁羟基碳纳米管(MWCNTS),向环氧树脂中单独或同时加入两种粒子,制备16种不同的环氧纳米复合电介质.通过体积电阻率测试、表面电位衰减试验与真空直流沿面闪络试验,探究纳米粒子对环氧纳米复合电介质沿面闪络特性的影响.结果表明:环氧纳米复合电介质的沿面闪络电压与填料的质量分数有关,适量的纳米填料会提升复合电介质的沿面闪络电压.单独加入纳米TiO2与MWCNTS分别将闪络电压提升了14.49%和23.11%,同时加入两种填料可进一步将闪络电压提升至44.99 kV,提升幅度高达36.06%.通过表面电位衰减曲线计算了材料的表面陷阱特性.分析深陷阱与沿面闪络电压的关系发现,闪络电压与深陷阱能级线性相关,陷阱能级越深,闪络电压越高.同时添加两种纳米粒子可以提高材料的深陷阱深度,从而抑制材料表面电子发射和电荷输运过程,提高沿面闪络电压. 相似文献
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在利用光透射法进行粉尘浓度的测量中,光源波长和吸收层厚度是非常关键的参数,它们共同决定了测量系统的浓度测量范围.介绍了基于光透射理论的激光浓度测试系统,对其关键参数的选取和计算进行了研究,并着重分析了光源波长和吸收层厚度对浓度测量范围的影响,利用计算机仿真,给出了激光浓度测量系统光源波长、吸收层厚度等关键参数的参考值.最后通过实际测量,对其进行了验证. 相似文献