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为准确评价测试集对超大规模集成电路(VLSI)内部故障的覆盖效果,提出一种VLSI故障建模与仿真方法。首先,在电路级综合运用仿真和实验手段向逻辑门内部注入多个故障,统计并分析这些故障对其功能的影响以构建由变异真值表(MTT)组成的故障字典;其次,考虑MTT及其发生的相对概率权重,提出一种有效的测试覆盖率评价模型,并将其应用于门级故障仿真算法中;最后,针对若干组合逻辑基准电路进行了实例验证,仿真实验结果表明,所提方法相较于经典的固定值故障模型能够更真实地反映测试集的故障覆盖能力。 相似文献
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针对长度过长的测试向量之间相容压缩的压缩效果不佳的问题,为了提高测试向量间的相容性,提出了最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法。首先将测试向量按相同的数据块长度划分为若干组,然后提出对分组测试向量进行最大近似相容性的重排序,将测试集分为两个集合:已排序集合和未排序集合。先将确定位最多的测试向量作为已排序集合的首个测试向量,再对已排序集合的最后一个测试向量和未排序集合的所有测试向量进行近似相容性比较,将在未排序集合中与其近似相容性最大的测试向量依次插入到已排序集合中,直至重新排序完毕;最后,将重排序的测试向量编码压缩,每个测试向量都要存放两次,一次是源数据存入RAM存储器中以备下一测试向量参考,另一次是将压缩后的数据存入ATE中,第一个测试向量比较特殊,是将源数据不作处理分别存入ATE和RAM中。该方法使得不相容的测试向量能达到最大程度的近似相容,从而提高了测试向量之间相容压缩的压缩效果;且对测试向量间的重排序不影响故障覆盖率,且是在离线情况下实施,因此不影响测试时间。对ISCAS’89标准电路进行试验,与其他编码方案对比,证实方案可行有效,而且硬件结构简单。 相似文献
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芯片测试是防止缺陷或故障芯片流入市场的有效手段。 在测试应用中,将大规模测试向量通过芯片引脚传输到片上系
统。 在有限芯片引脚下,测试应用时间主要取决于测试向量传输时间。 编码压缩在不提供被测电路信息条件下减少测试向量
传输时间,同时节约测试向量存储空间,因而被广泛应用于压缩由测试向量组成的测试集,然而编码压缩未能充分挖掘测试集
特征,导致编码压缩效果不佳。 针对该问题,提出一种基于测试集主成分的变换-拆分方法,使主流编码压缩效果显著。 该方法
首先提取能代表测试集特征的主成分,然后利用这些主成分作为向量构造出一个矩阵。 该矩阵与位流经过数学中的矩阵变换
即可将测试集拆分成主分量集和残差集。 相比原测试集,残差集有更好的可压缩性,而主分量集可片上压缩,不占用传输时间。
对 ISCAS’89 部分标准电路的实验结果表明,该方法下的最高平均压缩率达到 80. 53%,与最先进的变换-拆分法相比,不同编
码下的平均压缩率都有提高,且最大提高幅度为 5. 27%。 相似文献
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随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。 模拟
集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。 本文基于
XGBoost 决策树模型提出了一种优化模拟集成电路测试参数数目的方法,该方法探索不同测试参数间的相互表征能力,在测试
序列中依次删减可被良好表达的测试参数,在保证一定逃逸率的条件下达到缩短测试时间的目的。 本文讨论了故障数目、特征
重要性和 SHAP 值 3 种评估测试参数间表征能力的指标,并对两类模拟集成电路测试数据集进行了实验,结果表明故障数目是
一种优秀的评估指标,可在测试逃逸率不超过 20 PPM 的条件下实现 25%的测试参数优化。 相似文献
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一种新的小时延测试向量筛选方法 总被引:1,自引:0,他引:1
随着集成电路工艺尺寸不断缩小,电路规模不断增大,小时延测试所需的测试向量越来越多,因此小时延测试的成本越来越高。为降低测试成本提出了一种新的小时延测试向量筛选方法。提出的方法用固定型测试向量的组合来检测小时延故障,从组合的测试集中筛选出具有高小时延故障覆盖率的测试向量。最后仅用一个测试集就能同时对固定型故障、跳变故障、小时延故障进行有效的检测,从而大大节省了向量的存储空间。在ISCAS’85和ISCAS’89基准电路上用MinTest测试集进行的实验表明,提出的方法不但有很高的小时延故障覆盖率,而且向量个数的减少最高达到61倍。 相似文献
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基于IEEE 1500标准的IP核测试壳设计 总被引:7,自引:3,他引:4
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难。IEEE1500标准设立的目标是标准化IP核提供商与用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用。本文在研究IEEE1500标准的硬件结构基础上,讨论了1500的测试指令集,然后以基准电路集ISCAS89中的s349时序电路为例,对其进行全扫描设计之后,详细说明了基于IEEE1500标准的IP核测试壳各部分的设计过程,最后通过仿真实验,验证了在不同测试指令和故障模式下,测试壳的有效性。 相似文献
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测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法。经过分析,利用ReportX组件完成了测试向量工具的开发,并将其嵌入到国产测试系统BC3192。最后在实际环境中进行了测试,并验证了测试向量工具的良好性能。通过对ActiveX Control技术的应用,可以使虚拟仪器开发变得更为完善和强大。 相似文献
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产生完全测试集的一种算法 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种算法,用来产生组合逻辑电路中每个“总是0”和“总是1”故障的完全测试集。该算法已编成程序用来处理大规模集成电路,它以布尔差分的某特性为基础,能有效地产生完全测试试集。对透彻了解不可检测故障,可检测单故障的测试以及电路冗余性三者之间的关系,作了讨论。 相似文献
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UPS电源的实际技术指标能否满足使用要求,是顾客关心的问题,通常顾客需要对UPS进行调试。本文详细介绍了稳态测试、动态测试、常规测试和特殊测试四种测试方法,并给出了相关数据。对客户用于鉴定和验收产品有一定的帮助。 相似文献
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针对近年来风电行业竞争激烈的局面,保质量、降成本、提效率是整机生产厂的主要应对措施。提出了一种风力发电机组出厂测试方案,保证机组出厂质量,以避免二次吊装,并减少风场调试的工作量,提高调试效率。 相似文献
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根据电缆交接试验规范规定和施工现场的实际情况,结合220kV某牵引变电站电缆线路工程,详细介绍了对于电缆距离较长、交叉互联段较多的220kV电缆交接试验的试验项目时间的安排、试验安全措施、试验仪器设备的选择及试验方法的制定。 相似文献
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针对母线差动保护在设计、安装、整定过程中可能出现的各种问题,结合母线差动保护原理,提出了带负荷测试的内容及分析、判断方法。 相似文献
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首先对形成于20世纪70年代的"零错误"软件工程方法"净室"(Cleanroom)技术做了简要的介绍。然后给出了"净室"技术在过去二十多年当中没有被广泛应用的可能的原因。同时总结了人们在过去的20多年中应用"净室"技术所得到的一些启发和目前"净室"技术在实际应用当中的一些变化,最后给出了可以继续研究方向。 相似文献
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除了在安装时能够实现保护装置正常功能的接线外,还应在安装竣工后保护装置投入系统前,用负荷电流校验接入保护装置接线极性的正确性,提出了短路试验测试的内容及分析、判断方法。 相似文献
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750 kV官亭—兰州东示范工程投运5年来,西北750 kV电网建设突飞猛进,但作为主设备的变压器频繁出现绝缘事故,对于多年前制定的750 kV变压器技术规范、标准有必要进行反思。长时感应耐压试验标准是750 kV变压器绝缘设计和考核的重要依据,通过750 kV变压器技术规范、试验标准与1 000 kV变压器技术规范、试验标准进行比对,结合现场变压器绝缘击穿案例,通过计算和分析,提出了750 kV变压器长时感应耐压试验标准的改进方案。 相似文献
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介绍了加速寿命试验的理论基础及类型。针对无刷直流电机可靠性的三个薄弱环节——绕组、轴承和驱动控制线路的失效机理进行分析。对无刷直流电机的加速寿命试验进行了研究。 相似文献