全速电流测试的故障精简和测试生成

针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题，提出故障压缩、故障模拟等故障精简的方法，以提高该方法的测试生成效率．实验结果表明，该方法使得需要进行测试生成的故障点平均减少了66．8％，该测试方法的测试生成的效率提高了200多倍．     

基于测试需求集的测试用例集极小化算法

测试用例集约简技术是生成最小测试用例集，最大限度地对软件进行科学有效的测试，从而降低软件测试的成本、提高测试效率的关键技术之一、结合国内外几种算法的策略的基础上，提出了一种基于测试需求集的最小测试用例集的生成方法，该方法能够保证得到优化代表集。     

数据流控制流相叠加的可执行测试序列生成研究

提出了一种可执行的测试序列的自动生成策略。先从UML模型中提取出协议模型的EFSM信息,然后利用变迁可执行性分析自动生成可执行的测试序列。该生成策略同时结合了数据流测试和控制流测试的优点,既具有比较高的错误覆盖率,又对通信协议中的数据部分进行了充分的测试,从而提高了一致性测试的效率。     

状态图中可同步测试序列生成策略

对于由通信有限状态机构成的状态图的可同步测试序列的生成策略，一种现有的方法是由状态图生成相应的积自动机，然后采用有限状态机的测试序列生成策略。这种方法存在组合空间爆炸问题和测试序列的同步问题。在定义了测试序列的两类同步问题的基础上，提出了基于多测试驱动的测试模型MTM和基于该模型的测试序列生成策略，该策略在不生成积自动机的情况下，通过同步锁和相应的策略解决两种类型的同步问题，避免了组合空间爆炸问题。     

基于禁忌搜索算法的可扩展有限状态机模型测试数据自动生成

可扩展有限状态机(EFSM)模型的测试用例生成包括测试路径生成和测试数据生成两部分。然而,目前针对EFSM模型的测试研究大多集中于测试路径生成。为探索路径上测试数据的自动生成,提出一种面向EFSM路径的测试数据生成方法,利用禁忌搜索(TS)策略实现了EFSM测试数据的自动生成;分析了影响EFSM测试数据生成的关键因素,并与遗传算法(GA)的生成效率进行了比较。实验结果表明：基于TS算法的EFSM模型测试数据自动生成是确实可行的,其测试生成效率相对于GA有很大提高。     

一种面向IO Die的敏捷验证方法

IO Die可以用做IO扩展芯片，也可作为芯粒(chiplet)复用于多个项目。提出一种面向IO Die的敏捷验证方法，验证平台包括子系统级、簇级、全片级3个层次，可实现测试激励的跨层次复用；针对各验证层次的测试激励的自动生成方式进行优化，分别采用覆盖率驱动、可配置约束产生、多目标优化策略，提高测试激励的生成效率。实验结果表明，该方法在保证效率和可靠性的前提下，可以降低验证成本，缩短验证时间，快速获得已知合格裸片KGD。     

基于测试需求集的测试用例集极小化算法

测试用例集约简技术是生成最小测试用例集,最大限度地对软件进行科学有效的测试,从而降低软件测试的成本、提高测试效率的关键技术之一.结合国内外几种算法的策略的基础上,提出了一种基于测试需求集的最小测试用例集的生成方法,该方法能够保证得到优化代表集.     

基于XML的标准符合性测试方案

为了更好地提高标准符合性测试效率,对信息化标准的共性进行了研究,提出一个基于XML的标准符合性测试方案。给出了方案各阶段的具体测试策略,包括测试前的准备工作、测试用例的生成方法、测试用例的运行以及运行结果的符合性分析。该方案通过XML技术来格式化标准中的数据类型,对测试用例的生成采用边界值法和等价类划分法,并应用提出的测试结果分析法分析测试用例的运行结果。实验结果说明该方案可以有效提高标准符合性测试效率。     

一种基于UML活动图的测试场景自动生成策略

传统的场景法在设计测试用例的过程中存在着构造场景困难、冗余度高、设计效率低下等问题。针对此问题,提出了一种基于UML活动图的测试场景自动生成策略。在建立活动流图模型后,采用改进的深度优先搜索算法获得路径集合,应用路径优化算法生成测试路径及测试场景。通过在商用的供应商协同平台的测试过程中应用该策略,验证了其有效性。实践结果表明,该策略较好的解决了循环工作流产生的路径爆炸问题,降低了测试场景的冗余度。     

成对测试中的测试生成策略研究

测试用例生成是软件测试的关键，成对测试是根据特定的测试原则研究测试用例的产生方法。基于这一原则分别构造了IPO-H算法和IPO-V算法的测试以产生整个测试用例，具有产生的测试用例少，时间消耗小等优点。并与另一个成对测试的测试生成工具AETG(高效自动测试生成器)进行了比较、分析，证明了改进的IPO策略便于构造自动测试工具。     

Design for Testability for Complete Test Coverage

Some design-for-testability techniques, such as level-sensitive scan design, scan path, and scan/set, reduce test pattern generation of sequential circuits to that of combinational circuits by enhancing the controllability and/or observability of all the memory elements. However, even for combinational circuits, 100 percent test coverage of large-scale circuits is generally very difficult to achieve. This article presents DFT methods aimed at achieving total coverage. Two methods are compared: One, based on testability analysis, involves the addition of test points to improve testability before test pattern generation. The other method employs a test pattern generation algorithm (the FAN algorithm). Results show that 100 percent coverage within the allowed limits is difficult with the former approach. The latter, however, enables us to generate a test pattern for any detectable fault within the allowed time limits, and 100 percent test coverage is possible.     

基于多故障模型的并发测试生成方法

精简测试向量集是解决电路测试问题的一种行之有效的方法。针对故障电路,采用多故障模型方法可以简化有多个单故障的电路,且保持电路功能完整。论文在结构分析的基础上,利用多故障模型寻找故障集中的并发故障,建立并发关系图,并运用分团的思想对故障集中的并发故障进一步划分,以获得故障集的并发测试集。与传统的方法相比,并发测试生成将获得更加精简的测试向量集。     

Testing methodology: implications for the circuit designer

The complexity achievable within a custom chip or on a PCB loaded with standard combinational or sequential elements, even without the use of VLSI components such as microprocessors, requires the use of automatic methods for the generation of test patterns if the task is to be completed within an acceptable time and at an acceptable cost. This paper reviews the current status of some aspects of the test process as applied to such circuits, and of the principles of structured design methodologies intended to reduce the difficulties of test pattern generation (TPG). The paper starts by reviewing the fault models on which most automatic TPG (ATPG) methods are based, and goes on to discuss some of the available ATPG methods themselves. The problems involved in TPG for sequential circuits are briefly discussed to show the motivation behind structured design for testability using the scan-in scan-out (SISO) principle. The main implications of SISO are described, as are some of the applications of these principles to the construction of testable PCBs.     

基于通用测试系统的平流层飞艇北斗安控测试

为保证平流层飞艇飞行试验安全,放飞前需在地面试验场对飞艇各分系统与全系统进行集成测试,北斗安控测试是试验场集成测试的重要内容。在分析北斗安控分系统组成以及工作模式的基础上,提出了基于通用测试平台的平流层飞艇北斗安控测试方法;通用测试平台是基于高速信息交换架构、合成仪器、公共测试接口等测试资源的新一代自动测试,在该通用测试平台的基础上设计了北斗安控系统的测试模式与测试流程,编写了测试程序,并且在某型平流层飞艇北斗安控测试中得到了应用,在测试结束后给出测试成功率,测试结果与人工监测记录结果一致,表明该方法合理可行。     

Nonlinear pattern hypothesis generation for data mining

This paper reports on conceptual development in applications of neural networks to data mining and knowledge discovery. Hypothesis generation is one of the significant differences of data mining from statistical analyses. Nonlinear pattern hypothesis generation is a major task of data mining and knowledge discovery. Yet, few methods of nonlinear pattern hypothesis generation are available.

This paper proposes a model of data mining to support nonlinear pattern hypothesis generation. This model is an integration of linear regression analysis model, Kohonen's self-organizing maps, the algorithm for convex polytopes, and back-propagation neural networks.     

基于选择性冗余的测试数据自动生成算法

基于选择性冗余思想,提出了一种测试数据自动生成算法.算法首先利用分支函数线性逼近和极小化方法,找出程序中所有可行路径,同时对部分可行路径自动生成适合的初始测试数据集;当利用分支函数线性逼近和极小化方法无法得到正确的测试数据时,基于使得测试数据集最小的原理和选择性冗余思想,针对未被初始测试数据集覆盖的谓词和子路径进行测试数据的增补.由于新算法结合谓词切片和DUC表达式,可以从源端判断子路径是否可行,因此能有效地降低不可行路径对算法性能的影响.算法分析和实验结果表明,该算法有效地减少了测试数据数量,提高了测试性能.     

Product-Oriented Test-Pattern Generation for Programmable Logic Arrays

A Product-oriented test-pattern generation strategy for Programmable Logic Arrays(PLAs) is presented.First the personality of products is discussed.Products are divided into several categories to speed up the test generation.This strategy aims at generating a very compact test set for crosspoint defects through the folllowing steps:1)generate special test vectors for each category of products at the beginning of test generation.Each vector is capable of detecting a great amount of crosspoint defects;2)generate test vectors for the defects which are not covered by the tests already generated.In this step,some heuristics are employed to accelerate test generation.Based on this strategy,a PLA test-pattern generation system is developed and the experimental results are analyzed.     

基于二维测试数据压缩的BIST方案

为了减少测试向量的存储需求,提出一种基于扭环计数器作为测试向量产生器的横向和竖向测试数据压缩的BIST方案.先利用经典的输入精简技术对测试集进行横向压缩,再对横向压缩之后的测试集进行竖向压缩.竖向压缩时利用一种有效的基于测试集嵌入技术的种子选择算法,将确定性的测试集压缩成很小的种子集.基于ISCAS89标准电路的实验结果表明,采用文中方案所实现的测试电路与已有方案相比:存储位数平均减少了44%,测试向量的长度平均减少了79%,硬件开销平均减少了41%.     

Survey of expert systems for fault detection, test generation and maintenance

Abstract: The use of knowledge engineering in diagnostic systems, is aimed primarily at exploiting procedural knowledge (about: systems operations, configuration, observations, calibration, maintenance), in connection with failure detection and test generation tasks. Next, the goal is to devise knowledge representation schemes whereby the failure events can be analyzed by merging highly diverse sources of information: analog/digital signals, logical variables and test outcomes, text from verbal reports, and inspection images. The final goal is to ease the operator workload when interfacing with the system under test and/or the test equipment, or with reliability assessment software packages. The paper will present key notions, methods and tools from: knowledge representation, inference procedures, pattern analysis. This will be illustrated by reference to a number of current and potential applications for e.g.: electronics failure detection, control systems testing, analysis of intermittent failures, false alarm reduction, test generation, maintenance trainers.     

基于多配置LFSR的测试生成结构设计

针对内建自测试技术中传统的测试生成故障覆盖率过低、硬件开销过大等缺点,提出了一种多配置LFSR的混合测试矢量生成结构,结构利用矩阵理论先后对随机性矢量和确定性矢量进行反馈网络的配置;针对确定性矢量的生成,提出了一种反馈配置解的寻优算法,在一定程度上减少了硬件开销,因结构生成的混合测试矢量可以同时检测出被测电路中的随机矢量可测性故障和抗随机性故障,进而保证了测试故障覆盖率。最后,通过实例和对几种综合基准电路的测试,验证了该方案的可行性。