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DSK的特点及其应用技术 总被引:3,自引:0,他引:3
DSK是专为初学者学习DSP而设计的,其核心是第三代DSP芯片TMS320C50。通过DSK,初学者可容易地理解掌握DSP的工作原理。DSK也可直接应用于数字控制系统。介绍了DSK的基本结构和硬件特点。在此基础上,以正弦波发生为例,介绍了DSK的应用技术。 相似文献
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本文描述了DSP技术的三个不同发展阶段,DSP器件的特点,国外DSP的主要生产公司及其主导产品,并介绍了DSP今后的发展方向。 相似文献
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DSP应用的结构和发展方向 总被引:4,自引:0,他引:4
简要概述了DSP与单片机的关系,然后详细介绍了DSP应用软件结构,并对DSP应用的未来趋势———DSP和RTOS的结合进行了初步分析 相似文献
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讨论可以用 Takagai-Sugeno模糊模型描述的系统的补偿器设计.这种被称之为并行分布补偿(PDC)的控制器是基于参数并且影像了 Takagai-Sugeno模型的结构.通过引进动态并行分布控制(DPDC)的概念,扩展了关于此类控制器状态反馈的已有结果.提出三个新的结果.第一个结果给出了以往结果的宽松条件.这种条件是存在二次型稳定状态反馈这类控制器的充分条件.第二个结果给出了类似的二次型稳定动态反馈控制器存在的充分条件.第三个结果适用于 Takagai-Sugeno模糊模型的基于性能的控制器设计. 相似文献
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众所周知,DSP(Digital Signal Processor)是一种快速的数字信号处理器件,其处理速度一般都在十几到几十MIPS(每秒百万条指令)以上。为了适应如此快速的处理速度,DSP的串行口被设计成同步通讯接口,否则在数据传输时就无法体现DSP的快速性。但随着DSP在控制等领域的广泛使用,DSP与上位PC机等之间的异步通信日益成为一种迫切需要,本文正是以TM320C31为对象,对用DSP 相似文献
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以TI公司的DSP芯片TMS320C25与串行模/数转换芯片TLC2543为例,介绍了该类ADC与DSP的接口中及编程,这种方法对其它具有SPI串行接口的A/D转换器一样适用。 相似文献
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独具魅力的DSP芯片 总被引:1,自引:0,他引:1
从定点处理器ADSP-2181、MC68302,浮点处理器ADSP-21060,并行处理器TMS320C80三方面,介绍了DSP芯片的特点。 相似文献
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一种消除PSD背景光干扰的新方法 总被引:3,自引:0,他引:3
光电位置敏感探测器(PSD)已应用到非接触式高精度动态位移测量中。但在实际应用中经常受到背景光的干扰,直接影响到测量系统的精度和可靠性。根据PSD的工作原理,分析了杂光下的输出信号与杂光的非线性关系。提出采用比例积分微分(PID)控制激光二极管的驱动电源来消除PSD背景光补偿方法,并设计了硬件补偿电路,实验结果和实际应用均表明:该方法能有效地消除背景光的干扰,可大大增加PSD的实用性。 相似文献
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稳定背景下PSD的位置误差分析 总被引:7,自引:3,他引:7
从PSD的基本方程Lucovskey方程出发,推出了反偏状态下的PSD在有稳态非均匀背景光照射下微分方程,并给出了其在双面分流型边界条件下的正规解,从而得出了PSD在稳态非均匀背景光照射下的位置输出特性。最后还建立了背景光影响下的位置误差估算公式。 相似文献
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建立了S1880枕型位置敏感探测器(PSD)的有限元仿真模型,并对其动态响应特性进行了仿真,得到了3个扫描速度下的动态响应误差曲线,通过分析得出结论:PSD产生的动态响应误差随着扫描速度的增大而增大,在光敏面中心线上沿x轴方向匀速直线扫描时,PSD的动态响应误差最大值之比近似等于相应的光源扫描速度之比。仿真结果对枕型PSD的实际工程应用具有一定实用价值。 相似文献
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本文以TI公司的DSP芯片TMS320C6204为例,结合可编程外围器件PSD813F1芯片,介绍了PSD芯片作为DSP系统外部扩展非易失性存储器在DSP自举引导中的应用。 相似文献
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本文针对常规PID伺服控制器设计时依赖精确数学模型同负载、模型参数的不确定性和非线性因素影响精确模型获得的矛盾,设计并分析了单神经元自适应PSD控制器。利用神经元的自学习、自组织能力,根据被控对象的参数变化情况进行权值的在线调整,加入了增益的自适应学习算法,使得调节更方便。同时,对PSD算法快速性方面的不足,采用复合算法进行了一定的改进。仿真表明,所设计的自适应PSD伺服控制器在一直线电机伺服系统中获得了满意的结果。 相似文献
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齐进 《计算机研究与发展》1998,35(5):464-468
补偿操作是实现复杂的数据库应用环境中嵌套事务回滚的有效方法,但是基于封锁机制的补偿操作在执行时有可能导致不可补偿死锁.文中介绍了基于补偿操作的嵌套事务死锁处理方法,讨论了两种可避免不可补偿死锁产生的安全补偿方法,并比较了它们的特点. 相似文献
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磨矿是降低矿物粒度的工业过程,产品粒度是磨矿过程的关键质量指标. 由于磨矿粒度难以在线检测且磨矿生产过程具有综合复杂特性,难以采用传统控制方法实现磨矿粒度的控制. 因此,建立磨矿粒度和关键工艺参数的动态模型对于磨矿运行控制和优化具有重要意义. 采用总量平衡原理获得磨矿粒度的微分方程模型多数情况下无法获得解析解. 而基于Monte Carlo (MC)方法的磨矿粒度模型能够精确模拟磨矿粒度分布的动态变化,但是其仿真效率低难以实用. 本文针对这一问题提出一种新的MC仿真方法: 在定总量方法的基础上引入新的颗粒移除机制,在移除过程中动态地分配各个粒级颗粒数目并保持破裂前后各个粒级颗粒所占总颗粒数的百分比不变,避免颗粒移除过程中由于粒级差异导致的抽样误差,且避免MC仿真速度随着仿真推进下降的问题. 仿真实验验证表明,本方法能够在保证一定精度前提下显著提高磨矿粒度MC仿真的计算速度. 最后,通过一个实例介绍了本文仿真模型在磨矿优化控制中的应用. 相似文献