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相似文献
 共查询到17条相似文献,搜索用时 156 毫秒
1.
本文介绍了一种针对SOC测试设计中嵌入式芯核的核测试语言(CTL)。该语言描述了如何将可测试性设计置入具有知识产权(Intellectual Property,简称IP)芯核和SOC中,从而加速测试生成和复用。CTL语言标准虽然还未被IEEE正式通过,但已经在EDA厂商、ATE厂商和IP芯核提供者之间悄然兴起并被积极采用,一系列基于CTL的产品也相继被研制 制出来。本文通过对CTL的分析与研究,较为详细地说明了CTL引入的重要性及其特性,并为SOCIP芯核提供CTL语言测试设计实例。  相似文献   

2.
超深亚微米工艺和基于可复用嵌入式IP模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战,需要研究开发新的测试方法和策略.介绍了可测性设计技术常用的几种方法,从芯核级综述了数字逻辑模块、模拟电路、内存、处理器、第三方IP核等的测试问题,并对SoC可测性设计策略进行了探讨,最后展望了SoC测试未来的发展方向.  相似文献   

3.
集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展,使得基于IP核复用的SOC设计技术得到越来越广泛的应用,但由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难;IEEE为解决SOC的测试问题提出了嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500,致力于建立标准化的IP核供应商和用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用;文章详细介绍了IEEE Std 1500标准的测试架构,使用方法和核测试描述语言CTL,同时给出标准中提出的SOC可测性设计方法。  相似文献   

4.
IEEE 1500为核供应者与核应用者提供接口,可有效实现测试电路复用。简要分析IEEE 1500标准,包括核测试壳Wrapper及核测试语言(CTL)两者的结构和特点;论述基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的总体设计目标,设计了测试系统的软硬件体系结构,并构建了测试系统;通过DEMO电路测试验证,系统可正确实现扫描链完备性测试、核功能内测试及核互连测试,表明系统工作稳定,通用性强。  相似文献   

5.
由于电路门数增大和晶体管亚阈值电流升高,导致电路的静态漏电流不断升高,深亚微米工艺SOC(系统芯片)IC在IDDQ测试的实现方面存在巨大挑战.虽然减小深亚微米工艺亚阈值漏电开发了许多方法,如衬底偏置和低温测试,但是没有解决因为SOC设计的规模增大引起漏电升高的问题.首先提出了SOC设计规模增大引起高漏电流的可测试性设计概念.然后制定了一系列适合于SOC的IDDQ可测试设计规则.最后提出了一种通过JTAG指令寄存器控制各个内核电源的SOC IDDQ可测试设计方法.  相似文献   

6.
由于芯核的测试时问与芯核内最长扫描链的长度成正比,通过将ScC中的芯核进行成对匹配,使双芯核内最长的扫描链比两个单芯核内最长的扫描链短,从而缩短测试时间.利用粒子群优化算法和分合策略,高效地匹配芯核、设置芯核的测试顺序并分配测试总线,以获得优化的测试计划.在ITC’02基准SoC集上的实验结果表明,相对于其他基于单核扫描链平衡的测试调度技术而言,文中的测试调度技术能获得具有最短测试时间的测试计划.  相似文献   

7.
随着集成电路复杂性的提高和SOC系统的出现,电路测试的难度也在不断增大,测试问题已经成为SOC设汁的瓶颈。在研究了现存的测试控制结构后提出了基于核设计的SOC测试控制结构,它以边界扫描控制体系为基础,融合多种测试控制方法,支持不同类型的IP核进行测试。从而解决了SOC测试中控制部分的一些问题。  相似文献   

8.
文中提出了一种新颍的SOC芯片BIST方案。该方案是利用相容技术和折叠技术,将SOC芯片中多个芯核的测试数据整体优化压缩和生成,并且能够实现多个芯核的并行测试,具有很高的压缩率,平均压缩率在94%以上;且结构简单、解压方便、硬件开销低,实验证明是一种非常好的SOC芯片的BIST方案。  相似文献   

9.
谢皓宇  杨鹏  张勇  邱静 《测控技术》2020,39(3):13-17
随着装备系统复杂度、集成度的不断增加,系统集成故障和单元间互测因素越来越凸显,给系统级测试性分配和设计带来了新问题,主要表现在:传统方法未考虑集成故障和单元互测导致测试性指标分配不合理,系统级测试性设计缺乏系统级测试选择方法等。针对系统集成后产生的集成故障和单元间互测等情形进行了理论分析,提出了考虑集成故障与单元互测的测试性指标分配、面向集成故障的系统级测试选择方法,为系统级测试性设计提供了一套解决方案。  相似文献   

10.
提出了一种在功耗及测试并行性约束下三维片上系统(System on Chip,SoC)绑定中测试阶段并行测试的优化策略,通过最大限度地利用测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)资源,大大减少了测试时间,降低了测试成本。在3D SoC的测试过程中系统TAM资源十分有限,通过设计相应的测试外壳结构,对系统当前状态下空闲的TAM资源与待测芯核内部扫描链进行重新分配,使待调度的芯核提前进入测试阶段,减少了并行测试过程中的空闲时间块。在该结构基础上调整各芯核调度顺序,使测试过程满足各项约束条件。在ITC’02电路上的实验结果表明,在同样的功耗约束及测试并行性约束条件下,所提方法与现有方法相比更有效地降低了测试时间。  相似文献   

11.
针对当前农业信息化建设中存在农业信息难以共享的问题,给出提高农业信息资源共享与服务的具体实施步骤,以及农业信息资源整合平台与信息服务系统模型,基于SOA架构和SOC技术实现对各分布式信息资源的信息整合,按行政功能建立农业信息资源整合平台,设计并构建基于多角色访问的农业信息服务系统。通过分角色单点认证访问系统及实现系统的功能,提高信息资源的便捷性和服务性。  相似文献   

12.
虚拟计算环境中的覆盖网技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
互联网资源的成长、自治和多样等特性给资源的有效聚合带来了巨大挑战.通过覆盖网动态组织互联网资源并支持资源的高效搜索,是虚拟计算环境中资源按需聚合的重要途径之一.文中概述了虚拟计算环境中覆盖网技术的研究进展.针对互联网资源的成长性和自治性等特点,阐述了基于Kautz图的高效覆盖网拓扑构造方法,进而给出了适用于任意正则图的通用覆盖网拓扑构造方法;针对互联网资源的多样性等特点,提出了支持分组的覆盖网拓扑构造方法;在此基础上,阐述了基于覆盖网的高效区间搜索技术,并对覆盖网拓扑的优化方法及其它复杂搜索技术进行探讨.  相似文献   

13.
针对硬晶片构成的多塔三维SoC绑定中测试,提出考虑测试访问机制、层间硅通孔数和测试功耗约束的测试时间优化算法。只要任意一种测试资源约束不满足待调度晶片测试,就依次释放最早结束测试的晶片测试资源,直到待调度晶片尽可能提前测试为止,以此实现该晶片与未结束测试晶片的部分流水。选用ITC02测试基准电路中的5种典型电路,手工搭建2种塔内包含子塔的多塔三维SoC。实验结果表明,与已有算法相比,提出的算法减少了空闲时间块,显著缩短了总测试时间;实验还发现,与增加TSV数相比,增大测试引脚数更能有效减少多塔三维SoC的总测试时间。  相似文献   

14.
SOC的可测性设计策略   总被引:5,自引:1,他引:4  
通过一则设计实例研究SOC(System On Chip)的可测性设计策略;15针对系统中的特殊模块采取专用的可测性策略,如对存储器进行内建自测试,对锁相环测试其性能参数等;其它模块采用基于ATPG(Automatic Test Pattern Generation)的结构化测试方法进行测试,同时设计一些控制模块优化测试结构;经验证,应用这些策略,在满足了功耗和面积要求的前提下,系统总测试覆盖率达到了98.69%,且具有期望的可控制性和可观察性;因此在SOC设计中应灵活采用不同测试策略,合理分配测试资源从而达到预期的测试效果。  相似文献   

15.
以减少系统芯片SOC测试时间为目标,研究了层次型SOC的多层次TAM优化问题。根据嵌入式IP核的分类,将层次型SOC测试结构优化转变成了平铺型SOC测试结构优化,并建立了基于量子进化算法的数学模型。通过对群体的观测,决定IP核在测试访问机制上的分配以及当前群体中的最佳个体,实现了包含TAM-ed且wrapped的嵌入式核的层次型SOC测试结构优化。针对国际标准片上系统芯片验证表明,与GA、ILP和启发式算法相比,该算法能够获得更短的测试时间。  相似文献   

16.
数据空间技术是数据库管理技术的进一步发展,如何有效地搜索数据空间中的资源成为一个值得研究的问题.为此提出一种基于语义的数据空间资源搜索机制(S-RSM,Semantics-based Resource Search Mechanism for Dataspace).定义了资源描述模型,能够有效地将数据资源进行统一描述和包装;提出一种基于语义的资源搜索策略,利用Dbped ia语义知识库评估资源对象关联和语义项关联.同其它搜索策略相比,S-RSM在查全率和查准率等方面具有一定的优势.  相似文献   

17.
随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后,电路复杂度的不断提高,特别是片上系统的不断发展,主要包括验证测试和制造测试的芯片测试,正在面临着巨大的挑战,传统的使用自动测试设备的测试方法越来越不能满足测试需要。各种用于提高芯片可测试性的可测性设计方法被提出,其中逻辑内建自测试方法已经被证明为大规模集成电路(VLS1)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。文章首先对Logic BIST的基本原理结构进行介绍,然后对其在实践应用中的一些难点问题进行详细分析,最后给出针对一款高性能通用处理器实验的结果。  相似文献   

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