提高瞬态电流自动测试生成时间效率的方法

瞬态电流测试可以检测一些用电压测试和稳态电流测试不能检测的故障。对每一个故障都进行一次测试生成所花费的时间太多,而且没有必要。针对用瞬态电流测试来检测晶体管开路故障（Stuckopen Fault）,研究精简故障数目,提高测试生成效率的方法。通过从靠近电路原始输出端向原始输入端逐渐进行测试生成以及其他一些办法,可以明显提高测试生成的时间效率。模拟实验结果表明,测试生成算法执行时间大约减少了70%。     

全速电流测试的故障精简和测试生成

针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题,提出故障压缩、故障模拟等故障精简的方法,以提高该方法的测试生成效率．实验结果表明,该方法使得需要进行测试生成的故障点平均减少了66．8％,该测试方法的测试生成的效率提高了200多倍．     

组合逻辑电路测试生成的一种隐式枚举算法

D算法(DALG)对那些执行纠错和翻译功能(ECAT)的组合电路是无效的。PODEM(面向通路决策)是组合电路的一种新的测试生成算法。PODEM采用的是一种隐式枚举的方法,它与解0-1整数规划问题所采用的方法相类似。可以看到PODEM对ECAT电路是非常有效的,并且对一般组合电路比D算法更为有效。与D算法相比,PODEM的显著特点就是简单。PODEM是一种完全的算法,即只要存在一个测试就一定能把它生成。为了对所有可能的初级输入模式空间进行有效地隐式查找,采用试探的方法,直到找到一个测试或者空间穷举完为止。术语索引:组合逻辑,D算法,决策树,纠错,隐式枚举,固定故障,测试生成,不可测故障。     

基于极小碰集求解算法的测试向量集约简

自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明：该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.     

一种基于IDDT测试的时延故障测试产生算法

瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试(IDDQ Testing)方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不同的故障类型,基于瞬态电流测试的测试方法也有所不同。这里提出了一种关于时延故障的测试产生算法,该算法利用3个向量来激活时延故障。实验结果表明该测试产生算法用于检测时延故障是可行的。     

小波分析在IC IDDT弱故障定位研究中的应用

针对IC中的弱故障进行了瞬态电流IDDT研究,发现IDDT信号中带有弱故障信息,在此基础上应用小波分析技术对弱故障IDDT进行了故障定位研究,提取出电路的故障特征参数Td,为实现弱故障定位进行了有益地探索。     

用于k测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA)，来构造产生测试向量对的BIST模块。实验证明，该方法用于瞬态电流测试是有效的。     

基于通信多端口有限状态机的协议互操作性测试生成研究

协议测试是一种保证网络通信协议实现质量的重要技术,互操作性测试是一类常用的协议测试技术．文章提出了一种基于通信多端口有限状态机模型的协议互操作忡测试生成方法．首先采用已有的基于可达性分析的方法生成集中式测试序列;然后采用单一错误模型对其进行系统的错误覆盖分析,为达到更高的错误覆盖度,进一步提出一种增强的测试生成算法;最后讨论了互操作性测试巾的控制观察问题,选择适当的分布式测试架构,并进而生成分布式同步测试序列．实验结果表明：与原有方法相比,该方法可以有效地提高测试集的错误覆盖,并具备一定的可行性和有效性．     

一种用于动态电流测试的故障模拟算法

本文针对动态电流测试，提出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念以及基本逻辑门的动态电流通路故障模型，在波形模拟器的基础上给出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法。     

嵌入式API测试套生成方法和技术

随着嵌入式计算机系统应用的不断扩展,嵌入式系统的可靠性引起了学术界和工业界的广泛关注,也提出了很多增进可靠性的方法和技术.然而,现有的方法和技术在测试套生成方面论述不多,所以在处理大批量嵌入式系统测试工作中遇到了挑战.讨论抽象测试套生成方法和适配技术,提出了LTS(labeled transition system)到BT(behavior tree)的转换算法,从而使TTCN(test and testing control notation)测试套可以通过转换嵌入式软件的LTS描述产生.还介绍了基于上述转换算法的嵌入式软件测试工具包,以及一个嵌入式物联网识读器测试案例研究.     

协议一致性测试生成的路径叠加方法

基于UIO序列提出了一种新的协议一致性测试生成方法——路径叠加方法。其核心思想是寻找有限状态机中无重复转换的路径作为路径叠加转换序列,在其后连接该序列尾状态的UIO序列,从而验证该序列中所有转换。理论与实验结果表明,由路径叠加算法生成的测试序列长度要比其他基于UIO序列的算法生成的测试序列明显缩短。特别的,利用路径叠加转换序列来替代OUIO方法中对子序列直接叠加而生成的完全叠加转换序列,在检错性不降低的前提下,大大降低了叠加计算的复杂度。     

面向路径覆盖的演化测试用例生成技术

为了解决目前结构性演化测试主要集中于面向语句、分支等覆盖标准,缺乏面向路径覆盖标准的问题,提出了基于相似性度量的适应值函数构造方法,以用于生成覆盖指定路径的测试用例.首先给出适应值函数构造基本模型,即利用测试数据的真实执行轨迹来评估它相对于指定路径的适应值.该模型的核心在于度量执行轨迹与指定路径之间的相似度,为此给出了3种不同的相似度度量算法.该模型可以完全自动化地为每一条目标路径构造出特定的适应值函数.实验结果表明,相对于其他路径测试方法,该方法在针对复杂路径的情况下具有一定的优势.此外,实验结果还指出了该方法的适用性范围和局限所在.     

随机测试用例的自动化生成和约简

自动化生成高质量测试用例是软件测试的核心问题.随机测试能快速生成大量测试用例.程序不变量作为程序中保真的属性,能反映程序执行测试用例时的真实情况.本文针对Java语言设计实现了带预设值的随机测试用例自动生成器,并利用不变量提取技术进行约简,实现了高质量测试用例的全自动化生成和约简.实验证明,本文实现的技术有效提高了随机测试的代码覆盖率;测试用例约简效果明显;并能有效揭示程序中的错误..