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1.
存储器模块上集成有多种类型的存储器,整个模块提供一致的总线访问接口;对存储器模块进行完整的测试是很有必要的,在分析存储器模块的故障模型和测试原理的基础上,给出了一种基于数字波形发生器的存储器模块测试设备结构,通过对March算法进行扩展,设计了一种适合对存储器模块进行测试的算法结构;系统提高了测试的故障覆盖率和效率,在应用中取得了较好的效果. 相似文献
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存储器测试算法的实现 总被引：2，自引：0，他引：2
存储器测试算法的选择以及测试的实现方法是存储器测试的关键。本文在对存储器的故障模型分析的基础上,对具有代表性的测试算法进行了深入的研究,并采用软件实现法将一些典型的测试图形在我所的BDS-9110测试论断系统上进行了实现,生成了存储器检测图形库。利用该图形库作者对980JX系统的存储器模块980/164进行了测试。在研究和实验的基础上,对O(N)类的跨步算法进行了优化。 相似文献
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为满足多种存储器的测试需求,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统;系统分为上位机及下位机两个部分,其上位机部分采用LabVIEW开发测试控制器,完成系统的测试控制、测试数据的采集与存储及对传统仪器的程序控制;下位机部分采用FPGA实现测试所需要的测试激励生成,经实测验证了系统可以对专用存储器进行自动化监控测试,具有测试成本低测试灵活及可扩展性强等特点。 相似文献
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针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状,提出了兼顾二者的测试算法。实验结果表明该算法最适合对存储器进行大批量的测试。在测试效率上的优势很明显,故障覆盖率也能达到应用标准。 相似文献
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随着信息化和数字化技术的发展,双端口静态存储器在高速多处理器系统中广泛应用。其具有的高性能提高了存储器测试的复杂度,增加了测试时间。在保证测试覆盖率的情况下降低测试复杂度和测试时间是双端口静态存储器测试的关键。论文分析了双端口静态存储器的结构和功能,研究了双端口静态存储器的读写功能失效模式和仲裁控制模块功能失效模式,并提出了一种"同测"方法的测试算法设计,给出了基于V93000测试系统的实现方法,有效地减少了测试向量操作长度,提高了测试效率。 相似文献
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超大规模集成电路和超深亚微米技术的快速发展,促使了系统芯片(System on Chip,SoC)的产生,同时在SoC中也集成了越来越多的嵌入式存储器,因此嵌入式存储器对SoC芯片的整体性能有非常重要的影响;文章针对SoC中的嵌入式存储器的可测试性设计展开研究;文章基于IEEE 1500标准针对DRAM和SRAM设计了具有兼容性的存储器的测试壳结构,并结合BIST控制器,在Quar-tusⅡ平台上,采用硬件描述语言对测试壳在不同测试指令下的有效性和灵活性进行验证,结果表明文章所设计的测试壳结构达到了预期的要求。 相似文献
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存储器子系统是获取飞行器飞行试验数据的一种途径,射前检测是飞行器发射前对其进行的最后一次把关,其结果直接影响对存储器子系统状态的判断,而存储器子系统高速数传长线链路负责射前检测数据的传输,是影响存储器子系统状态检测结果的关键因素;针对存储器子系统射前检测链路的设计问题,通过引入无线链路模型分析方法,建立了本长线链路计算模型;围绕传输信号的特性参数进行链路设计,取代了以往搭建实际测试链路的过程;同时针对存储器子系统射前检测链路测试问题,引入了射频通路测试方法,采用了矢量网络分析仪进行链路衰减测试,验证了链路设计结果;按照该模型设计的系统链路余量经测试大于5dB。 相似文献
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随着片上网络的发展,片上多处理器系统通信性能提高的同时,存储器的访问性能将成为片上多处理器系统的性能瓶颈.目前片上网络的研究主要依赖于模拟器,而现有的片上网络模拟器都不能完成对存储器访问的准确模拟.本文设计并实现了一个能对存储器访问进行模拟的模拟器,为存储器性能的研究提供了一个实验平台;论文通过采用大量访问集对该模拟器进行测试,得出了若干条与存储器访问性能优化相关的片上网络设计建议. 相似文献