共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
专用集成电路(门阵列ASIC芯片和FPGA芯片)在某重点型号空空导弹的各个组件上大量使用。而且随着微电子技术的发展,专用集成电路在今后的型号设计和生产中会得到更加广泛的应用。本文根据生产现场专用集成电路使用情况,分析了专用集成电路故障类型和故障原因,总结了专用集成电路使用方面的一些经验。 相似文献
2.
3.
精简测试向量集是解决电路测试问题的一种行之有效的方法。针对故障电路,采用多故障模型方法可以简化有多个单故障的电路,且保持电路功能完整。论文在结构分析的基础上,利用多故障模型寻找故障集中的并发故障,建立并发关系图,并运用分团的思想对故障集中的并发故障进一步划分,以获得故障集的并发测试集。与传统的方法相比,并发测试生成将获得更加精简的测试向量集。 相似文献
4.
由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点"反馈"连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率. 相似文献
5.
6.
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率. 相似文献
7.
现代机载武器高度集成化、层次化的特点使得多数外部设备无法对其添加足够的测试点以获取全部的故障诊断信息,导致自动检测效率低下。提出一种层次化测试性建模方法,通过对复杂系统层次划分,建立起包含全部测试属性的多层次测试性有向图模型。基于该有向图模型,分析模型中各单元模块与测试间的关系,建立故障-测试相关性矩阵并得到模型的测试性属性。利用模型测试点和测试项的优化反馈结果,更新测试设备中的测试程序集。在测试执行期间不断积累维修经验,修正故障概率,更准确地将故障定位到满足当前机载设备维修精度的层级。最后以某温控系统为例进行分析,对本文所提方法的有效性进行验证。结果表明,该建模方法将优化模型的可测试性,提高外部测试设备对机载装备的检测效率及维修深度。 相似文献
8.
9.
测试集的生成方法是一致性测试技术的核心.介绍了形式化描述技术在测试集生成过程中的应用,针对PPP协议介绍其协议实现时的状态迁移.使用形式化描述语言SDL对PPP协议进行形式化描述,并以此为基础生成测试集,这些测试集能有效地应用于PPP功能实现模块. 相似文献
10.
雷达数字电路板故障诊断测试向量和故障字典模块设计技巧 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了一种基于VFP (VisualFoxPro)开发软件的雷达数字电路板故障诊断软件测试平台的测试向量生成和故障字典模块设计方法 ,重点讨论了其中某些关键技术的对策。 相似文献
11.
12.
13.
时序电路的测试序列通常由各个单故障的测试向量组成.为了减少测试时间和功耗,提出2种测试向量融合算法.借助融合灵活性的概念,2种算法按不同的方式对向量序列进行排序,并以融合深度和代价作为评判准则,构建向量的融合过程,最终生成整个电路的测试序列.该算法与已有的Greedy算法时间复杂度相同,但性能更优.在ISCAS89部分电路上的实验结果表明,采用文中算法可使平均性能分别提高4.96%和8.23%.故障仿真结果表明,文中算法的故障覆盖率有少量提高,故障分辨率变化较小. 相似文献
14.
15.
单片机测试向量生成技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章分析了目前单片机测试向量获取的几种方法,并在此基础上提出了一种单片机测试向量生成的新方法,通过将单片机测试向量分成测试激励和测试响应两部分,测试激励部分通过编写专用脚本软件将汇编程序转换成ATE专用测试向量,测试响应部分的测试向量则通过ATE的匹配功能来完成,从而成功地实现了对单片机的测试。 相似文献
16.
基于通信扩展有限状态机的测试集生成技术 总被引:1,自引:0,他引:1
在协议一致性测试中,选择恰当的测试例至关重要。文章介绍协议一致性测试的基本概念及有限状态机和扩展有限状态机的测试模型,重点探讨基于通信扩展有限状态机的测试集生成技术。 相似文献
17.
18.
全速电流测试的故障精简和测试生成 总被引:2,自引:0,他引:2
针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题,提出故障压缩、故障模拟等故障精简的方法,以提高该方法的测试生成效率.实验结果表明,该方法使得需要进行测试生成的故障点平均减少了66.8%,该测试方法的测试生成的效率提高了200多倍. 相似文献
19.
20.
一、调制解调器故障测试 1.电话拨号故障测试 为了验证数据终端设备(DTE)与调制解调器、调制解调器与电话线是否已正确连接,以及调制解调器的操作能力,可通过电话拨号测试来加以验证。要进行电话拨号测试,用户首先应保证接通调制解调器的扬声器(可通过命令 ATM1),其次,用户可输入音频拨号命令(ATDT)或脉冲拨号命令(ATDP),后跟电话号码。此后,用户会听到扬声器发出的音频声音或听到扬声器发出的哺哺咕咕的声音。若未听到相应的声音,应检查调制解调器和电话线、调制解调器和终端设备间是否已正确连接。 2.RAM存储器测试 假定调制解调器支持I命令,用户可通过输入命令ATI2来检查RAM存储器(随机存取存储器)。ATI2命令测试调制解调器的RAM,测试完成之后,在终端屏幕上显示“OK” 或“ERROR”信息。“ERROR”信息表明调制解调器的RAM有故障,应送回维修点进行维修。 相似文献