首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
毛玉鹏  梁洁 《福建电脑》2010,26(6):47-48,71
专用集成电路(门阵列ASIC芯片和FPGA芯片)在某重点型号空空导弹的各个组件上大量使用。而且随着微电子技术的发展,专用集成电路在今后的型号设计和生产中会得到更加广泛的应用。本文根据生产现场专用集成电路使用情况,分析了专用集成电路故障类型和故障原因,总结了专用集成电路使用方面的一些经验。  相似文献   

2.
充分地利用电路的结构信息,提出一种应用基本门单元完全测试集的测试生成算法,并给出了一些应用实例,表明了算法的可行性。  相似文献   

3.
基于多故障模型的并发测试生成方法   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
精简测试向量集是解决电路测试问题的一种行之有效的方法。针对故障电路,采用多故障模型方法可以简化有多个单故障的电路,且保持电路功能完整。论文在结构分析的基础上,利用多故障模型寻找故障集中的并发故障,建立并发关系图,并运用分团的思想对故障集中的并发故障进一步划分,以获得故障集的并发测试集。与传统的方法相比,并发测试生成将获得更加精简的测试向量集。  相似文献   

4.
由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点"反馈"连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率.  相似文献   

5.
利用PSPICE软件进行电路器件的仿真,并以故障仿真方法获取诊断知识,可部分代替经验故障数据积累和人工实际故障模拟方法建立故障诊断知识库,解决电子设备尤其是故障知识贫乏的新型装备的维修诊断过程中的故障现象、数据获取和故障知识库建立过程困难和对专业知识的依赖性等问题.对复杂电子装备电路板级故障仿真的关键技术:测试对象的仿真建模,仿真故障注入技术,测试节点优选技术和测试集优化策略进行研究,将其应用于地炮情报射击指挥系统仿真实验平台,并给出实例分析.  相似文献   

6.
韩威  江川 《计算机科学》2009,36(4):289-292
ASIC集成电路设计开发中的隐含逻辑瑕疵与电路故障是芯片实现的最大困境,针对不同特性的电路提出了内部逻辑扫描、存储器内建自测试、边界扫描链插入以及ATPG自动测试向量生成的解决方案与技术方法,实现了SOC设计开发中逻辑与成片电路的主动侦测与跟踪寻径,经实践证明这些方法大大提高了复杂SOC研制的成功率.  相似文献   

7.
姜晨  宋帆 《测控技术》2019,38(12):77-82
现代机载武器高度集成化、层次化的特点使得多数外部设备无法对其添加足够的测试点以获取全部的故障诊断信息,导致自动检测效率低下。提出一种层次化测试性建模方法,通过对复杂系统层次划分,建立起包含全部测试属性的多层次测试性有向图模型。基于该有向图模型,分析模型中各单元模块与测试间的关系,建立故障-测试相关性矩阵并得到模型的测试性属性。利用模型测试点和测试项的优化反馈结果,更新测试设备中的测试程序集。在测试执行期间不断积累维修经验,修正故障概率,更准确地将故障定位到满足当前机载设备维修精度的层级。最后以某温控系统为例进行分析,对本文所提方法的有效性进行验证。结果表明,该建模方法将优化模型的可测试性,提高外部测试设备对机载装备的检测效率及维修深度。  相似文献   

8.
王子赟  张梦迪  王艳  纪志成 《控制与决策》2021,36(12):2973-2981
针对未知但有界扰动和噪声的线性时不变系统,提出一种基于向量集逆区间滤波的执行器故障观测器设计方法,以实现噪声未知但有界环境下的故障区间估计.通过将执行器故障视为增广状态向量,构造与原系统等价的增广系统;基于增广系统设计故障观测器,得到系统执行器故障的区间估计,同时利用多时刻的测量输出进行区间滤波;采用观测器估计区间和集逆收缩区间的交集,得到更紧致的当前时刻的状态区间,降低区间计算的包裹效应.仿真实例验证了所提方法的有效性和实用性.  相似文献   

9.
测试集的生成方法是一致性测试技术的核心.介绍了形式化描述技术在测试集生成过程中的应用,针对PPP协议介绍其协议实现时的状态迁移.使用形式化描述语言SDL对PPP协议进行形式化描述,并以此为基础生成测试集,这些测试集能有效地应用于PPP功能实现模块.  相似文献   

10.
介绍了一种基于VFP (VisualFoxPro)开发软件的雷达数字电路板故障诊断软件测试平台的测试向量生成和故障字典模块设计方法 ,重点讨论了其中某些关键技术的对策。  相似文献   

11.
EPA协议一致性测试方法研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了EPA协议一致性测试原理、静态测试与动态测试方法及其实现技术;参照TFCN的结构框架定义了一种描述EPA抽象测试集的类形式化语言,提出了EPA协议实现一致性说明和协议实施附加信息的生成方法;研发了一种EPA协议一致性测试的方法,并以变量写服务的测试为例,说明了EPA协议一致性测试系统的测试过程。通过EPA一致性测试系统的实际应用,证明这种测试方法能够准确测试出被测协议实现与标准的一致程度。  相似文献   

12.
随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展,测试问题显得越来越突出和重要。下面主要介绍了存储器电路的分类,以及存储器电路的测试参数和测试向量。  相似文献   

13.
时序电路的测试序列通常由各个单故障的测试向量组成.为了减少测试时间和功耗,提出2种测试向量融合算法.借助融合灵活性的概念,2种算法按不同的方式对向量序列进行排序,并以融合深度和代价作为评判准则,构建向量的融合过程,最终生成整个电路的测试序列.该算法与已有的Greedy算法时间复杂度相同,但性能更优.在ISCAS89部分电路上的实验结果表明,采用文中算法可使平均性能分别提高4.96%和8.23%.故障仿真结果表明,文中算法的故障覆盖率有少量提高,故障分辨率变化较小.  相似文献   

14.
黄越  于宗光  万书芹 《计算机应用》2010,30(5):1390-1393
无回溯并行多路径搜索算法(NBMP)在生成测试向量过程中生成基于原始输入端奇异立方和与原始输出端关联的传输立方,并利用生成的奇异立方和传输立方生成测试向量。算法在实现过程采用无须回溯和多路径探索策略。通过分析和实验结果证明算法时间复杂度近似为线性。算法对ISCAS85基准电路中规模最大的8个电路进行实验,将实验结果与传统算法进行比较,结果表明NBMP算法故障覆盖率优于传统算法。  相似文献   

15.
单片机测试向量生成技术研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点。文章分析了目前单片机测试向量获取的几种方法,并在此基础上提出了一种单片机测试向量生成的新方法,通过将单片机测试向量分成测试激励和测试响应两部分,测试激励部分通过编写专用脚本软件将汇编程序转换成ATE专用测试向量,测试响应部分的测试向量则通过ATE的匹配功能来完成,从而成功地实现了对单片机的测试。  相似文献   

16.
基于通信扩展有限状态机的测试集生成技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
在协议一致性测试中,选择恰当的测试例至关重要。文章介绍协议一致性测试的基本概念及有限状态机和扩展有限状态机的测试模型,重点探讨基于通信扩展有限状态机的测试集生成技术。  相似文献   

17.
针对支持向量机(Support vector machines,SVMs)中大规模样本集训练速度慢且分类精度易受野点影响的问题,提出一个基于样本几何信息的支持向量机算法.其基本步骤是,首先分别求取每类样本点的壳向量和中心向量,然后将求出的壳向量作为新的训练集进行标准的SVM训练得到超平面的法向量,最后利用中心向量来更新法向量从而减少野点的影响得到最终的分类器.实验表明,采用这种学习策略,不仅加快了训练速度,而且在一般情况下也提高了分类精度.  相似文献   

18.
全速电流测试的故障精简和测试生成   总被引:2,自引:0,他引:2  
针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题,提出故障压缩、故障模拟等故障精简的方法,以提高该方法的测试生成效率.实验结果表明,该方法使得需要进行测试生成的故障点平均减少了66.8%,该测试方法的测试生成的效率提高了200多倍.  相似文献   

19.
20.
吴言 《电脑》1997,(9):56-57
一、调制解调器故障测试 1.电话拨号故障测试 为了验证数据终端设备(DTE)与调制解调器、调制解调器与电话线是否已正确连接,以及调制解调器的操作能力,可通过电话拨号测试来加以验证。要进行电话拨号测试,用户首先应保证接通调制解调器的扬声器(可通过命令 ATM1),其次,用户可输入音频拨号命令(ATDT)或脉冲拨号命令(ATDP),后跟电话号码。此后,用户会听到扬声器发出的音频声音或听到扬声器发出的哺哺咕咕的声音。若未听到相应的声音,应检查调制解调器和电话线、调制解调器和终端设备间是否已正确连接。 2.RAM存储器测试 假定调制解调器支持I命令,用户可通过输入命令ATI2来检查RAM存储器(随机存取存储器)。ATI2命令测试调制解调器的RAM,测试完成之后,在终端屏幕上显示“OK” 或“ERROR”信息。“ERROR”信息表明调制解调器的RAM有故障,应送回维修点进行维修。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号