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编辑按:为向广大计量工作者介绍我国计量领域科技成果及其发展水平,宣传计量科技成果所产生的社会效益和经济效益,从本期起,科学计量栏目将对1995年、1996年度计量科技成果奖项目进行系列报道。也希望获奖者踊跃投稿。高纯气体在电子、石化、煤炭、医疗卫生等许多部得到了广泛应用。也是气体计量的基础物质之一。研究高纯气体中痕量杂质的定量方法,是气体计量的重要环节,对评价高纯气体产品质量,提高标准气体的准确度有重要意义。高纯氮是应用最广泛的高纯气体之一。高纯氮中痕量杂质主要有H2、CO2、CO、CH4、Q2、H2O等,对这些… 相似文献
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使用氢火焰离子化检测器时,通过加装镍触媒转化管的方法,实现高纯气体中微量CO,CO2,CH4的测定. 相似文献
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介绍了一种利用氦离子化检测器(DID)分析高纯八氟环丁烷中微量O2、N2、CO、CO2、C3 F6的方法.该方法对杂质的检测限能够达到0.01×10-6,结果表明,该方法能达到较高的灵敏度和较低的检测限. 相似文献
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介绍了P5100系列氦离子色谱仪测定高纯气体中微量永久性气体杂质的应用。P5100系列氦离子色谱仪采用三阀三柱设计,通过阀切换和选择性切割技术可一次进样同时分析H_2、O_2/Ar、N_2、CH4、CO、CO_2等永久性气体。同时可实现对上述种类气体的高纯气体中微量永久性杂质的有效分析。CO_2、H_2、O_2/Ar、N_2、CH_4、CO的最低检出限(×10~(-6))分别为0. 0291、0. 0183、0. 0192、0. 0187、0. 0195、0. 0273,满足高纯气体中微量杂质的分析要求。 相似文献
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高纯金属溅射靶材是集成电路用关键基础材料,对实现集成电路用靶材的全面自主可控,推动集成电路产业高质量发展具有基础性价值。本文分析了集成电路用高纯金属溅射靶材的应用需求,梳理了相应高纯金属溅射靶材的研制现状,涵盖高纯铝及铝合金、高纯铜及铜合金、高纯钛、高纯钽、高纯钴和镍铂、高纯钨及钨合金等细分类别。在凝练我国高端靶材制备关键技术及工程化方面存在问题的基础上,着眼领域2030年发展目标,提出了集成电路用高纯金属溅射靶材产业的重点发展方向:提升材料制备技术水平,攻克高性能靶材制备关键技术,把握前沿需求开发高端新材料,提升材料分析检测和应用评价能力。研究建议,开展“产学研用”体系建设,解决关键设备国产化问题,加强人才队伍建设力度,掌握自主知识产权体系,拓展国际合作交流,以此提升高纯金属溅射靶材的发展质量和水平。 相似文献