长光栅数显表5μm分辨力的实现方法

长光栅数显表５μｍ分辨力的实现方法张艺（青岛经济技术开发区电子技术公司，青岛２６６０７１）长光栅数显表的分辨力很高。数显表中显示１０μｍ、１μｍ，末位采用十进制计数，译码即可实现。而显示５μｍ、２μｍ则需要一些特殊方法。本文介绍一种长光栅数显表５０μ...     

关于光栅式量仪光栅的调整与步骤

光栅式量仪是基于用光栅通过光电元件实现光电转换的仪器。该仪器的基准元件是光栅。因此 ,如何调整光栅是满足光栅式量仪准确度的关键。在调整光栅过程中 ,主要从调整光栅间隙和莫尔条纹这两方面着手。下面分别加以叙述。一、光栅间隙尺寸的选择用主光栅和指示光栅形成莫尔条纹时 ,为避免擦伤 ,不允许零间隙。这样 ,在主光栅和指示光栅之间形成一段距离。这段距离 ,我们称为光栅间隙。光栅间隙的选择是很重要的。间隙是否正确 ,直接影响莫尔条纹的清晰度和光电信号强弱。间隙小时 ,莫尔条纹反差强 ,灯丝发散角的影响和光轴与光栅表面不垂直…     

新型圆光栅多头读数系统的研究

本介绍了一种新的圆光栅多读数头按某一等分角度分布的方法及其实际应用效果，为光栅式测量装置的设计提供了一条新途径。     

标量衍射理论模拟蚀刻衍射光栅

讨论用于光通信的集成波分复用/解复用器件蚀刻衍射光栅（EDG）,它是波分复用光通信的核心器件的一种。EDG基于平面波导的Rowland圆结构,光栅面是平面。光栅的每一个齿面都垂直于齿面中心和输入波导端点的连线。基于标量散射场满足的Hemholtz方程,推导出Rowland圆上场分布的精确表达式。利用这个模型对设计好的器件参数进行了模块形状、谱响应、色散等复用性能的模拟,并对插入损耗和串扰进行了简要分析。     

光栅式指示表检定仪示值误差测量结果不确定度评定

随着数字化仪器的问世,现在越来越多的企业将数字化的仪器代替了以前的机械仪器,指示表检定仪也不例外。用传统的量块检定光栅式指示表检定仪时,往往由于大量块自身重力的原因可能对仪器示值引入误差,所以本文将分析一种新的检定标准——光栅测微仪代替量块检定光栅式指示表检定仪示值误差测量结果的不确定度评定。通过分析,光栅测微仪也能满足检定要求,且它具有测力小、读数直观等特点,较量块检定光栅式指示表检定仪来的更为方便。     

用全息光栅进行圆度测量的理论与方法研究

本提出一种用全息光栅作为标准器进行圆度测量的原理与装置。该装置可用计算机显示圆度误差图形，并用最小二乘法和最小区域法评定圆度误差。     

用圆光栅作分度基准的高精度仪器的故障判断

用高精度圆光栅作分度基准的圆分度光电检验仪、测角仪和光电圆刻机，一旦出现故障，判断起来很困难。本提供一种简易的判别办法，并提供了可参考的测试电路。     

理想环形莫尔条纹的获取

本文讨论了理想环形莫尔条纹获取的必要条件，推导出形成环形莫尔条纹的圆光栅刻线偏心量的理论计算公式，并提出了一种圆光栅刻划偏心量的快速调试方法。     

提高码盘、圆光栅均匀性的研究

随着科技的发展 ,对码盘、圆光栅的线条数、均匀性要求越来越高 ,本文着重对码盘、圆光栅刻制中出现的均匀性问题进行分析 ,找出影响码盘、圆光栅均匀性的主要因素 ,提出了相应的改进措施。     

柱面光栅阵列器件的零位设计

本文对柱面光栅阵列器件的零位设计原理进行讨论，并利用计算机产生区间内均匀分布的随机数方法，将“１”，“１”分别对零位栅线序列｛Ｂ（Ｉ）｝各元素赋值。该方法同样适用于其它计量光栅的零位设计。     

安装偏心对圆光栅测角精度的影响及误差补偿技术研究

介绍了圆光栅测角系统的组成结构,分析了安装偏心对圆光栅测角精度的影响并提出了一种偏心误差补偿的方法。分析和实验结果表明,对精密测量圆光栅进行偏心补偿是十分必要的,而所采用的两个读数头对径安装读数的补偿方式有效的减小了偏心误差,提高了圆光栅的测角精度。     

非调制式光纤细分光栅测量系统

本文介绍一种测量速度快、抗干扰性能好的光纤细分光栅测量系统，细分数可达数百。     

塔尔波特效应在光栅计量中的应用

本文根据塔尔波特成像公式，计算当单色球面波照射光栅时，离光栅不同距离处的光强分布和调制度，讨论光栅付间隙对莫尔条纹信号的不灵敏性和光学倍频，并介绍几种新颖光栅光学系统。     

光纤布拉格光栅应变传感器的低温特性

研制了一种新颖的菱形光纤布拉格光栅（FBG）低温传感器。采用有限元方法分析了这种结构的力学性能和温度特性。将该装置置于低温（液氮）拉伸设备中，实验研究了这种封装形式的低温应变特性。采用光纤布拉格光栅网络分析仪和低温应变仪，分别测量了液氮温度下菱形应变传感器的波长变化量和应变变化值，测得其应变系数为-0．7185μe／pm，线性度达到0．9998。     

计量光栅空间位姿参数光场输出模型与仿真

光栅安装或应用过程中光栅传感器指示光栅、标尺光栅相互位置发生改变,导致莫尔条纹发生畸变,直接影响着测量精度和后续处理系统的复杂程度.本文采用傅里叶频谱分析方法,建立包含指示光栅、标尺光栅位置姿态参数的光场输出模型,给出了两栅不平行时输出光场的数学表达式,对主要影响因子进行了较详细的分析,并在Matlab中进行了仿真,给...     

粗线纹光栅接长技术研究

光栅线位移传感技术在机床数控、数显中占有重要的地位，但其接长非常困难，以至于目前我国除粗线纹光栅外，能接长到３ｍ以上的位移传感器还没有实用化的。本文针对实用化接长技术需要，借助于粗线纹光栅特殊的测量原理，提出了一种新的接长方法，在理论上作了初步探讨，并作了实验验证。该接长方法乙用于工厂现场，接长６．４ｍ坐标。     

直流电路系统测试圆光栅的分析与应用

分析了采用直流电路系统测试圆光栅直径误差 Φi(或刻线误差 θi)时所产生的差异等问题 ,讲述了能较真实准确地得出圆光栅 Φi(或 θi)这一单项误差指标的测试与数据处理方法。此方法已在实验与实际检测结果中得到了充分验证     

快速反射镜系统用光栅测微仪

为了精确控制FSM系统中平面反射镜的偏转角度,研制了专用型光栅测微仪对其进行位置测量,以实现系统的闭环控制.在明确了FSM系统对测微仪应用需求的基础上,根据其技术原理,对光栅测微仪的小型滑轨、标尺光栅图案、指示光栅图案、绝对零位编码、指示光栅移相以及接触探头分别进行了设计与选择.经精密加工、装配、调试后,所得光栅测微仪...     

光栅纳米测量技术及应用

本文简要介绍了光栅纳米测量技术的主要研究内容，着重阐述了其应用实例－一种光栅纳米测微仪的原理结构和实现方法。从系统的重复性、分辨力和准确度三方面入手，深入地研究和探索解决光栅纳米测量过程中的各种关键技术问题的方法和途径，能够有效地将光栅测量的分辨力和准确度从亚微米量级提高到纳米量级。     

722型光栅分光光度计常见故障的处理

７２２型光栅分光光度计常见故障的处理王兆海（西安市计量测试研究所，７１００６８）一、钨卤素灯不亮出现这种故障切勿忙于更换新灯，不然会造成不必要的浪费。正确的方法是取下钨卤素灯，查明不亮的原因，然后加以处理。本文所涉及的元器件均对应于光度计电路图。１、...