X射线衍射仪微机化升级改造的讨论与实践

介绍一种旧型号的X射线衍射仪微机化的升级改造技术以及相应的数据采集与分析系统（XRDS）。该系统将采集的衍射数据以文件形式存盘，并对该数据文件进行分析处理。结果可用图谱显示、打印、生成峰数据表、或扫描数据表等多种形式输出。原仪器记录系统仍可独立工作。系统结构简单，能充分利用仪器的机械精度，改造工作只需连接几对信号线便可完成，价格低廉，适用于任何旧型号的X射线衍射仪。     

X射线衍射仪样品测试架的改进

通过对X射线衍射仪样品架的改进，使尺寸过大或过小的样品的X射线衍射谱的测量更加方便与准确。对于小尺寸块状样品或薄膜样品，采用在样品背面加橡皮泥，用玻璃片压在铝制样品架上的方法固定；而通过裁剪铝制样品架，使大尺寸样品可方便地固定和测量。     

同步辐射的基本知识：第二讲同步辐射中的衍射术及其应用（二）

2六圆衍射仪、劳厄法和单晶样品的结构测定 2．1 X射线单晶六圆衍射仪在同步辐射X射线单晶衍射中一般使用六圆衍射仪,见图9所示。如德国Huber公司的5020六圆衍射仪。     

X射线粉末衍射仪

1 引言 X射线粉末衍射仪的英文名称是X-ray powder diffrac-tometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做X射线多晶体衍射仪,英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。 本系列讲座曾介绍过X射线单晶体衍射仪。两者的区别在单晶体衍射仪分析的样品是一粒单晶体,任务是用来解析单晶体的结构。而用粉末衍射仪分析的样品是粉末,也即是一堆微小单晶的聚集体或称多晶体,其任务主要是用来分析多晶体聚集体的聚集态结构。此技术早在1916年即以建立,至今已有近90年的历史,不仅其应用面     

X射线粉末衍射仪性能的评估

叙述从衍射数据的质量来评估X射数粉末衍射仪的性能的观点和方法。主要衍射数据为衍射峰的位置（布拉格角2θ），衍射的强度（衍射峰的积分强度Ⅰ和各测量点强度Y）和衍射峰的峰形（半峰宽H与分辨率）。     

Pb(Zr,Ti)O3薄膜微区残余应力的X射线面探扫描分析

根据在X射线二维衍射几何关系下建立的应力应变方程,提出了一种基于X射线多晶面探衍射仪系统分析射频磁控溅射制备的Pb(Zr,Ti)O3薄膜微区残余应力的测量方法,即通过基于X射线衍射圆锥形变的分析来表征薄膜的残余应力,试验结果表明薄膜所受为残余拉应力,同时利用X射线面探扫描方法评价了薄膜的残余应力分布.     

短波长X射线衍射无损测定铝板内部残余应力

利用重金属靶短波长特征X射线WKα1对轻质材料的强穿透性,自主研发了1台用于工件内部晶体物质衍射分析的短波长X射线衍射仪(SWXRD).介绍了短波长X射线衍射仪无损测定工件内部应力的原理和方法,在国内首次无损地测定了30 mm厚7075铝合金淬火板内部残余应力及其分布,并与中子衍射和高能同步辐射的短波长X射线衍射测定内...     

用PC机读取X射线衍射仪软盘的方法研究

分析了ＰＣ机判读Ｘ射线衍射仪软盘数据的困难,提出两种判读方法,实现了用ＰＣ机对Ｄ／ｍａｘ一类Ｘ射线衍射仪测量数据的调用,扩展了仪器的功能,并对两种判读方法进行了对比。     

X射线单晶体衍射仪

一、引言 X射线单晶体衍射仪的英文名称是X—raysingle crystal diffractometer,简写为XRD。 本仪器分析的对象是一粒单晶体,如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线(如Cu的Ka辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射,由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律,也即解出晶体的结构[1]。物质或由其构成的材料的性能是与晶体的结构密切相关的,如金刚石和石墨都是由纯的碳构成的,由于它们的晶体结构不同就有着截然不同的性质。     

德国布鲁克AXS有限公司

德国布鲁克AXS有限公司是全球领先的专业研制和生产X射线分析仪器的公司,主要产品有X射线多晶衍射仪、X射线单晶衍射仪、X射线荧光光谱仪以及高分辨率CT成像系统,产品广泛应用于大学、研究所、政府实验室以及工矿企业等。