红外辐射温度计的辐射源尺寸效应修正

红外辐射温度计在低温测量的辐射源尺寸效应（SSE） 的规律不同于高温测量。基于以虚拟探测器温度消除背景辐射影响的SSE计算模型,推导了在不同源尺寸和不同背景条件下辐射温度计输出的SSE影响修正公式;得出不同源尺寸条件下辐射温度计温度示值的SSE影响修正的理论解析表达式。在源温度低于或接近背景温度时修正模型与高温测量SSE修正模型有显著差异。所得结果适用于任意温度下对单波段辐射温度计的SSE影响修正。     

辐射温度计分度方法探讨

研讨了辐射温度计的标定方法，提出了１种新的标定法－分度函数法；并以Ｇｅ光电池为例，导出其分度函数的具体形式，同时估算了分度误差。     

红外辐射温度计瞄准的平面辐射源模型

用典型红外辐射温度计的辐射源尺寸效应的实验数据说明不同测量条件下的检定/校准结果的差异可能为其最大允许误差绝对值的数倍。提出具有明确测量条件的平面辐射源瞄准模型和以辐射源前置光阑的方式对于不同空腔黑体辐射源实现相同的等效平面源直径的方法,提出了对光阑的技术特性和放置距离要求,分析表明低温辐射源对光阑的冷却作用可能引起不可忽略的示值降低。采用等效平面源模型的实验结果表明以不同几何条件的空腔黑体辐射源可得到一致的检定结果。讨论了应用平面辐射源模型可能遇到的实际技术问题和解决的对策。     

工业辐射温度计的辐射源尺寸效应（SSE）测量

本文给出了直接法测量工业用辐射温度计SSE的计算公式和SSE对测温结果影响的修正公式。建立直接法测量系统,对几种不同型号的被测辐射温度计的测量结果表明,SSE整体上随辐射源尺寸的增大而增加。但在源尺寸较小时SSE变化率较大,随着源尺寸的增大,SSE的变化率逐渐较小,趋于平缓。辐射温度计的校准应尽量选择与测温对象尺寸相近的辐射源直径。否则,精密测温应用需考虑SSE修正。     

低温铂电阻温度计的分度

本文概要地介绍了光明化工研究所研制的两种铂电阻温度计的结构与制作工艺和分度方法,初步探讨了麦基森法则的适用性。数据分析表明,应用两个定标点于20K～80K范围内可以得到±0.1K的准确度。     

500℃以下工作用辐射温度计校准结果示值修正方法探讨

我国对工作用辐射温度计的校准使用《500℃以下工作用辐射温度计检定规程》和《工作用辐射温度计检定规程》,两本规程分别适用于温度范围在500℃以下和300～2200℃的工作用辐射温度计的检定。两本规程都规定,在检定过程中,对于温度计有发射率修正和调节功能的,应将发射率设置为1或将发射率设置为与辐射源靶面的有效发射率相同的数值。在实际工作中,很多工作用辐射温度计的发射率没有调节功能,恒为0．95,有的甚至没有标明发射率是多少,而一般计量部门的标准辐射源的发射率都为1．00。     

固定发射率辐射温度计校准中的温度修正分析

在当前的辐射温度计的检定中,温度修正分析有着十分重要的作用。但是从辐射温度计实际使用的过程可以看到,辐射温度计的温度修正还存在若干问题,很多用户都要求校准后需要使用不同发射率下的辐射温度计修正值。基于这个背景,在本次课题的研究中,主要分析了固定发射率下的辐射温度计校准中的温度修正。     

现场和实验室温度计的分度

在整个工业中,对精密测温的要求越来越高。电站和石油化工等行业在生产现场安装了为数众多的电阻温度计和热电偶,这些测温元件往往要在现场进行精密分度。国际实用温标铂电阻温度计,S 型热电偶和光学高温计通常称为“工作标准”。这些温度计定期在国际实用温标(IPTS)的定义固定点和二级参考点上分度。然后以它们为标准,采用比较法分度工业感温元件和测温仪表。比较法分度时,     

基于LabVIEW实现固定发射率辐射温度计校准的温度修正

在辐射温度计检定中,根据规程要求,需要将辐射温度计的发射率设置为1,而在实际校准辐射温度计的过程中发现大量发射率固定且不为1的情况,同样有用户要求校准后给出不同发射率下的辐射温度计修正值,为实现宽波段任意固定发射率辐射温度计在校准过程中的修正值计算,文章使用LabVIEW的两分法迭代实现Plank公式的积分算法,有效提高校准过程的自动化程度,文章用实例说明了两分法与普通步进算法的效率区别,从而高效的实现了任意波段、任意发射率、任意温度点的温度修正值计算。     

环境温度对固定发射率辐射温度计校准示值修正的影响

介绍环境温度变化对固定发射率(ε=0.95)辐射温度计校准时示值修正的影响,通过计算给出具体的数据,结果表明在中低温范围内环境温度的变化对校准示值修正的影响较大。