首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
文中介绍了一种利用存储测试技术测试膛内加速度信号的微型膛内加速度测试仪的硬件结构和工作原理,给出了用该测试仪测取的××弹的膛内加速度曲线.  相似文献   

2.
软件是某导弹绝缘电阻测试仪的重要组成部分.该软件主要由单片机和上位机两部分组成.单片机部分主要完成对测试流程的控制和对测试数据的处理,上位机部分主要是完成人机交互,对测试结果进行处理和修正,显示测试结果,并且对测试的结果进行保存.两部分的软件通过串口进行交互.实验表明,该软件的设计能够完成该绝缘电阻测试仪的测试要求,达到了系统的研制要求.  相似文献   

3.
便携式鱼雷发控系统测试仪研制   总被引:4,自引:0,他引:4  
为了提高军用设备的外场测试水平,采用了虚拟仪器技术,研制了便携式鱼雷发控系统测试仪,介绍了便携式鱼雷发控系统测试仪及其功能,详细讨论了采用USB总线的硬件系统实现便携式测试仪的总体方案,采用LabWindows/CVI开发了上层应用程序,实现了良好的人机交互界面;采用Visual C++开发了底层驱动程序,实现了硬件测控的实时性.外场实际使用表明,该测试仪提高了外场测试和排故的工作效率,自动化程度高,性能稳定可靠,满足了鱼雷发控系统外场自动测试和排故的需求,为鱼雷发控系统的测试维修提供了有力的技术保障.  相似文献   

4.
本文介绍了一种用于多型导弹电气测试的通用测试设备,以及硬件电路结构和软件设计原理。该测试仪利用单片机测控技术,能够实现自动与半自动给定各类控制信号,并测量和显示测试结果等功能,极大地提高了测试的自动化程度,该测试仪具有较明显的经济效益。  相似文献   

5.
基于回波模拟器原理的便携式雷达改善因子测试仪采用嵌入式Linux操作,由PC/104总线CPU、回波信号模拟器虚拟仪器卡和测试软件构成.PC/104 CPU主模块控制管理系统、产生控制目标回波及改善因子测试自动引导.该测试仪通过回波模拟器,在雷达动目标显示系统改善因子测试应用中得以验证.  相似文献   

6.
充分利用1553B总线和USB总线的特点,研制了一种USB总线接口的MIL-STD-1553B总线测试仪,该测试仪通过USB总线来控制1553B总线,使得计算机通过USB总线便可与各种1553B总线的设备进行数据通信,从而使得1553B总线测试更加方便快捷.文中介绍了测试仪的软硬件系统结构,详细讨论了测试仪通用驱动程序和应用程序的体系结构、开发中使用的数据结构,以及应用程序的函数接口和开发流程,最后给出软件测试方法.  相似文献   

7.
为了提高测试效率,设计某型飞机武器控制系统交联组件测试仪。根据某型飞机交联组件功能特点及输入输出关系,研究其测试原理,给出以PC104架构的测试仪总体设计方案。采用以PC104为控制核心的硬件架构和模块化软件设计思路,通过穷举测试法将故障定位到独立测试单元。重点分析测试仪硬件功能模块实现方法、测试流程及故障诊断方法。结果表明,该设计能实现测试信号的实时收发功能,提高测试效率和设备运行可靠性。  相似文献   

8.
针对现有引信测试系统设备分散、专机专用、操作繁琐等问题,设计了基于STM32的便携式引信通用测试仪,以完成对4种类型引信的检测。通过设计主控制模块、引信类型检测模块、遥测及模拟解保模块和通信模块等9个功能模块,采用引信类型快速识别、模拟解保信号可靠产生、遥测电压隔离测量等技术,该测试仪实现了对引信的自动识别、测试及结果判断,并可实时显示测试结果。实验结果表明,该通用测试仪测试精度高,操作简单可靠,性能稳定,达到设计要求。  相似文献   

9.
针对模拟环境下可编程引信高频编码信号无有效测试装置的问题,提出了基于高速数据采集和存储技术的高速编码信号测试仪。该测试仪以高速AD转换器与FPGA为核心,根据编码信号的特点对其进行有效的衰减和差分化,增强了测试仪的抗干扰能力减小了测试误差,采用并行双通道时间交替采样技术实现了200 MHz的高采样频率,使用FPGA实现高速控制时序逻辑和数据分区缓存,避免了高速存储中可能产生的丢点情况。实验结果表明,高速编码信号测试仪具有完整的记录信号波形,能满足高频引信编码信号测试要求,可作为可编程引信高频编码信号测试的有效装置。  相似文献   

10.
空空导弹并行测试平台设计   总被引:6,自引:1,他引:5  
在详细分析各时刻系统全部资源使用情况,深入理解被测对象测试全流程的基础上.对某型空空导弹内场测试仪进行了并行测试的改造设计.硬件上增加了接口转换阵列开关及控制模块;利用LabWindows/CVI6.0提供的强大的并行机制进行多线程编程.改造后的测试仪可同时测试两枚某型空空导弹,总用时远远小于传统测试两枚弹的时间,大大提高了整个系统的测试效率,节约了测试成本.  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号