AMS系统中电离室计数望远镜对^14C粒子的探测与鉴别

为探测和鉴别来自加速器质谱计考古样品中的＾１４Ｃ粒子，建造了一台分裂式阳极屏栅电离室计数望远镜。它可以清楚地将＾１４Ｃ＾３＋离子与干扰离子＾１２Ｃ＾３＋、＾１３Ｃ＾３＋和＾１４Ｎ＾３＋区分开，并实现对＾１４Ｃ３＋离子的稳定计数。     

加速器质谱(AMS)测量中的粒子鉴别探测器

描述了中国原子能科学研究院AMS测量中使用的飞行时间探测器、多阳极电离室、Bragg探测器、入射离子X射线探测器以及充气飞行时间探测器。通过它们可以获得粒子的飞行时间、部分能量和总能量,从而达到粒子鉴别的目的。介绍了采用这些探测器在HI—13串列AMS系统上做的相关工作以及取得成果。     

一台用于AMS的鉴别同量异位素的气体电离室

文章描述一台用于加速器质谱计(AMS)的鉴别同量异位素的气体电离室,它由三个分离的阳极、一个栅极和阴极组成。利用这台电离室,在加速器上进行了~(36)Cl的测定。它有效地排除了~(36)S等本底的干扰。     

铀矿床中的~（129）Ⅰ核素研究

利用中国原子能科学研究院的串列加速器质谱计测定连山关铀矿床矿石和地下水中的￣（１２９）Ⅰ。结果表明，裂变产物￣（１２９）Ⅰ具有活泼的地球化学性质，矿石中的￣（１２９）Ⅰ由于地下水的淋滤而丢失。实验结果可供高放核废物处置库设计参考。     

用0.5 MV端电压的串列AMS装置开展10Be测量方法研究

本文通过对¹⁰Be离子在加速器质谱计（CAMS）高能端束流传输进行模拟计算,确定了¹⁰Be离子束流传输的优化设计。设计安装了测量⁹Be束流的法拉第筒、能量吸收膜（SiN膜）装置、ΔE-E_res气体探测器等,结果表明,改进后的CAMS可进行¹⁰Be测量,¹⁰Be测量总传输效率约为2%,测量本底约为4×10^-14。     

Bragg探测器在AMS测量中的应用

为提高Bragg探测器的总能量和Bragg峰的分辨等性能,对1台Bragg探测器进行改进,并利用其测量³⁶Cl、⁴¹Ca、⁷⁹Se系列标准样品,有效排除了相应同量异位素的干扰,为进一步提高AMS测量这些中重核的灵敏度提供有效试验手段。     

Al2O3样品制备技术及^26Al的AMS测量

报道了用于加速器质谱计^26Al分析的Al2O3的制备流程及^26Al的测量过程。制备的空白样品^26Al/^27Al比值＜10^－13,显示出同量异位素^26Mg干扰小。制备流程是成功的。     

用于AMS的束流测量与调试系统

HI-13串列加速器质谱计的束流测量系统由可变狭缝仪、法拉第筒、荧光靶和探测器等构成,其中,可变狭缝仪、法拉第筒和荧光靶实验中需由试验人员手动操作,影响实验工作效率。为改变这一状况,已将可变狭缝仪、法拉第筒、半导体探测器、摄像头和荧光靶置于一靶室内。采用电控平移台     

AMS 10Be测量本底研究和改进

10Be是加速器质谱(AMS)测量中重要性仅次于14C的核素,在第四纪地质研究等方面发挥着重要作用.为开展岩石暴露年龄测定和黄土中10Be含量测量等应用研究,北京大学加速器质谱(PKUAMS)在设备改进的基础上对10Be测量本底进行了较为系统的研究,使测量本底达到了6×10-15.本工作主要介绍AMS 10Be测量本底的主要来源,从提高10Be离子计数率与抑制7Be干扰本底两个方面对10Be测量本底进行了较为系统的研究与改进.     

加速器质谱学中鉴别重离子的Bragg曲线谱学法的建立

超灵敏AMS技术中遇到的最大测量技术难题是消除来自样品中的同量异位素干扰成分。在AMS测量中,需使用多种高分辨的探测系统。为此,我们设计制造了一台Bragg探测器。Bragg探测器在一个大的能量和原子序数范围内有较好的能量和电荷分辨。该探测器是一全阻止型气体电离室,主要包括     

黄土样品的BeO制备及AMS测量

采用常规方法提取黄土-古土壤样品中的10Be,制备BeO样品时,无法有效降低样品中B含量,导致在10Be AMS测量中本底值偏高.本文对BeO制备方法进行了优化.新的制备流程改进了阳离子树脂交换、Be(OH)2转化为BeO的灼烧方式以及实验所采用的仪器设备.在西安加速器质谱仪(Xi'an-AMS)上测试结果表明,采用该化学流程制备的BeO样品化学本底可以达到2.04×10-14.本文还介绍了Xi'an-AMS测量10Be的方法与测量结果.     

超灵敏小型回旋加速器质谱计中单粒子微通道板探测器性能的改善和提高

叙述了为提高单粒子微通道板探测器的性能和稳定性所采取的措施，在采用本底同时交替扣除法以后，探测效率可以达到９５％以上，探测效率为５０％时，单粒子微通道板探测器探测＾１４Ｃ的丰度灵敏度达到２×１０＾－１５。     

加速器制备~（123）Ⅰ

介绍了用１２４Ｔｅ（ｐ，２ｎ）１２３Ⅰ、１２３Ｔｅ（ｐ，ｎ）１２３Ⅰ、１２２Ｔｅ（ｄ，ｎ）１２３Ⅰ、１２７Ⅰ（ｐ，５ｎ）１２３Ｘｅ→１２３Ⅰ、１２４Ｘｅ（ｐ，ｘ）１２３Ⅰ和１２４Ｘｅ（γ，ｎ）１２３Ｘｅ→１２３Ⅰ等反应制备１２３Ⅰ的方法，并对各种方法优缺点进行了比较。     

用于AMS测量的~(14)C样品制备方法

为了开展基于加速器质谱(accelerator mass spectrometry,AMS)的14 C测量和14 C样品制备系统的研究,深入分析样品制备原理和样品制备过程,设计并优化样品制备系统,建立14 C的样品制备方法及一套集成的14 C样品制备系统。利用AMS测量技术对制备的样品进行了测量和分析,结果显示,建立的样品制备方法所制备的样品已满足AMS测量的要求。     

CdSe（^79Se）的制备和应用

应用元素Ｓｅ为起始物质经两步化学反应制备了ＣｄＳｅ。对其组成进行了化学分析，对晶体作了Ｘ射线衍射鉴定。     

69 ^36Cl AMS标准样品的研制

^182Hf在待测样品中的含量一般很低。加速器质谱（AMS）是实现其高灵敏测量的有效方法，因AMS是一种相对测量方法，需要制备标准样品。W、Ta严重干扰^182Hf的AMS测量，可采用阴离子交换法消除标准样品制备过程中W、Ta的干扰。具体方法如下。