γ射线康普顿散射的能谱研究

利用10 mCi的137Cs放射源发出的662 keV的γ射线,开展了与铝棒材料的康普顿散射实验。在20°～120°散射角度范围,用NaI(Tl)闪烁能谱仪直接测量获得了散射射线的能谱。简要介绍了实验原理和装置,给出了与实验系统配套的探测效率、峰总比等数据,深入讨论了散射射线能谱的特征,获得了散射能量、散射截面与散射角度的关系,并与理论值进行了比较,验证了康普顿散射理论。最后评述了该种康普顿散射能谱测量的方法。     

LiCl溶液康普顿散射的影响因素研究

基于康普顿散射理论对LiCl溶液康普顿散射中的非相干散射衰减因子进行了分析,采用一定近似处理得出了符合LiCl溶液康普顿散射相对光子数与浓度关系的表达式,并进行了实验验证。然后立足于密度泛函理论,从微观角度对LiCl溶液的康普顿散射进行了深入分析,得到了LiCl溶液中Li+、Cl-的水合离子的电子结构,分析了电子数密度和电子受到的束缚对康普顿散射的影响。结果表明,除质量密度、散射衰减因子以及溶液的浓度对康普顿散射相对光子数有影响外,电子数密度和电子受到的束缚也对康普顿散射相对光子数有影响。     

基于甄别级CdZnTe探测器阵列康普顿散射准直器优化设计

基于阵列探测康普顿散射原理,利用MCNP等软件就如何提高康普顿散射探测效率和探测质量进行了仿真,仿真结果给出了较好的散射检测视角及有效的检测视角范围。同时,结合甄别级CdZnTe阵列探测器特点,优化设计了相应探测装置的准直器结构,实现了对多角度散射信息的检测,提高了检测效率,降低了其它散射干扰。     

同步辐射反射法测定液体结构方法研究

用北京同步辐射装置4W1C光束线Huber五圆测角仪反射法测定液体结构的实验方法.以Na2SO4溶液的散射实验为例,简单介绍了样品池构造、散射几何布局、样品准直、扫描条件和扫描方式;详尽叙述了实验散射强度数据的校正方法,如样品池窗口净吸收、空气散射、偏振校正、吸收校正和几何校正等;演示了溶液结构函数和径向分布函数的计算方法,包括Compton散射强度和乱真峰的扣除技巧.研究表明,用同步辐射反射法获得了高质量的X射线散射数据.     

中子小角散射实验技术

从实验技术角度出发,介绍了中子小角散射谱仪中各主要部件及其相应功能和参数,“Membrana-2”中子小角散射实验装置及详细技术特点。并以实际工作过程为主要内容,介绍了中子小角散射实验测量过程中所需要满足的基本要求和条件,分别详细阐述了实验样品选择方法、中子探测器效率刻度技术、标准样品选择技术、绝对散射强度标定技术和实验数据的初步处理过程,提出了中子小角散射实验中各参数优化与基本实验方法。可为今后国内开展中子小角散射实验提供主要的实验技术信息。     

板阵栅降散射性能初步研究

高能闪光照相中,散射是影响密度反演精度的主要因素。论文提出了加工工艺比多孔网栅更简单的板阵栅降散射器件,理论分析和MC模拟结果表明,板阵栅的降散射效果与多孔网栅大致相当。针对使用板阵栅(多孔网栅)后剩余的少量散射,通过理论分析,提出了一种进一步降低散射影响的方法,该方法能使剩余散射进一步降低2～3倍,从而进一步降低了板阵栅的加工难度。     

低能X射线自由空气电离室散射和荧光光子修正因子的研究

为了减少散射和荧光光子在低能X射线自由空气电离室复现空气比释动能的影响,需要引入散射和荧光光子修正因子。运用EGSnrc MC模拟程序中的DOSXYZnrc程序包对6~50 ke V能量范围内X射线自由空气电离室的散射和荧光光子修正因子进行模拟计算,获得散射和荧光光子修正因子的值;参考CCRI的国际比对规范,对低能X射线规范下的5个辐射质的散射和荧光光子修正因子进行了模拟计算,得出散射和荧光光子修正因子的值。研究结果表明:所得散射和荧光光子修正因子不确定度为0.1%,可为低能X射线空气比释动能的国际比对提供数据支持。     

450keV锥束CT系统的散射校正研究

在450keV锥束工业CT成像系统中,对投影数据进行适当的散射校正是一步重要的数据校正.结合国内外散射校正方法研究的现状,对一种用散射校正板来进行散射校正方法的原理和实现进行了深入的研究.实验结果表明,这种校正方法能够对450KeV锥束CT成像系统进行有效地散射校正.     

中子小角散射实验及原始数据的处理

中子小角散射技术是研究纳米尺度范围材料结构的有力工具。中子小角散射实验测量和原始数据的处理方法相对较复杂。为了获得样品的绝对中子小角散射强度数据,通常需要进行入射中子束强度、散射强度、样品的透射率、实验本底以及空样品盒的散射强度和透射率等多项实验测量。若要获取较宽散射矢量范围的实验数据,还要改变实验仪器设置,对同一样品进行几次测量。而对所测数据也需要进行多项处理,才可获得便于分析的小角散射强度曲线。本文简单介绍实验原理和测量方法,重点讨论原始数据的处理方法,其中详细讨论了各向同性散射数据的平均以及合并方法。     

基于MCNP5的凸度仪固有散射影响分析

本文采用MCNP5软件建立了凸度仪模拟计算模型,并对其进行实验结果验证。分析了凸度仪固有散射的影响,随待测钢板厚度的增大,固有散射影响减小,对1~15mm厚度的钢板,系统固有散射占总散射影响的10%以下,而对大于15mm厚度的钢板,系统固有散射可近似为零。此外,对散射因子曲线在非对应源附近的鼓包现象进行了分析,分析结果表明,探测器支架具有防止另一排探测器散射干扰的作用。     

基于神光Ⅲ原型装置的近背向散射诊断系统设计

近背向散射诊断系统的建立对于精密测量受激Brillouin散射和受激Raman散射光能量份额具有重要意义。基于神光Ⅲ原型装置，设计了以凹面镜收光盘为核心元件的近背向散射诊断系统，给出了其光学设计与机械设计，为建立近背向散射诊断系统提供了参考。     

一种测量高强度直流X光机辐射能谱的方法

介绍了一种康普顿散射法测量高强度直流X射线能谱的方法,分析了X光机辐射谱与散射谱强度的关系表达式。在测量系统中使用能量分辨能力较好的高纯锗探测器,通过测量X光机照射低原子序数材料的散射能谱,再根据不同能量X射线在该散射立体角上的散射截面回推,从而获得X光机的辐射能谱。最后,给出了X光机的工作电压分别为15、80和100 kV时,散射法测量得到的钨靶X射线辐射谱。     

HL-1托卡马克装置激光汤姆逊散射实验

叙述了HL-1托卡马克装置激光汤姆逊散射仪的结构和特性,介绍了多道散射信号的获取和校准方法,给出了电子温度测量的例子及其实验误差。     

X光机冷轧钢板测厚仪的散射校正

X光机测厚仪是钢厂轧钢生产线上对钢板厚度进行控制的关键设备，其测量精度要求很高，且射线的散射是影响其测量精度的重要因素。本工作根据对散射数据的测定和分析，用数学拟合的方法归纳射线散射的影响规律，根据这一规律进行散射校正，有效地消除了散射带来的偏差。     

一种CT成像散射抑制方法

在X射线CT(Computed Tomography)成像尤其是锥束成像过程中,散射是不可忽略的影响因素。探测信号中散射信号的存在导致CT图像中的伪影。依据散射信号的特征属性,提出了一种散射的估计方法。该方法利用简单的解析公式估计散射,简单易操作。实际的实验数据验证了方法的有效性。     

氢化锆中氢的散射律和散射矩阵研究

从氢化锆晶体散射律的角度出发，研究了氢化锆晶体散射的特殊机理。根据氢化锆晶体散射的声学模型和光学模型给出的频谱分布，用国际通用程序ＧＡＳＫＥＴ计算了氢化锆中氢的散射律。     

X射线在Be、C轻材料上的散射特性研究

介绍了在Ru-200 X光机上,采用Ag靶的韧致辐射谱,通过LiF晶体分光产生单色X射线,用Be、C材料作散射体,在6°～40°的方向上作散射测量.实验结果显示这两种低Z材料对X光散射具有方向性.给出了散射效率随散射角度的分布曲线,阐明这种方向性与X-射线能量E、散射体的原子序数Z和强散射角θ之间的关系.     

常波长和飞行时间模式下中子散射的散射矢量分辨率分析

讨论了中子散射实验中散射矢量分辨率问题，并根据目前谱仪通常的角度分辨和波长分辨参数，给出了常波长模式和飞行时间模式的分辨率曲线，并比较了不同模式的优缺点。分析表明，对于低q范围（〈0．4nm^-1）散射实验测量，飞行时间模式的分辨率更好；对于高q范围的中子散射测量，常波长模式更适合。     

任意温度下H_2O中H中子热散射律数据研制

轻水反应堆堆芯模拟计算需在较宽的温度范围内进行,热中子能区(4eV以下)H_2O中H的热散射律数据对计算有很重要的影响。目前主流基础评价核数据库中,H_2O中H的热散射律数据均在有限的几个温度点上给出,因此计算只能在这些温度下精确进行。为提高轻水反应堆模拟计算的可靠性,基于IKE热中子散射模型,给出了293.6~1000 K范围内任意温度下H_2O中H的热散射律数据的计算方法,并制作了系列H_2O中H的温度间隔为10 K的热散射律数据。利用制作的热散射数据和MC输运计算程序,模拟分析HMF004基准实验和VENUS3轻水反应堆在不同慢化剂温度下的有效增殖因数(keff)。计算结果符合物理规律,验证了H_2O中H的热散射数据的制作是正确的。     

60Co双投影辐射成像系统中的散射干扰模拟研究

~(60)Co双投影辐射成像系统,采用两个射线源,分别底置和侧置,通过一次扫描即可获得仰视和侧视两个方向的投影图像。但由于散射的存在,两个投影平面的成像会相互干扰。为降低两投影平面间的散射影响,提高该系统辐射图像的质量,首先基于蒙特卡罗方法建立仿真模型,并对空载时散射分布的模拟值与实验值进行对比,验证了模型的可靠性,然后模拟分析了不同投影平面间距、探测器周围布置不同屏蔽材料(钨、铅、钢和铝)以及屏蔽层位置和厚度对散射的影响。结果表明:当投影平面间距为40 cm并且屏蔽层厚度相同时,使用铅并将其布置在支撑架和侧视电离室之间时,对散射的屏蔽效果最好;投影平面间距分别为40 cm和80 cm时,散射可以分别降低至间距为10 cm时的55%和40%以下,安装2.5 cm的铅片可以将散射进一步降低80%。此研究为双投影系统针对散射校正的硬件改良和升级提供参考与指导。