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1.
在仪器研究领域中很少见到有关多值仪器的研究。提出了一种计算机化多值仪器系统结构图,介绍了其双CPU系统的性能指标和硬件设计思想及软件实现方法。根据设计的多值仪器不仅能产生多值函数信号,还可以测试多值逻辑电路的逻辑电平,分析多值逻辑电路的逻辑功能。多值仪器主要用来测试多值逻辑系统和模糊逻辑系统的性能。 相似文献
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模拟电路内建自测试故障特征提取与优化 总被引:1,自引:0,他引:1
针对电子装备中模拟电路内建自测试(built-in self test,BIST)的自动测试矢量生成需要引入数模和模数转换器,从而增加了硬件电路面积和测试测量误差,并增加了测试的复杂性、降低了系统的可靠性的缺点,提出一种模拟电路内建自测试故障特征提取与优化方法.该方法是利用电子装备中自带的微控制器产生的方波作为模拟电路的自动测试矢量,并针对此自动测试矢量产生的输出响应进行分析,提取多维故障特征并优化的算法.该方法能够使得自动测试矢量生成复杂性降低,优化故障特征并通过故障隔离度计算公式使得故障的可隔离程度提高,精简故障特征样本,从而减少测试的复杂性和代价.最后,通过实验验证了所提出方法的正确性和有效性. 相似文献
3.
对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入.为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求.本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出相应的模拟激励. 相似文献
4.
针对数字电路中信号线的单故障与多故障,本文首先建立电路测试的最优神经网络模型,然后设计一种两子群体竞争进化的遗传算法求网络能量函数的最小值点而获得给定故障的测试矢量,实验结果表明该方法能降低电路对应的神经网络规模并减少测试生成的计算量. 相似文献
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基于多特征模型模拟电路可测性指标分析方法 总被引:1,自引:0,他引:1
结合多信号模型与多特征分析方法,提出了一种新的模拟电路可测性指标分析方法——多特征模型分析方法.该方法根据电路输出节点的阶跃响应波形,提取出多个特征信号,并将所有的特征形成一个特征向量,然后转换成故障-测试依赖矩阵进行可测性指标分析.以双二阶低通滤波器电路为例,分别在电路参数名义值、故障值与容差变化情况下,对所提方法与传统故障字典法进行可测性指标分析对比试验.仿真试验结果表明,提出的方法不仅需要测点少,故障检测率与隔离率很高,而且适合于具有容差的模拟电路可测性指标分析. 相似文献
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《仪表技术与传感器》2017,(1)
研究了基于时钟的数字电路可重构内建自测试(BIST)设计。BIST不通过ATE设备加载测试矢量和检测测试响应,通过内置激励电路和响应分析电路来实现。在很大程度上降低了对ATE带宽的要求。当前电路集成度高,整体测试时可观察性和可控制性不理想,测试效果不佳,因此将大规模数字电路进行划分测试,通过基于时钟的可重构BIST设计,减少电路的测试矢量数,进而减小测试功耗。通过对可重构BIST各模块进行仿真和故障模拟验证,验证了设计的可行性。 相似文献
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