QE、LBIC和I-V对铸造多晶硅、单晶硅太阳电池的表征

分析了三种不同类型的商业太阳电池片-P 型铸造多晶硅太阳电池，定边喂膜生长硅(EFG)太阳电池 和单晶硅太阳电池的光谱响应（外量子效率EQE），光束诱导电流（LBIC）和暗电流-电压(I-V)，光照I-V 曲线。在I-V 特性测试中，利用太阳电池的二极管等效模型从测量数据中得出重要的电池参数，例如串联 电阻，并联电阻，二极管理想因子，暗饱和电流等。通过光谱响应和LBIC 测试，分析影响这些参数的可 能性缺陷。在铸造多晶硅、EGF 太阳电池中影响电池参数的主要缺陷是晶界以及位错以及材料中杂质，而 对于单晶硅来说，主要的却是存在于体内的金属杂质等。     

基于嵌入式技术的太阳电池I-V性能测试仪

设计了一款基于嵌入式技术的手持式太阳电池I-V性能测试仪.该测试仪以ARM920体系芯片S3C2440为核心,通过采集太阳电池电压、电流、光强和温度4路信号并通过对信号数据的处理,测得太阳能电池开路电压、短路电流、最佳工作点、串联电阻、并联电阻、电池效率等关键参数,并在触摸屏上实时显示I-V曲线.目前该项目已完成系统硬件设计与调试和测试界面程序的设计.调试结果表明系统工作稳定,系统功耗小.界面简洁、运行流畅、操作简单.     

太阳电池测试系统及其参数匹配优化研究

为了获得太阳电池的I-V特性曲线及特性参数,利用Visual C++语言开发出基于Windows平台的太阳电池测试软件系统,并对基于补偿原理的I-V测试电路参数匹配进行了详细分析。电路中串联电阻及桥式直流电源对电池的暗特性影响变化不大,但可使光特性I-V曲线发生显著变化。通过参数匹配的调整与优化,测量数据与电池的标准数据基本吻合,其误差仅为1%~2%,表明该测试软件系统满足实际使用要求,为电池性能分析提供了准确的依据。     

封装标准太阳电池性能及其与国际标准一致性的评价

基于国际电工委员会(IEC)国际标准分析了引起标准太阳电池量值传递误差的因素及其与国际标准的一致性。随机选取我国市场上销售的6种封装标准太阳电池,测量了它们的温度特性、光谱响应特性和表面反射特性。结果表明:电池的封装结构影响它们的冷却效果及温度的正确测量,从而导致温度和短路电流的不稳定性,其变异系数最高可达0.12%和0.04%。另外,有、无偏置光条件下的光谱响应特性均反映其光电流的光照强度线性特性,这里定义用光谱拟合度来衡量各封装太阳电池的光谱响应特性。采用改变入射角测量短路电流的方法分析了表面光反射对短路电流的影响,利用余弦函数拟合确定了由表面反射光所引起的短路电流的误差可达0.21%。本文的研究成果对光伏行业正确制造、选择和使用标准太阳电池具有指导作用。     

太阳电池测试系统的研制

为了获得太阳电池的基本性能参数,研究太阳电池动态行为及光电转换机制。我们采用labview8.5语言和光脉冲技术,研制了一套太阳电池测试系统。该系统实现了I-V曲线、电荷提取、光电压衰减、光脉冲扰动瞬态的电池行为测试,可以获得太阳电池的开路电压、短路电流、填充因子、光电转换效率等基本性能参数以及电子扩散系数、电子寿命、电子扩散长度等微观性能参数。本系统已在染料敏化太阳电池研究中获得了重要实验结果。     

基于嵌入式技术的太阳电池Ⅰ-Ⅴ性能测试仪

设计了一款基于嵌入式技术的手持式太阳电池Ⅰ-Ⅴ性能测试仪。该测试仪以ARM920体系芯片S3C2440为核心,通过采集太阳电池电压、电流、光强和温度4路信号并通过对信号数据的处理,测得太阳能电池开路电压、短路电流、最佳工作点、串联电阻、并联电阻、电池效率等关键参数,并在触摸屏上实时显示Ⅰ-Ⅴ曲线。目前该项目已完成系统硬件设计与调试和测试界面程序的设计。调试结果表明系统工作稳定,系统功耗小。界面简洁、运行流畅、操作简单。     

一种智能太阳电池测试仪的研究

智能太阳电池测试仪能以特定的太阳光模拟器，通过新颖的测试电路，精确地得到开路电压V∝、短路电流J∝等参数，并能快速的绘制I-V曲线与P-V曲线。能适应太阳电池单件与组件测试，具备自动换档功能。     

多晶硅太阳能电池的电子束辐照效应

为探索多晶硅太阳能电池的辐照损伤机理,采用实验和蒙特卡洛模拟方法,对多晶硅太阳能电池进行了电子辐照效应研究.运用CASINO程序模拟了不同注量的电子束在多晶硅太阳电池的射程和能量损失分布,从理论上分析太阳能电池受电子束辐照后的损伤情况.通过实验检测,进行缺陷太阳能电池EL图像及电池的伏安特性分析.结果表明,多晶硅太阳能电池受到电子辐照后,在电池内部产生缺陷,进而造成电池的电学性能退化,而随辐照注量增加,产生的缺陷越多,电学性能退化越大.     

电磁感应对硅光伏电池可视化检测技术的改性

硅光伏电池对检测技术的需求贯穿于研发、生产、服役和维修等过程。探索电磁感应(EMI)对光伏电池缺陷检测用电致热成像(ET)和电致发光(EL)的影响,并进行改性研究。在研究ET热辐射和EL光辐射原理的基础上,分析涡流生热对热辐射和光子辐射等物理过程的影响。提出基于电磁感应和电致热光辐射的光伏电池无损检测方法,实现了单晶硅光伏电池断栅、划痕、断角、杂质掺杂、表面涂层污染、隐裂、黑芯片和多晶硅光伏电池划痕、碎片等不同类型缺陷的可视化检测。通过实验对比分析了两个功率下的ET和EL成像,定性结果表明,电磁感应能够大幅提高ET和EL对缺陷的检测能力。     

半导体电火花加工爬坡式电流现象研究

对单晶硅电火花加工过程中的电流爬坡式上升现象进行了研究,结果表明,爬坡式电流主要是由加工过程中接触电阻的变化引起的,而接触电阻主要由高温区的接触面积决定。对爬坡式电流曲线的性质进行了研究,分析了温度、热导率和相变能量对接触电阻和放电电流变化的影响。最后,研究了电参数对加工效率的影响,结果表明采用大脉宽、高电压和小占空比能够大大提高加工效率。