首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 115 毫秒
1.
针对狭小空间曲表面粗糙度测量精度与效率不足的问题,对光源斜射入狭小空间曲表面形成的空间散射强度信号分布与曲表面粗糙度值之间的关系进行了研究,提出了一种基于斜射式散射法的光纤传感器粗糙度测量系统。首先通过实验构建了测量电压值与光入射角度、传感器与曲表面测量距离及曲表面曲率等参数之间的特性曲线,确定了该系统的测量范围;其次通过标定实验获得了粗糙度值和测量电压值的特性曲线,该特性曲线与理论分析结果相吻合,且呈单调性;最后利用该系统进行了狭小空间曲表面粗糙度的测量实验。研究结果表明,该方法具有一定的可行性,与触针法所获结果之间的误差小于5%,能够进行狭小空间曲表面粗糙度测量。  相似文献   

2.
针对超精密车削表面,提出一种基于多波长散射光特性的表面粗糙度测量方法,以铝合金为例对该方法进行验证。首先建立超精密车削表面形貌—散射光模型并开展验证实验,定量实验结果证明建立的散射光模型平均误差仅为1%。基于散射光模型研究刀痕纹理方向、刀痕宽度(每转进给量)和刀痕高度(表面粗糙度峰谷值)对镜像光反射率的影响,研究结果证明表面粗糙度是影响镜像光反射率的关键因素。在此基础上进一步建立300~700 nm波长范围内镜像光反射率平均值和表面粗糙度之间的定量关系,基于超精密车削表面的测量结果对该定量关系进行验证。所提出新方法获得的粗糙度测量结果与原子力显微镜测量结果吻合,最大相对误差仅为7.5%。  相似文献   

3.
本文基于时域有限差分算法,研究了微粗糙光学表面与多个镶嵌粒子的差值场光散射问题。将光学基片视为微粗糙光学表面,利用蒙特卡洛方法解决了光学表面存在粗糙度的问题,并将差值场散射理论加入到计算模型中,更好地分析了缺陷粒子的散射特性,将计算区域划分成上下两个半空间,建立了微粗糙光学表面与镶嵌多体粒子复合散射模型,并与矩量法计算结果比较验证了理论的有效性。运用此模型分析了入射角、镶嵌粒子尺寸、粒子间距、粒子个数等物性特征对微粗糙光学表面与镶嵌多体粒子差值散射场的影响。实验结果表明:在一定激光入射角下,以相同回波探测角度间距20°对光学表面进行测量能够有效地检测出缺陷粒子。本文结果为光学无损检测、光学薄膜、微纳米结构的光学性能设计等提供了理论依据和技术支持。  相似文献   

4.
研究了机械加工时由周期分量和随机分量叠加形成的粗糙表面的激光散射特性.基于Helmholtz-Kirchhoff积分定理并结合统计学相关理论,推导得到了上述粗糙表面的散射场强空间分布理论计算公式.根据推导得到的计算公式,计算了不同周期振幅和不同随机粗糙度情况下的散射场强空间分布,并分析了散射场空间分布的特征和形成原因.理论计算结果表明:在随机性粗糙度远小于激光波长时,周期振幅越大,散射场空间分布的“衍射条纹”现象越明显;而在随机性粗糙度和激光波长可比拟时,周期振幅在波长范围内的变化对散射场空间分布特征影响较小,不再有“衍射条纹”出现.在这种情况下,周期振幅的变化所产生的效果相当于是对散射场空间分布进行了调制.  相似文献   

5.
张秋佳  白桦 《工具技术》2007,41(9):80-82
提出以光散射理论为基础,利用光学技术实现表面粗糙度的在线测量。该测量系统可对范围在0.02~0.16内的表面粗糙度实现非接触无损检测。  相似文献   

6.
一种亚微米级表面粗糙度测量技术已经研制出来,其原理是基于物体粗造表面的激光散射。它是用激光二极管作为光源,用这种光电装置来记录从粗糙表面散射回来的光磁场变化。与表面粗糙度相对应的这种散射波段的光强分布是由二极管组成的线阵来记录的,并由一个单芯片微处理器来分析结果。通过测量几套不同加工过程的测试表面,文章提出了评价表面粗糙度的方法。  相似文献   

7.
戎逸民 《轴承》1999,(9):43-45
阐述光散射法在生产过程中控制表面粗糙度的应用。经过试验证明,光散射法测量表面粗糙度,测量结果是可信的,从而使测量管类零件内部的表面粗糙度成为可能。附图4幅。  相似文献   

8.
基于散射式近场探测原理,设计并搭建了散射式太赫兹扫描近场光学显微系统(THz s-SNOM),实现了纳米量级空间分辨率的太赫兹近场显微成像测量。该系统以输出频率范围为0.1~0.3THz的太赫兹倍频模块为发射源,通过纳米探针的针尖产生纳米光源与样品相互作用,并将样品表面的倏逝波转化为可在远场测量的辐射波。通过探针逐点扫描样品表面,同时获得了样品表面的形貌图和太赫兹近场显微图。该系统的显微分辨率取决于探针针尖的曲率半径,而与太赫兹波的波长无关。使用该系统测量了金薄膜/硅衬底样品和石墨烯样品的近场显微图,结果表明,近场显微的空间分辨率优于60nm,波长与空间分辨率之比高达λ/26000。  相似文献   

9.
唐永滋 《云光技术》2004,36(4):30-34
本文介绍一种在亚毫米范围内测量表面粗糙度的新技术。该测量技术以一个粗糙表面发出的激光散射为基础,以激光二极管作为光源的远心光路系统可以记录一个粗糙物体表面的散射先场。与表面粗糙度相关的散射带的光强分布可以用线性光子二极管阵列来记录并用单芯片微型计算机进行分析处理。用不同机械加工方法加工的工件表面的测量方法有很多种,但鏊别表面粗糙度的方法我们只建议使用一种。  相似文献   

10.
激光表面粗糙度测量仪基于激光散射的原理,采用体积小、寿命长的半导体激光器为光源,用光纤自准直棒处理半导体激光束,以远心光路结构接收经试件表面粗糙度调制的散射光带,在单片微机控制下,光电转换阵列将散射光带光能转化为电信号,经一系列处理后,由计算机求出反映表面粗糙度的光学散射特征值Sn。  相似文献   

11.
曲轴磨削过程中表面粗糙度的在线检测   总被引:2,自引:1,他引:1  
介绍了一种以光纤作为传感器的汽车曲轴表面粗糙度在线测量系统,采用反射光强与散射光强的比值获取表面粗糙度的方法,测量范围大,而且测量结果不受光源,环境状况和材料的影响,测量精度高,并针对磨削过程中测量存在的问题,提出了采用冷却液冲排铁屑和被污染的冷却液的解决方法。该系统对磨削过程进行了实际测量,得到了与实际相符的结果。  相似文献   

12.
Features of X-ray refraction (XR) in thin, weakly absorbing films of beryllium and carbon are considered for radiation with a wavelength of λ ~ 0.1 nm incident at a small grazing angle. It is established that an interference modulation of the angular diagram of XR appears due to the elastic wave scattering on defects of the film surface and the subsequent specular reflection from the film-substrate interface. The proposed experimental scheme of XR observation and the corresponding calculation model ensure determination of the film thickness at the sample edge to within ~1%.  相似文献   

13.
快速点磨削变量角度对表面粗糙度影响机理研究   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
基于点磨削周边接触宽度和点磨削表面粗糙度的数学模型,分析了磨削变量角度的变化对工件表面粗糙度的影响机理,完成了磨削变量角度影响工件表面微观几何特性的快速点磨削加工实验,并将基于点磨削表面粗糙度理论模型的计算值与实验结果进行了比较.结果表明:随着垂直点磨削变量角度的增大,接触区周边接触宽度沿工件轴向的分量减小,工件表面粗糙度增大.实验和计算结果基本吻合,并具有相同的变化趋势.  相似文献   

14.
As precision engineering surfaces are gaining in importance in industry, so are the surface quality requirements. These surfaces have rms roughness typically ranging from some nanometers up to a few micrometers. Although numerous techniques exist for rough surface characterization, from traditional line-scanning stylus profilometers to modern three-dimensional (3-D) measurement instruments, there is a need for a fast, area-covering technique. An efficient method for the characterization of smooth surfaces is elastic light scattering. At visible wavelengths, the limits on roughness range and spatial frequency range make the method unsuitable for characterizing engineering surfaces. By increasing the wavelength of the incident light from the visible to the infrared, elastic light scattering turns out to be applicable for engineering surfaces. We have used total integrated scattering at 10.6 μm wavelength to measure rms roughness up to two micrometers. In this paper, the instrument design and properties are reviewed. We also present results from measurements on ground steel surfaces. Excellent correspondence with mechanical stylus measurements exists for surfaces with rms roughness in the range from 0.1–1.7 μm. The technique shows potential for rapid quality inspection of engineering surfaces.  相似文献   

15.
在动态光散射技术中,光强自相关数据中信号噪声对测量结果的影响,主要取决于颗粒粒度反演算法。在多角度测量时,角度加权则成为左右噪声对测量结果影响的又一重要因素。本文在多角度动态光散射角度加权机理分析的基础上,研究了光强均值和迭代递归角度加权方法对测量信号噪声影响的抑制作用。结果表明,无信号噪声时,对于单峰小粒度分布,迭代递归方法加权对小颗粒粒度分布略有展宽;对于中、大颗粒,光强均值法进行角度加权所得的峰值误差略有增大;随着噪声的增加,迭代递归法加权所得反演结果的性能指标无显著变化,而光强均值法进行角度加权所得结果的峰值误差和分布误差均呈显著增大的趋势。306/974 nm标准双峰颗粒体系光强均值法和迭代递归法的反演峰值误差分别为0.170/0.121,0.092/0.097,迭代递归法峰值位置更准确,能够验证模拟数据的结论。迭代递归法通过各个散射角逐次反演和比较粒度分布重新计算角度权重,这种通过角度权重更新的“修正”作用,在很大程度上抵消了噪声导致的粒度分布误差,从而显现出抵御噪声影响的“去噪”性能。因此,在测量噪声较大的环境下,宜采用迭代递归方法进行多角度加权。  相似文献   

16.
根据车削动力学理论,先后求出前刀面和后刀面的接触应力,进而确定裂纹尖端应力强度因子;基于断裂力学理论,确定了尖端裂纹扩展角;分析表面形成微观机理,根据车削中刀具与工件的干涉关系,建立表面粗糙度理论模型,并利用被加工表面实际面积和投影面积比值K,提出脆性材料粗糙度理论修正模型;通过单因素氟金云母车削实验验证该模型精度。结果显示:随着切削速度、进给量和切削深度的增大,材料发生塑脆转变,表面粗糙度随着切削速度和进给量的增加先减小后增大、随着切削深度的增大而增大;在塑性去除情况下预测结果与实验值趋势相反,在脆性去除情况下理论预测值与实验值趋势相同。修正后粗糙度模型精度较修正之前明显提高,证明修正后模型是可靠的。  相似文献   

17.
入射角对激光散斑测量表面粗糙度的影响   总被引:2,自引:0,他引:2  
观察了当相干激光以不同入射角照射4个等级的平磨和外圆磨样块时记录的散斑图像中散斑强度的变化,通过分析可知对比度与表面粗糙度之间存在密切的关系,入射角又直接影响对比度,不同的入射角适合不同的加工方法和测量范围,因此找到合适的入射角可提高实验系统的精度和分辨率。  相似文献   

18.
A method for calibrating the parameters of a small angle X-ray scattering instrument using the diffraction ring of a standard sample is presented. A generalized geometric model for small angle X-ray scattering was constructed and detailed mathematical derivations presented to solve for the relevant instrument parameters, which were then used to convert two-dimensional small angle X-ray scattering data to standard curves. The method is valid regardless whether the detector photosensitive plane is perpendicular or tilted with respect to the beam. Small angle X-ray scattering was performed using standard calibration samples to validate the methodology.  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号