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一、引言从测量方式来看,表面微观轮廓的测量可分为接触式和非接触式。接触式很难用于起伏的表面轮廓测量。非接触式测量主要以光学方法为代表,如干涉测量法。但是,传统的干涉测量方法(如干涉显微镜)在提供的信息量、信息的可靠性以及提取信息的手段方面都存在一些固有的限制,无法获得表面轮廓曲线,干涉图的到读相当复杂费时,对于无规则条纹无法判断表面凹凸。随着光电技术和计算机技术的发展,在光干涉领域出现了条纹扫描技术、锁相干涉技术、移频干涉技术和相移干涉技术等,为表面轮廓测量新方法的研究,开辟了新的途径。本文介绍… 相似文献
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表面粗糙度和微观轮廓非接触测量的现状与技术水平 总被引:1,自引:0,他引:1
近年来,工件表面的非接触测量应用越来越广泛。本文介绍了表面非接触测量几种主要方法,并作了分析比较,表明了非接触测量技术在现代工业表面质量控制中的重要作用。 相似文献
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对表面粗糙度的非接触测量 总被引:2,自引:0,他引:2
应用光纤技术设计了一种新型光纤传感器。该传感器可用于表面粗糙度和微位移测量,本篇论述其在测量表面粗糙度方面的应用。基于光在粗糙表面的散射原理,采用散射光比法,能对Ra≤0.8μm 的粗糙表面实现快速、简便的非接触测量. 相似文献
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波长调谐移相干涉技术是通过改变光波长来计算相位的。为了减少可调谐激光器在变波长进行移相时光功率的随机变化对相位计算产生的误差,本文提出了一套光强实时反馈控制系统和同步校准方案。首先分析了光强在某一范围内的随机变化产生测量误差,并选用合适的光电检测设备搭建了一套光强控制系统。该系统能够将光信号转化为电信号,并通过PID来实现对光强的控制。实验结果表明,本系统能够将光强的变化范围控制在±0.002 mW以内,其响应速度达到600 kHz,已远远超过干涉仪CCD的取图速度。最后,对口径为50 mm的光学元件进行表面形貌检测,加入本控制系统后,面形精度的测量指标PV值和RMS值分别提高了1.53×10^-2λ和2.43×10^-3λ,表明本系统在高精度的光学元件检测领域具有重要的实用价值。 相似文献
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利用激光反馈来测量物体的三维形貌,根据物品表面的离焦量与激光器输出功率的关系,给出一种深度信息的测量算法,并建立一种物体三维形貌测量系统。系统扫描物体表面的每一个点,通过对每点最大电压信号的测量判断并记录扫描平台运行的距离,从而实现每点的深度信息测量,最终完成三维形貌测量。通过实验,完成了对样品局部的三维测量,证明了深度方向测量的可行性,并分析了实验中的影响因素。 相似文献
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光学相干层析技术在光学表面间距测量中的应用 总被引:1,自引:1,他引:0
搭建了适于镜头中光学表面间距测量的实验装置,用于非接触高精度测量镜面间距.该装置以光纤型时域光学相干层析系统为基础,通过光学表面的层析成像精确测量其相对位置.对样品扫描装置进行了改进,利用高精度导轨移动光纤准直器来移动成像范围,实现对不同深度光学表面的层析成像.利用实验测量系统完成了对空气间隙样品及已装调好镜头的光学表面间距的测量,其中空气间隙样品的测量值为6.026mm,用游标卡尺得到的对比测量值为6.02mm;对镜头关键参数空气间隙的测量值为10.750mm,其设计值为(10.7±0.03)mm.实验系统误差为3.871μm,测量灵敏度为10.5μm.结果显示该方法具有非接触、高精度、高灵敏度的特点. 相似文献
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表面微观轮廓的高分辨率光学测量方法 总被引:13,自引:8,他引:5
较全面地介绍了用于表面微观轮廓测量的几种高分辨率甚至可达亚纳米的光学测量方法及其最新进展.文中重点描述了以扫描共焦显微检测法、离焦误差检测法为代表的光触针法,以TOPO轮廓仪、Nomarski显微镜、外差干涉轮廓仪、双焦干涉轮廓仪和同轴干涉轮廓仪为代表的干涉测量法和以扫描近场光学显微镜及光子扫描隧道显微镜为代表的近场光学法三种适用于表面微观轮廓测量的光学测量方法,分别介绍了其工作原理、特性、发展现状及存在问题,通过对这些方法的对比和总结,阐述了表面微观轮廓纳米级光学测量的发展趋势. 相似文献
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成像系统在利用传感器记录图像信息时,只记录了强度信息而丢失了重要的相位信息。 传统的干涉相位恢复技术由于
需要满足严格的干涉条件,在使用过程中受到一定限制。 随着计算成像技术的蓬勃发展,以强度传输方程和相干衍射成像以及
在此基础上发展起来的相干调制成像、叠层扫描相干衍射成像为代表的非干涉相位恢复技术受到广泛关注,并被运用于光学检
测领域。 这类技术无需参考光,系统结构简单,可通过衍射强度图直接获得相位信息,在检测领域有巨大的应用潜力。 基于此,
介绍了几种典型的计算成像技术的研究现状与最新进展,同时讨论分析了各类方法的主要技术特点。 相似文献
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Optical interferometry is a powerful tool for measuring and characterizing areal surface topography in precision manufacturing. A variety of instruments based on optical interferometry have been developed to meet the measurement needs in various applications, but the existing techniques are simply not enough to meet the ever-increasing requirements in terms of accuracy, speed, robustness, and dynamic range, especially in on-line or on-machine conditions. This paper provides an in-depth perspective of surface topography reconstruction for optical interferometric measurements. Principles, configurations, and applications of typical optical interferometers with different capabilities and limitations are presented. Theoretical background and recent advances of fringe analysis algorithms, including coherence peak sensing and phase-shifting algorithm, are summarized. The new developments in measurement accuracy and repeatability, noise resistance, self-calibration ability, and computational efficiency are discussed. This paper also presents the new challenges that optical interferometry techniques are facing in surface topography measurement. To address these challenges, advanced techniques in image stitching, on-machine measurement, intelligent sampling, parallel computing, and deep learning are explored to improve the functional performance of optical interferometry in future manufacturing metrology. 相似文献
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从对称性的角度分析比较了几种常见光学系统结构对非相干成像的影响.首先,采用了二维点扩散函数和二维空间调制传递函数分析评价复杂光瞳光学系统,通过理论分析得出复杂光瞳分布的对称性影响着点扩散函数和调制传递函数的对称性的结论.最后,利用二维评价手段,针对几种常见的合成孔径光学系统结构,Golay3、Golay4、JWST和G... 相似文献