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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 125 毫秒
1.
本文实现了非接触式刀具测量仪X转动轴设计,包括非接触式刀具测量仪X轴驱动设计,用于传递两个回转轴扭矩的联轴器的转速及转矩计算,并完成了联轴器的选型,建立了基于SolidWorks的非接触式刀具测量仪X转动轴模型。通过实验验证,证明该结构具有良好的稳定性和灵活性。  相似文献   

2.
接触式R-test测量仪是一种利用3个接触式位移传感器测量安装在机床主轴上的精密测量球相对于工作台的三维位移的装置,可用于检测五轴数控机床旋转轴的几何误差、联动误差等。如何提高测量仪的标定和球心坐标计算精度是R-test开发的难点。为此,研究了接触式R-test测量仪的结构模型和测量坐标系构建方法,并在测量坐标系中利用机床直线轴的高精度微量移动构建测量仪的在机标定模型,并推导了球心坐标的精确计算模型。最后,通过开发样机进行实际测量,验证所提出方法的精度和可行性。  相似文献   

3.
石照跃 《工具技术》1993,27(4):41-43
本文介绍了美国和日本研制的两种新型非接触式齿轮测量仪。因为非接触式测头是非接触式量仪的关键技术所在,所以着重阐述了光学式测头的工作原理。  相似文献   

4.
为了提高接触式螺纹测量仪的测量精度,通过深入的误差分析,提出了针对高精度接触式螺纹测量仪的六自由度位姿误差的一种新的误差测量和补偿的方法。设计了一套适用于螺纹测量仪的标准规,用于综合测量探针相对于螺纹专用夹具的六自由度位姿误差。利用参数已知的精密标准规代替参数未知的被测螺纹进行扫描测量,建立螺纹测量仪的误差综合测量方程组,并代入受六自由度位姿误差影响的扫描数据,解方程组反求出探针运动空间的六自由度位姿误差,然后,在不更换探针和专用夹具的情况下,对被测螺纹进行扫描测量,建立螺纹测量仪的误差补偿方程组,并将综合误差测量所得的相关误差参数带入方程组,求解出被测螺纹的理想轮廓信息,完成高精度接触式螺纹测量仪的综合误差补偿。  相似文献   

5.
探讨了轴承振动测试技术概况,并通过试验分析对比了微型轴承接触式振动测试技术、非接触式激光振动测试技术、S0910加速度型振动测量仪3种振动测试技术之间的区别和联系。  相似文献   

6.
全虹枳 《工具技术》2009,43(9):I0008-I0008
2009年9月8日,天准“非接触式影像测量仪及新产品发布会”在北京理工国际交流大厦隆重举行。在发布会上,天准公司就“非接触式影像测量仪”、“天准最新产品——VMU高端型影像测量仪”、“天准公司概况”、“天准2010年市场推广计划”四部分内容与行业媒体进行了热烈的交流和讨论。天准公司总经理徐一华博士、销售部经理陈静女士,研发部经理杨聪先生以及市场部经理田天女士出席了发布会。  相似文献   

7.
密封轴承密封唇力测量仪   总被引:1,自引:1,他引:0  
李兴林 《轴承》1993,(7):35-39
密封唇力大小直接影响接触式密封轴承的摩擦特性。为了测量密封唇力,研制了密封唇力测量仪。用该测量仪,结合摩擦力矩试验机,可以测定密封唇与滑动面滑动摩擦系数。测量结果表明。密封唇力测量仪的研制是实用的。附图9幅,参考文献4篇。  相似文献   

8.
在许多应用场合,非常需要表面粗糙度轮廓的非接触式测量仪。已经提出过多种工作原理,并已制成测量仪器。然而,其中大多数测量仪仅仅提供出综合的数值结果,分辨率不高,测量范围较窄,测量速度较低。应用激光垂直位移表面粗糙度轮廓仪(LVDP)解决了这些局限性问题。  相似文献   

9.
《轴承》1976,(2)
文中列举了该厂用几种主动测量装置。1.两点接触式内径测量仪;它用于测量15~200毫米的内径,精度可达±2~3微米。2.小孔径内径主动测量仪,它用于测量万向节滚针套内径,精度可达±10微米。3.外径双触点电接触式主动测量仪,它用于测量万向节轴径,精度可达±10微米。附图3幅。  相似文献   

10.
精密自动定位器根据象散性原理研制而成。该定位器由非接触式光学传感头、移位控制驱动器以及精密执行机构三部分组成,已成功地用于非接触式纳米级光外差轮廓测量仪的调焦系统中,其定位精度可达±0.1μm。  相似文献   

11.
本文介绍一种新型的表面粗糙度测量仪,该具有精度高,便于携带,适应面广等特点。本文分析了该测量仪的测量原理,同时给出了该测量仪的电路结构,工作过程和技术指标。  相似文献   

12.
表面微观轮廓的高分辨率光学测量方法   总被引:13,自引:8,他引:5  
较全面地介绍了用于表面微观轮廓测量的几种高分辨率甚至可达亚纳米的光学测量方法及其最新进展.文中重点描述了以扫描共焦显微检测法、离焦误差检测法为代表的光触针法,以TOPO轮廓仪、Nomarski显微镜、外差干涉轮廓仪、双焦干涉轮廓仪和同轴干涉轮廓仪为代表的干涉测量法和以扫描近场光学显微镜及光子扫描隧道显微镜为代表的近场光学法三种适用于表面微观轮廓测量的光学测量方法,分别介绍了其工作原理、特性、发展现状及存在问题,通过对这些方法的对比和总结,阐述了表面微观轮廓纳米级光学测量的发展趋势.  相似文献   

13.
小型非球面轮廓测量仪的原理及应用   总被引:6,自引:3,他引:3  
介绍了自行研制的FLY-I非球面轮廓仪的设计以及测量软件数学模型,其实用精度为1~2 μm.光学元件的抛光精度取决于精磨精度,本实验室现有的LOH高精度铣磨机床经过对第1次精磨后的光学元件面形进行修正,2次精磨后其精磨精度可达到2 μm.研究了这一非球面轮廓仪以配合LOH铣磨机床,测量得到1次精磨后的面形误差数据,经过误差反馈进行2次精磨,以保证光学元件的精磨精度.通过多次实验以及数据处理、分析,证明自行设计、装调的非球面轮廓仪达到了设计的精度要求,可满足实验室,光学加工车间对小型非球面精磨阶段面形的检测要求,即精磨面形误差在2 μm以内,同时也可直接用于中低精度非球面光学元件的最终检测.  相似文献   

14.
A profilometer for diagnostics of secondary ion beams with Z ≥ 2 is described. Two methods of beam profile measurements are compared: a counting method, when pulses from each particle are registered, and a current method with channel-by-channel measurement of the integral current. The counting characteristics and the lifetimes of the profilometer for these methods of beam profile measurements are compared.  相似文献   

15.
光针式三维表面形貌测量仪的研制   总被引:1,自引:0,他引:1  
汪洁  谢铁邦 《工具技术》2006,40(11):58-60
研制了一种基于动态聚焦探测法的新型光针式三维表面形貌测量仪,该仪器可实现表面三维形貌的快速、无损、非接触测量。介绍了该仪器的测量原理、仪器结构、伺服机构的设计并给出了实测结果。仪器垂直测量范围为500μm;垂直方向测量精度可达0·5μm,分辨率为0·01μm。  相似文献   

16.
The operation principle of a newly designed ionization profilometer is described, and results of its tests with a 30-MeV/nucleon 40Ar ion beam are presented. The measured beam density distribution over its cross section is given. The space resolution of this profilometer is 1 × 1 mm. The image of this beam on a fluorescent screen is shown for comparison. It is determined that the minimum value of the beam current at which it is still possible to measure its profile is 3 nA. The measurements were performed at residual gas pressures of 2 × 10–3 and 7 × 10–3 Pa.  相似文献   

17.
激光干涉微轮廓测量仪   总被引:13,自引:7,他引:6  
基于Michelson干涉仪测量原理研制的微轮廓测量仪,载物平台采用步进电机和压电陶瓷(PZT)两级闭环驱动与定位,步进电机用于快速粗定位和扩大测量范围,压电陶瓷用于精密定位,重复定位精度为10 nm;测量光路采用共干涉系统,对机械振动,温度漂移不敏感;测量范围20 mm×20 mm×0.4 mm,纵向分辨率为0.32 μm,横向分辨率为0.5μm.  相似文献   

18.
By using an expectation-maximization maximum likelihood estimation algorithm to improve the lateral resolution of a recently developed non-interferometric wide-field optical profilometer, we obtain super-resolution bright-field optical images of nanometer features on a flat surface. The optical profilometer employs a 365-nm light source and an ordinary objective lens of a 0.95 numerical aperture. For objects of 100 nm thickness, lateral features about lambda/7 can be resolved in the restored images without fluorescence labeling. Current image acquisition rate is 0.1 frame/sec, which is limited by the brightness of the light source. With a brighter light source, the imaging speed can be fast enough for real-time observation of dynamic activities in the nanometer scale.  相似文献   

19.
比较分析已有钢轨测量仪器,研究了双L型测头五连杆钢轨外形测量仪,建立测量模型与逆解模型。针对不同测量规格钢轨的需要,对五连杆参数进行优化仿真。用Matlab模拟编码器采样过程,对原理误差、编码器量化误差进行计算。理论分析结果表明:仪器能测量钢轨轨头以及轨头两侧下颚的外形,测量范围宽,为钢轨磨耗的研究提供可靠数据。  相似文献   

20.
表面轮廓仪传递函数对超光滑表面粗糙度测量的影响   总被引:4,自引:0,他引:4  
表面粗糙度是表征光学元件表面质量的一个重要指标,这使得人们不断致力于改进表面粗糙度的测量技术,以提高其测量精度.然而很多实验表明,在对超光滑表面粗糙度进行测量时,对于同一个表面,不同类型的表面轮廓仪通常会给出不同的结果,这使得测量结果之间的可比性成为问题.针对这种情况,本文运用线性系统理论方法,分析了表面轮廓仪的带宽对表面粗糙度测量的影响,并用离散傅里叶变换方法计算了表面粗糙度测量值随表面轮廓仪带宽的变化.结果表明,表面轮廓仪的带宽对表面粗糙度测量有着重要影响,轮廓仪的带宽越宽,则给出的测量值越大,也越接近真实值.因此对两种不同类型的轮廓仪测得的结果一般不能直接进行比较,除非两者具有相同的带宽.  相似文献   

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