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为了提高太赫兹(THz)辐射空间特性测量设备的测量精度,基于探测器扫描采样方法,利用软件仿真配合实验测量的方式,研究了太赫兹辐射空间特性测试系统中存在的影响因素。采用锥形反射结构和太赫兹辐射吸收涂层来减少系统内反射对测量结果的影响,对太赫兹辐射辐照度空间分布进行更准确测量,并在此基础上研究了太赫兹衍射图案随衍射孔径变化的规律,对太赫兹辐射收发设备的孔径进行合理优化,为高精度的太赫兹辐射空间特性测试的研究提供参考。分析了光束宽度的不确定度来源,结果显示:消除反射影响后的系统内反射对测试结果影响较小,引入不确定度分量仅为1.56%,合成扩展不确定度为7.6%。 相似文献
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高质量的MOCVD外延材料是研制高性能半导体光电器件的基础.通过制作简单的量子阱结构,利用光荧光系统进行快速表征,得到Ⅴ/Ⅲ比不但会影响PL的强度,还会影响片内均匀性的结论.根据标准偏差统计法,确定了InGaAs量子阱外延的最佳Ⅴ/Ⅲ比为35.基于优化的外延参数,制备了波长为980 nm的半导体激光器,在15A脉冲电流下,腔面未镀膜时器件的平均输出功率为9.6W,中心波长为977.2 nm.研究结果为半导体激光器的研制提供了一种快速有效的方法. 相似文献
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