Al掺杂对ZnO薄膜结构和光学性能的影响

研究了Al掺杂对采用直流磁控溅射方法制备的ZnO薄膜结构及光学性能的影响。X射线衍射结果揭示薄膜具有良好的C轴择优取向生长特性,同时,衬底温度对它们的透射谱和荧光谱有着明显影响,所有薄膜都有大于86%的可见光透过率和陡峭的本征吸收边,但ZAO薄膜的光学透过率略低。Al掺杂导致了更宽的光学带隙,光致发光光谱显示ZnO具有较强的近带本征吸收峰和深能级发射峰,但Al掺杂使得深能级发射峰降低。随着衬底温度的升高,近带边吸收峰蓝移,与光学带隙Eg变化趋势一致。     

材料微观裂纹的光学低相干检测技术

以材料的微观裂纹为检测对象,基于扫频光学的低相干技术原理,设计构建了马赫-泽德干涉结构的低相干系统,采用平衡探测器接收干涉光信号,并通过LabVIEW软件平台实现数据的采集与存储,得到了叶片微观裂纹的二维信息,再据此对该裂纹进行了图像重构。系统的检测分辨率可达到15.6μm,该方法具有非侵入、检测分辨率高等优点。