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高纯钨中18个痕量杂质元素的光谱测定 总被引:2,自引:0,他引:2
本工作采用发射光谱测定了纯钨中硅、铝、锰、镁、锑、铅、铁、铬、钴、钛、铋、镍、钒、钼、锡、钙、镉、铜等18个痕量元素,并对载体、缓冲剂组成、电极形状、电流强度、预烧、曝光时间的选择进行了研究。本方法特点:快速、简便,测定灵敏度达到0.1—1ppm,相对标准偏差9.4—21.4%,回收率在78—123%之间,能满足科研和生产的要求。 相似文献
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胡鑫弟 《稀有金属材料与工程》1985,(6)
本文采用发射光谱载体分馏法,测定了钛及钛合金中Er、Y、La、Gd、Dy、Ce等六个微量元素,对载体、缓冲剂、电极形状、电流强度、曝光时间的选择进行了研究。本方法快速、简便,灵敏度为3×10~(-3)—1×10~(-1)%,相对标准偏差为8.3—19.9%,回收率为82—130%,能满足科研和生产的要求。 相似文献
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胡鑫弟 《有色金属材料与工程》1980,(Z1)
一、前言对锆合金的分析化学人们曾开展了大量的研究工作。松村哲夫,水野知己曾用点面火花放电及断续弧光放电技术对锆—2合金中主体及杂质元素进行定量测定,用此方法分析了所制造的一套Zr—2合金光谱 相似文献
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