Nb_3Ge超导薄膜化学组份的X射线荧光光谱法非破坏快速测定

本文以 X 射线荧光光谱法薄样原理为依据,采用人工合成滤纸片薄样标准,直接测定 Nb_3Ge超导薄膜的化学组份。并根据通用薄层判据,估算薄膜厚度的影响。Nb_3Ge 超导薄膜厚度在不大于1微米即试样面密度不大于800微克/厘米~2范围内,方法的相对标准偏差优于1%。     

多元合金组份测定的一种新方法——X射线荧光光谱比值计算法

近几年来,随着仪器的进步和分析技术的发展,X射线荧光光谱滤纸片法在合金薄膜、合金主成份、环保样品及稀土等的测定中得到广泛地应用.在合金主成份的测定中,以往均采用加入内标法以消除制样误差和仪器波动对测量的影响.由于加入内标元素不易选择或选择不当等原因,都会给方法的建立带来困难.为此,本文在文献[4]的基础上,以Nb-Ti-Ta三元合金为例提出了多元合金组份测定的新方法—比值计算法.该法的基本想法是,对于任何一个多组份体系的薄试样,例如滤纸片试样或合金薄膜固体试样等,如果选定其中一个组份作为内标元素,那末其他     

Dy-Ho-Er-Y-Tm稀土分离流程液的X荧光光谱点滴滤纸片薄样测定

采用 X 荧光光谱点滴滤纸片薄样法直接测定江西龙南低钇稀土全分离工艺扩大试验中的萃取液分组组分 Dy-Ho-Er-Y-Tm。方法快速、准确、制样简便,避免了粉末氧化物制样的繁琐化学操作和磨样压片等手续,大大缩短了分析周期,有力地促进了工艺研究的进程。本法分析范围宽,低含量的 Tm_2O_3,其测定下限为0.05%(绝对量为几微克),高含量的 Er_2O_3可达60%。方法精密度好,其变异系数除低含量的 Tm_2O_3为1.2%外,其余均优于0.8%。     

非钌金属阳极涂层组分的X射线荧光光谱法快速定量测定

一、前言金属阳极涂层组分测试,国外曾见有采用破坏涂层的原子吸收光谱法,及用机械方法剥落涂层再进行涂层组分和结构分析的X射线分析方法。本文由Birks导出的X射线荧光激发的基本理论公式推得在薄层样品中i元素的X射线强度Ⅰ:与涂层中该元素     

钛钼合金的X射线荧光光谱分析(溶液—滤纸法)

一、前言近几年来,随着X射线荧光光谱仪的灵敏度和测量精度的提高,溶液—滤纸法在有色金属合金、稀土、环保试样等的分析以及超导、磁泡等各种薄膜的非破坏测定中得到了广泛的应用。溶液     

X 射线荧光光谱经验系数法分析十五个稀土混合氧化物

本文拟定了用粉末稀释直接压片测定混合稀土氧化物中十五个稀土元素的X射线荧光光谱经验系数方法。详细调查了共存元素间的影响并提出了为消除这些影响求经验系数的一般原则,共求出200多个经验系数,由计算机进行校正。修改并增加了若干数据处理子程序。分析速度比无计算机的原单道谱仪快5～6倍,六个试样的全分析约需5小时。方法对各元素的测定下限均为0.5％,上限则为5％～70％。精密度为:含量<5％时变异系数<5％;含量>5％时变异系数为1～2％。     

冶金部有色系统发射光谱和X荧光光谱学术交流会在苏州召开

冶金部有色系统发射光谱和 X 荧光光谱学术交流会于1980年3月15日至20日在苏州召开。会议由上海有色金属研究所主办,冶金部所属研究院、所、厂矿;中国科学院所属有关研究所:大专院校;各省冶金局;光学仪器厂等共112个单位,152名代表出席了会议,共交流发射光谱资料104篇,