交流阻抗谱法检测热障涂层中热致氧化层的厚度

采用交流阻抗谱法对1000℃高温氧化的热障涂层材料(TBCs)样品进行分析。结果显示,氧化时间100 h后,致密氧化物层形成,其厚度随氧化进程增加且成分也由氧化铝向混合氧化物转变。通过等效电路模拟对交流阻抗测试结果进行分析,得到了热致氧化层(TGO)电容与厚度倒数的正比例关系,实现了对TGO层厚度的检测。