基于 DE-QPSO 算法的 MKRVM 对电容式RF-MEMS 开关的寿命预测方法

为进一步研究电容式 RF-MEMS 开关在实际应用中存在的可靠性问题,提出一种基于差分进化的量子粒子群算法(DE-QPSO)的多核相关向量机(MKRVM)方法对开关寿命进行预测。 首先采用了限制带宽经验模态分解(BREMD)来对实验过程 中获得的寿命数据进行去噪处理,提高数据的可靠性;其次采用 DE-QPSO 获取 MKRVM 的最优稀疏权重,并利用 MKRVM 算法 对此类开关进行寿命预测;最后利用实验获取的实际数据对所用方法的准确性进行测试。 实验结果表明,MKRVM 能在 0. 21 s 的时间内得到预测结果,所得数据的均方根为 3. 104 3×10 6 s,最接近原始数据的 3. 065 7×10 6 s;DE-QPSO 能在 0. 45 s 内得到优 化结果,方差为 7×10 -5 。 同时得到弹性系数在 4~ 16 N/ m 的范围内取值时开关寿命最长的结论。