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为满足PWM调速等脉冲电应力下电气绝缘材料劣化程度和剩余寿命在线评估需要,研究不同劣化程度下绝缘材料漏电流及其变化规律。首先利用脉冲电应力加速老化实验装置通过加速老化寿命实验测试绝缘薄膜试样在该加速应力条件下的平均寿命和最低寿命,然后依据寿命模型制作一批经过预老化的试样,通过降低脉冲幅值和保持加速因子频率不变的方法适当延缓预老化试样劣化速度,实验表明在观察区间内漏电流质心与初始漏电流的偏离度、漏电流与观察区间质心的离散度、漏电流的变化斜率都与劣化相关联,以这三个参数定义的绝缘劣化度可以较好的描述绝缘性能的劣化程度。 相似文献
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设计并实现了一种基于SOPC(System-on-a-Programmable-Chip)技术的嵌入式高密度电法仪采集系统,该系统通过在FPGA芯片上配置NIOSII软核处理器和相关的接口模块实现其主要硬件电路,并结合系统的软件设计同步控制三路24位ADC芯片进行采集数据,最后通过USB2.0接口芯片将采集的数据高速传输到PC机,从而实现了存储、实时显示和数据分析等功能。由于采用了SOPC、USB2.0和三通道同步控制技术,该系统具有设计灵活、数据处理速度快和扩展性好等优点。 相似文献
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显卡领域永远不缺乏亮点和主角,2007年暑期显卡市场就像是一部酝酿已久的大片.姗姗来迟的AMD-ATiRadeon HD 2600/2400与在此等候多时的nvIDIAGeForce8600/8500展开了DX10时代的第—轮真正的较量。显卡产品多固然是好事,但也给消费者带来了选购上的困惑和麻烦.只选对的不选贵的.永远是我ff]PCD倡导的务实消费理念。那么我们是向左A,还是向右N,抑或有第三种解决方案?在扑面而至的DX10显卡中.谁才是最值得我们关注的?带着这些疑问。请看PCD为你做如下分析。[编者按] 相似文献
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论述了微型计算机在整流桥测试分选机中的应用,并分别介绍了极性测试电路,VF测试电路,IR测试电路的测试原理,还介绍了微机控制系统的硬件和软件,该机采秀自动分时测量,对各项指标综合评定输出分选结果,广泛适用于半导体行业。 相似文献
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针对目前RFID读卡器的功耗大、RFID管理系统不灵活等缺陷,设计了一种基于MSP430系列单片机CC430F5135为核心的无线低功耗RFID系统。该系统具有功耗低、无线采集每个RFID读卡器数据、方便控制等特点。介绍了CC430F5135特点及其内部集成的RF无线通信模块,分析了系统的结构原理,并详细分析了RFID读卡器模块、RF无线收发模块和管理系统模块。实验结果验证了采用CC430F5135设计RFID系统的可行性,系统运行稳定可靠。 相似文献
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为揭示斜齿行星传动内啮合齿轮副的啮合特性,采用参数化建模方法和自底向上的建模策略,相继构建斜齿行星轮系的完整啮合和简化啮合三维有限元模型。通过设置内啮合接触对并施加恰当约束条件,分析传动中内啮合齿轮副的应力/应变,进而分析内齿圈轮缘厚度对啮合特性的影响。结果表明,各均布行星轮的应力状况不尽相同,且呈现出边缘接触现象,可通过修形予以改善;增大内齿圈轮缘厚度可降低内齿圈及各行星轮的最大应力/应变,提高齿轮强度。 相似文献