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991.
992.
本文概述了超硬磨料镀覆(涂覆)的发展过程及常用方法,分析了各种方法的优缺点,并针对目前在超硬磨料镀覆(涂覆)及相关制品方面存在的对镀覆种类使用不当的问题进行了辨析。本文由于篇幅问题分为两部分,在(Ⅰ)中主要介绍了超硬磨料表面电镀和化学镀镀覆Ni、Cu及部分利用物理方法镀覆Ti等金属的方法、性能及用途;在(Ⅱ)中介绍了超硬磨料表面镀覆(涂覆)Ti等强碳化物形成元素及刚玉等方法、性能及用途。、 相似文献
993.
采用放电等离子烧结方法研究了Ti3AlC2/TiB2复合材料的制备和不同TiB2含量(体积百分数)对Ti3AlC2/TiB2性能的影响。研究表明,在1250℃,30MPa压力和保温8min条件下烧结,可以得到相对密度达98%以上的致密Ti3AlC2/TiB2块体材料;在Ti3AlC2中添加TiB2能大幅度提高材料的硬度;Ti3AlC2/30%TiB2维氏硬度达到10.39GPa,电导率达到3.7×106S·m-1;当TiB2含量为10%时,抗弯强度为696MPa,断裂韧性为6.6MPa·m1/2,但当TiB2含量继续增加时,由于TiB2的团聚和TiB2抑制Ti3AlC2晶体的生长导致了材料的抗弯强度和断裂韧性的下降。 相似文献
994.
DEVELOPMENT OF Sr_(0.69)La_(0.31)F_(2.31)+SrSSOLID ELECTROLYTE SENSOR AND ITS APPLICATION 总被引:1,自引:0,他引:1
DEVELOPMENTOFSr_(0.69)La_(0.31)F_(2.31)+SrSSOLIDELECTROLYTESENSORANDITSAPPLICATIONZhai;YuchunMa;PingTian;YanwenXiao;FeiJi;Chun?.. 相似文献
995.
以不同氮离子辅助轰击能量制备CrN膜层.利用纳米压入仪及显微硬度计分别测试单晶Si片上膜层的硬度及断裂韧度K1C.使用XRD、XPS及EPMA分析离子轰击能量对镀层组织结构的影响。结果表明,采用能量较低的氮离子轰击得到的涂层,由于金属Cr的存在,涂层硬度虽有所降低,但断裂韧度K1C数值较高。选择较低的4keV辅助轰击能量,在M2高速钢基体上沉积CrN涂层,膜层在空气介质中表现出优异的耐磨减摩特性.但在水介质条件下,由于膜层接触区域的去钝化,再钝化使腐蚀和磨损相互加速,导致CrN膜层摩擦系数,尤其是磨损量明显高于基材。 相似文献
996.
本文利用纯铁粉末(α—Fe,纯度为99.9%)作触媒在国产六面顶压机上进行了金刚石单晶的合成,研究了高温高压条件下(5.7GPa,1370℃~1650℃),石墨碳一纯铁体系中金刚石单晶的生长特性。通过光学成像显微镜观测表明,合成出的金刚石单晶呈浅黄色,晶形完整,且多为八面体,粒度约为0.2~0.3mm。通过穆斯堡尔谱对晶体内部的杂质进行了测试分析,发现合成样品中除有少量的α—Fe外,其杂质的主要成分为碳化铁(Fe3C)。我们根据Fe—C相图对碳化铁形成的机理进行了分析。认为:由于Fe—C相互作用较强,在金刚石生长过程中,Fe元素容易以包裹体的形式进入金刚石内部。在降温的过程中,金刚石内部分离形式的Fe和C以碳化铁的形式出现。 相似文献
997.
采用浸渍还原法(I-R法)在Nafion离子膜上镀覆纳米Ag,并就AgNO3浓度对SPE电极镀覆纳米银的影响作了研究.研究表明采用I-R法可制得细致Ag镀层,有效增加Ag的分散度及电极的真实面积.在还原剂浓度为0.1mol·L-1,浸渍还原温度均为50℃及浸渍还原时间分别为40 min,60 min的条件下,调节浸渍液AgNO3浓度至3.5 mmol·L-1时,可获得致密、均匀的纳米级Ag/SPE电极.同时验证砂纸糙化的预处理有利于增加Ag的负载和附着力,有利于提高Ag催化层的有效面积. 相似文献
998.
用热丝化学气相沉积法(HFCVD)在蓝宝石基片上原位制备了MgB2超导薄膜,并用XRD、SEM和dc SQUIDs研究了基片温度和时间对薄膜相组成、表面形貌和超导临界转变温度Tc的影响.结果表明,HFCVD原位生长MgB2薄膜可以抑制MgO杂质的生成.基片温度在500℃以下,MgB4杂相容易出现;在500℃以上时,可以消除MgB4杂相;在600℃时,获得了纯单相的MgB2薄膜,其超导临界转变温度达到36 K.随基片温度升高,薄膜结晶性、致密度和超导临界转变温度提高. 相似文献
999.
1000.
Qin Lu 《Oxidation of Metals》1993,40(5-6):421-432
The initial oxidation of pure, polycrystalline-chromium metal with gas mixtures of oxygen-labeled water, H2
18O, and oxygen,16O2, at temperatures 300–730 K has been studied in situ with secondary ion mass spectrometry, SIMS. The fraction of O in secondary ion species: CrO+, Cr2O+, CrOH+, Cr2OH+, CrOH2
+, and Cr2OH2
+ originating from water and oxygen was found. The reaction of water and oxygen in the oxygen/water gas mixture with Cr is then revealed. The dissociation of water in its reaction with Cr in such a gas mixture was analyzed. Oxide growth on cleaned Cr surfaces during the reaction with H2O, O2 and H2O/O2 gas was also studied in situ with X-ray photoelectron spectroscopy, XPS. A correlation between a chemical shift in XPS and the OH content in the oxide is discussed. 相似文献