梳齿式静电微驱动器的边缘效应影响分析

针对梳齿式静电微驱动器横向静电力的边缘效应问题,采用基于保角变换的修正公式和有限元法分别进行建模分析。采用修正公式虽然可以减小分析误差,但不能准确捕获边缘效应对驱动器驱动性能的动态影响过程,而有限元法能够准确捕获横向静电力受边缘效应影响而发生突变的过程。通过有限元法分析得出,驱动器的结构参数及其工艺误差均对横向静电力的边缘效应有影响,而驱动电压对边缘效应的影响可以忽略;当梳齿接近完全交叠时,边缘效应的影响显著,驱动器驱动性能具有明显的非线性特征。     

温度应力对MEMS器件分层失效的影响规律

通过分析MEMS器件多层结构界面裂纹疲劳扩展的影响因素及温度应力对界面疲劳的影响机理,建立了温度应力对分层失效影响的理论模型,并建立了双材料结构层的有限元分析模型,研究了温度应力对界面裂纹疲劳扩展的影响规律。研究结果表明:在温度应力作用下,裂纹易沿界面方向扩展;温度幅值升高,裂纹疲劳扩展速率呈指数关系增大;裂纹从形成初期到扩展至分层失效的过程中历经较慢扩展、相对平稳扩展和快速扩展三个阶段。     

小子样方法在制导弹药储存可靠性评估中的应用

由于价格高、数量少,导致对制导弹药储存质量进行试验和评估时,不能进行大样本量的实弹射击。首先分析了评估制导弹药储存可靠性的可用数据,确定融合静态电参数检测数据和实弹射击数据,采用混合Bayes方法进行综合的评估;并针对某典型制导弹药,进行了具体的评估。为制导弹药储存可靠性评估提供了一种新方法,具有应用价值。     

高功率微波(HPM)对引信辐照效应的研究

进行了引信高功率微波辐照效应试验研究 ,分析了高功率微波对引信耦合方式 ,通过试验确定了高功率微波使引信早爆阈值与引信方位的关系 ,并对引信早爆原因进行了分析。其研究结果对引信电磁兼容性设计具有一定的积极作用。     

HALT在引信寿命评估方面的应用

通过对引信寿命评估试验和高加速寿命试验（HALT）的特点进行分析,针对目前引信寿命试验的不足之处,提出了利用HALT中的有效信息来改进引信寿命评估的方法,例如：通过选择积极的加速因子和估算试验所需的时间来改进加速寿命试验,使之能够快速、精确地评估产品的寿命;在引信的研制过程中,当样本量较小时,可以利用改进的加速寿命试验来进行引信寿命的评估,使之能够快速地评估引信的中位寿命。     

电发火系统电磁危害检测方法研究

通过对电发火系统电磁辐射危害的分析,介绍了当前国内外电发火系统电磁危害检测方法的研究状况,并进行了具体的分析.提出一种用新型白光干涉型光纤测温仪测量电点火系统电磁危害的方法.对解决现代武器装备电磁兼容的重要问题,即电引爆武器在电磁辐射场强下的安全性和可靠性有参考价值.     

电爆装置电磁危害检测系统设计--串口控制和测试软件的实现

本文详细介绍了与电爆装置(EED)电磁危害检测装置配套使用的测控软件的设计,主要包括计算机和信号调理器之间串口通信的实现,以及利用数据采集卡进行数据采集部分编程.本系统的测控软件分为控制软件部分和功能软件部分,控制软件主要完成对硬件(调理器、数据采集卡)的设置,功能软件主要完成测试功能.经过实际测试的检验,它较好的满足了测量需求,为电爆装置电磁危害检测提供了有力的帮助.     

某制导弹药电子延时器长贮退化原因探析

通过对某制导弹药电子延时器进行失效模式分析及仿真模拟,探寻可能出现的长贮失效模式与原因。以自然贮存9年的电子延时器为样本,制订了步进温度应力加速退化试验方案,开展试验并对试验结果进行分析,得出可能导致产品退化的各种原因。     

典型电容近炸引信发火控制部件储存寿命预测方法

针对库存典型电容近炸引信发火控制部件储存性能退化研究较少、储存质量变化规律尚不明确的问题,提出了基于储存性能试验的引信发火控制部件寿命预测方法。该方法提出了基于储存性能试验的寿命预测一般步骤,介绍了性能退化分布模型,并结合发火控制部件组成结构特点和相关性能要求,对在北方无温湿度控制的自然条件下,储存2~8年有包装筒密封和无包装筒密封的引信发火控制部件开展性能试验,从而确定发火控制部件的性能退化敏感参数,最终采用威布尔分布模型对发火控制部件进行寿命预测。预测结果表明,该发火控制部件有包装筒密封状态下储存寿命为20.707年,无包装筒密封状态下储存寿命为20.165年。     

发射装药保温时间仿真计算

利用热传导理论对发射装药保温过程中的传热特性进行分析,通过传热学计算和测试手段确定有关参数。利用三维实体建模软件Solidworks建立发射装药实体模型,通过ANSYS有限元仿真分析软件对发射装药内部温度传递变化规律进行仿真,得到了发射装药温度场分布与保温时间的关系及发射装药保透所需时间。结果证明了现行军标规定保温时间确有很大压缩空间。