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用扫描电镜-能谱仪研究了甘蔗茎皮层的外表面和横切面中Si等元素的含量及分布.结果表明,皮层外表面不同形态区域中Si等元素的含量不同,颗粒物是Si高度密集的部位,Si的含量高达58.23%;平坦处的Si含量较低,为44.42%;颗粒物块及其连接处中所含Si的原子数相同,但所含C、O元素的原子数则相反.横切面中,皮层中Si的密度高且分布呈外层低里层高的规律性;维管束及薄壁细胞中Si的含量较低且分布较均匀,皮下纤维层中Si的含量最低,具有明显不同于麦秆的特点.实验结果预示不同部位中硅化物的组成及元素化学状态的差异. 相似文献
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