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介绍了用有限元方法计算半导体方块电阻四探针测试中二维点电流势场的模型并且证明了其正确性。由于有限元方法对边界没有限制,该方法为方块电阻测试中精确确定边界修正系数,更重要的是为微样品测试结构确定提供直接明了的理论依据。 相似文献
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本文介绍了一种F级高云母含量云母带,它的主要特点是云母含量高达48%以上,具有良好的长时间耐电热老化性能,适用于高压电机主绝缘多胶模压工艺要求,该云母带的应用对提高电机绝缘水平和延长电机使用寿命具有重要意义。 相似文献
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西门子六氟化硫(SF6)绝缘环网柜(RMU)是专门针对恶劣环境条件下的运行而设计和测试的,并且,自1983年开始,通过成千上万台环网柜的使用已验证其运行性能相当可靠。国际标准只为特殊和恶劣环境条件下运行的开关设备如何进行测试以及期望使用寿命超过30年的开关设备必须考虑哪些风险提出有限的建议。为积累现场经验,我们对全球各地不同区域运行20年以上的开关设备进行测试。这些测试包括诸如介电强度测试、机械测试或SF6气室内部的露点测定。其中一台被检验的24kV环网柜(RMU)1985~2000年一直在挪威西南海岸的盐碱环境中使用,而且在移入临时安装用变电站之后,从2000年开始一直被用于多沙尘和车辆往来频繁的施工现场环境。2004年7~8月在德国法兰克福中压测试实验室进行相关研究。进行下列详细测试:检查气体的状态;检查电气触点的状态;介电强度测试,包括局部放电测定;机械测试;对SF6气包和机械零件进行外观检查,如腐蚀情况。检验显示,一次电路、SF6容器和其他材料都处于良好状态。绝缘气体本身的潮湿度最低,露点在-30℃以下。从这次检验中我们得出结论:西门子环网柜(RMU)的期望使用寿命可达30年以上。同时表明,所选用的设计以及根据IEC60932标准进行的高强度老化试验非常适用于验证恶劣环境条件下开关设备的耐用性。 相似文献
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研究了较大功率激光辐照对PV型Hgl-xCdxTe探测器的损伤效应.测量了损伤前后探测器的饱和信号输出,得出了pn结退化造成其性能下降的结论.根据pn结的并联电阻模型解释了损伤后探测器对背景辐射的响应率下降现象以及损伤前后激光辐照下饱和开路电压几乎相等的现象.研究了其pn结退化造成的探测器响应率、探测率等性能参数的变化,以及由于Hg原子的逃逸和扩散给器件性能带来的影响. 相似文献
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制备了导电聚苯胺锂基润滑脂(简称PANI脂)和铜基银镀层材料(简称银层材料)。采用摩擦磨损试验机考察在无载流、载流及边界润滑条件下,铜基体材料(简称铜基材料)和银层材料的摩擦磨损性能。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和电子能谱(EDS)对银层材料晶相及其表面磨斑形貌进行表征。结果表明,载流条件下,PANI脂润滑试验时的银层材料不仅具有良好的减摩抗磨性能,而且导电能力更强,其优异的减摩和抗磨性能归功于摩擦表面的保护膜和电流热效应引起的表面软化双重作用。 相似文献
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汪明燕 《电子制作.电脑维护与应用》2005,(9):34-35
Muitisim8.0界面友好、操作方便。尤其将原Multisim7版本中的电阻、电容和电感的Component栏增加了Filter栏,使调用元件时更方便;同时,将原Muitisim7版本电阻单位的标注“ohm”,可通过Font设置成“Ω”;电容单位的标注“μF”改成了“μF”;电感单位的标注“μH”改成了“μH”,更贴近实际。在功能上基本和Multisim7版本一样,使得Multisim7版和Muitisim8.0版互相兼容。 相似文献
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