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等离子激发是了解材料的电子态性质的一个窗口。电子能量损失谱是研究材料内等离子激发的一个极好的实验工具[1] 。常见的电子能量损失谱主要是通过研究等离子激发的能量和强度来分别确定材料内部价电子的体密度和样品的厚度 ,比较少的是关于等离子激发能量与散射角度的关系的研究[2 ] ,即物理意义上的等离子激发的色散关系。色散关系和材料的维度及电子与电子的相互作用有关[3 ] ,故研究低维材料激发态的色散关系是一个十分有意义的工作。我们在这里报导测量单根硅纳米线等离子激发色散关系的初步工作。我们选择硅纳米线作为实验体系是因为… 相似文献
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电学测量需要有激励源和测试器,激励源对被测单元输入信号,测试器测量被测单元的输出信号,典型的成对互补测量仪器有任意波形发生器和数字示波器,扫频跟踪发生器和频谱分析仪等。多年来,数字电压表大量采用数字电路,前端的模拟输入变换使用A/D转换器,分辨率在12位以上。同样,数字电压/电流源亦采用D/A转换器,而且分辨率更高。数字电源电压表就是数字电源和数字多用表的结合,非常适合在精密测试系统中要求电压/电流源和数字电表有紧密结合的应用。典型产品是吉时利公司的2400系列电源电 相似文献
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本文首先对采用各种光学方法进行三维形状测量给以综述。然后我们集中阐明结构光学技术,其中包括各种光学配置,图像捕获技术,数据处理、分析方法和优缺点。文中列举了若干工业应用实例,还讨论了需要进一步研究开发的重要领域。最后提供的是有关三维形状测量的文献目录,尽管它并不很详尽。 相似文献
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干涉条纹图估测基线的方法研究 总被引:1,自引:1,他引:0
根据SAR干涉测量原理,提出了利用干涉相干条纹估测基线的方法,并以欧洲空间局资源卫星1号和2号携带的SAR系统在中国新疆伽师试验区获取的串接式(Tan-dem)干涉测量数据为数据源,对提出的方法进行了验证,结果表明,该方法能有效地估测基线,并弥补不能有效获取卫星轨道参数时,对基线进行估测的缺陷,该方法尤其适用于差分干涉测量的研究。 相似文献
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多光谱热成像仪(MTI)是一个综合性的研究与发展项目,它包括向上向前模型化与分析、卫星系统设计、制造、装配与测试、在轨操作以及实验与数据分析。该卫星是设计用为从15个分布于地0.45μm至10.70μm范围的光谱波段中收集经过辐射度较正的中分辨率图像的。该卫星的有效载荷部分包括成像系统部件、相关的电子学盒子以及有效载荷支持结构。成像系统包括一个三反射镜消像散离轴望远镜、一个单体低温制冷焦平面组件、一个机械制冷器和一个星上定标系统。有效载荷的电子分系统包括图像数字转换器、实时图像压缩器、固态记录器、定标源驱动器、制冷器温度控制器以及振动控制器。有效载荷支持结构通过机械方法将所有的有效载荷部件结合成一体,并提供一个用于连接卫星运载舱的简单的四点接口。有效载荷的所有部件已经制造完毕,并已经测试和总装。 相似文献
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氧化钨物理特征的测量 总被引:2,自引:0,他引:2
对铵钨青铜(ATB)、氢钨青铜(HTB),紫色氧化钨(TVO)和蓝色氧化钨(TBO)四种氧化钨粉的氮气吸附/脱附等温线数据的分析。可以得出其表面积,微孔体积,微孔分布,中孔体积,平均孔径和分数维数。吸附/脱附等温线数据的分析表明,TVO粉末具有最大的中孔体积,最小的微孔体积,最窄的孔径分布,最小的分数维数和最大的平均孔径,其有利于氢还原制取超细钨粉,而不利于掺杂工艺,HTB粉末具有最大的微孔体积,最宽的孔径分布,最高的分数维数和最小的平均孔径,对于掺杂工艺来说是有利的,ATB和ABO的上述参数界于TVO和HTB之间。结果表明,利用吸附/脱附等温线来研究氧化物的物理特征是一个很好的方法;在氧化钨用于氢还原工艺和掺杂工艺之前必须研究其物理特征。 相似文献
169.
介绍了如何将改造后的全站仪应用于直升机悬停性能测试的方法。经真实飞行试验检验,该方法理论严密,方案合理,改装简单,操作方便,成本低廉。较之原始的摄影测量法有无法替代的优点。 相似文献
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