Ring-like testing of digital circuits

Here we propose a new approach to the testing of digital devices, which can potentially save diagnostic hardware. An example is given for testing combinational devices. Estimates are given for reliability and hardware complexity, and an algorithm for designing operability tests is described.     

军用飞机PHM技术进展分析及问题研究

在研究故障预测与健康管理(PHM)技术体系构建、数据采集与运用、系统状态监测与故障预测、验证评估等发展现状的基础上,结合新阶段装备PHM工程应用现状,从装备测试性设计与验证、多源故障信息交互与管理、寿命预测与维修支持、验证评估及标准制定等方面分析军用飞机PHM技术面临的瓶颈问题,并指出应重点开展包括测试性试验技术、智能信息处理与融合技术、航空装备与信息标准化管理技术、数据挖掘与平台构建技术等方面的研究,最后对我国PHM技术的发展给出思考与建议。     

基于多信号模型的综合化航电系统综合诊断算法设计

针对现代航电系统综合化程度高、故障现象复杂多变、故障诊断能力不足的现状,分析了综合化航电系统的故障特征,总结了其故障诊断算法的设计要求,并在此基础上设计了基于多信号模型的故障综合诊断算法,具体包括:建立了算法的总体架构,针对机上LRU/LRM级、子系统级和系统级诊断以及在线诊断的特点分别设计了适用的诊断算法模块,特别针对子系统与系统级诊断,设计了防虚警处理算法、快速诊断算法和精确诊断算法,以解决航电系统机内测试设备(BITE)长期存在的虚警难题,满足不同BIT工作模式下故障诊断的要求;建立了多层次诊断架构下的综合诊断流程,规划了各诊断模块的组成、功能、工作原理和输入输出数据。梳理了综合诊断算法设计的工作项目及其接口关系,给出了航电系统集成研发模式下综合诊断算法的设计流程,为工业部门在研制阶段进行航电系统综合诊断算法的设计开发提供支持。     

装配车间工业工程改善的实践——以S公司为例

以S公司的装配生产车间为研究对象,通过综合运用工作研究及其相关的理论和方法来优化企业的生产装配流程,消除和减少不需要、不合理、不经济的工艺与流程.工作研究是改善企业生产作业流程,优化装配工艺操作,减少浪费,提高产品质量和资源利用率的工业工程改善重要手段.按照工位的作业特点,用工业工程方法重新分配作业,使作业内容的分配合理化,使得后桥制动角总成的总加工工序减少23%,周程时间节省33%,双手作业工序减少31%,标准作业时间减少17%,最终达到了提高企业生产率,降低成本,提高质量的目的.     

空间电子设备电路板可靠性可测试性设计检查

为了提高空间电子设备可靠性和可测试性设计的工作质量,采取在印制电路板生产前对其进行可靠性和可测试性设计检查的方法,可以提前在产品研发设计阶段发现可靠性和可测试性设计的不足,有针对性的加以改进,就能进一步提高产品质量与可靠性。列举了印制电路板可靠性可测试性设计检查要点,具有实际工程应用价值。     

基于层次模糊决策的雷达装备测试性综合评估

针对目前雷达装备定型、交付验收时缺乏系统有效的测试性评估方法的问题,提出了基于层次模糊决策的雷达装备测试性综合评估模型。首先,从现代雷达装备测试性设计的根本任务和实现目标出发,建立了较为全面的雷达装备测试性评估指标体系。在此基础上,将层次分析法与模糊数学的方法引入到测试性评估中,以某型雷达装备验收时测试性定量验证和定性检查情况为例,对雷达装备测试性进行了综合评估。结果表明,该评估模型简单、实用、有效,为复杂武器装备的测试性评估提供了新思路。     

多状态系统测试建模与测试点选取方法

为解决测试性设计过程中的退化状态测试问题,提出了基于结构和功能的多状态系统测试建模与测试点选取方法。首先,结合多状态系统中对性能状态的描述,明确了以结构和功能为对象的多状态系统测试建模的总体思路,并对模型中的结构、功能和测试相关描述进行了分析;其次,对状态测试问题进行了分析,并对单个测试能够检测的状态集与测试集组合能够检测的状态集的计算方法进行了研究,并提出状态检测率的概念对系统状态的测试指标进行量化;最后,考虑到系统测试性设计与分析中包含故障的测试性问题,结合故障检测率、故障隔离率和状态检测率,提出了测试代价约束下的多状态系统测试点选取方法。结果表明：多状态系统测试建模方法不仅能够对故障的测试性进行分析还能够对退化状态的测试性进行分析;相较于二态系统测试选择方法得到的最佳测试集,在测试代价限制的情况下,多状态系统测试选择方法得到的最佳测试集能够获得较高的状态检测率;在测试代价无限制的情况下,多状态系统测试选择方法得到的最佳测试集不仅能够获得较高的状态检测率,还能获得与二态系统相同的最大故障检测率和故障隔离率。     

GTPP—一种全局测试点插入算法

本文提出了一个全局测试点插入算法。该算法在可测性设计以前首先分析了电路的可测性，得到测试点候选集，该集合中每一个点都是对该电路的可测性可能有很大改进的测试点。文中首先采用选择跟踪的思想得到全局测试点插入的初始界限，然后将测试点插入算法形式化为一个要枝界限的问题，得到了一种全局的测试插入结果，文中的算法是基于ＳＣＴＭ测试提出来的。     

软件可测试性分析方法的研究

软件可测试性在软件质量度量中占有的位置越来越突出，各种度量方法也在不断发展成型。本文对现有的软件可测试性分析方法进行了讨论,并对每一类方法进行了分析比较。     

Layout Driven Selection and Chaining of Partial Scan Flip-Flops

In an era of sub-micron technology, routing is becoming a dominant factor in area, timing, and power consumption. In this paper, we study the problem of selection and chaining of scan flip-flops with the objective of achieving minimum routing area overhead. Most of previous work on partial scan has put emphasis on selecting as few scan flip-flops as possible to break all cycles in S-graph. However, the flip-flops that break more cycles are often the ones that have more fanins and fanouts. The area adjacent to these nodes is often crowded in layout. Such selections will cause layout congestion and increase the number of tracks to chain the scan flip-flops. To take layout information into consideration, we propose a matching-based algorithm to solve the problem. First, an initial placement will be performed before scan flip-flops are selected. Then, iteratively, a matching-based algorithm taking the current layout into account is proposed to select and chain the scan flip-flops. Experimental results show that, on the average, our algorithm can reduce 8.1% area overhead as compared with the previously proposed methods that do not utilize the layout information in flip-flop selection.