全文获取类型
收费全文 | 328篇 |
免费 | 18篇 |
国内免费 | 20篇 |
专业分类
电工技术 | 10篇 |
综合类 | 30篇 |
化学工业 | 10篇 |
金属工艺 | 1篇 |
机械仪表 | 10篇 |
建筑科学 | 6篇 |
矿业工程 | 1篇 |
能源动力 | 4篇 |
水利工程 | 4篇 |
石油天然气 | 7篇 |
武器工业 | 4篇 |
无线电 | 178篇 |
一般工业技术 | 12篇 |
冶金工业 | 1篇 |
原子能技术 | 19篇 |
自动化技术 | 69篇 |
出版年
2024年 | 1篇 |
2023年 | 2篇 |
2022年 | 5篇 |
2021年 | 1篇 |
2020年 | 9篇 |
2019年 | 3篇 |
2018年 | 1篇 |
2017年 | 5篇 |
2016年 | 10篇 |
2015年 | 2篇 |
2014年 | 15篇 |
2013年 | 8篇 |
2012年 | 15篇 |
2011年 | 22篇 |
2010年 | 20篇 |
2009年 | 20篇 |
2008年 | 27篇 |
2007年 | 23篇 |
2006年 | 28篇 |
2005年 | 21篇 |
2004年 | 17篇 |
2003年 | 26篇 |
2002年 | 9篇 |
2001年 | 18篇 |
2000年 | 10篇 |
1999年 | 4篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 4篇 |
1996年 | 8篇 |
1995年 | 2篇 |
1994年 | 8篇 |
1993年 | 2篇 |
1992年 | 4篇 |
1991年 | 2篇 |
1990年 | 2篇 |
1989年 | 2篇 |
1988年 | 1篇 |
1987年 | 1篇 |
1986年 | 1篇 |
1985年 | 1篇 |
1984年 | 2篇 |
排序方式: 共有366条查询结果,搜索用时 31 毫秒
51.
归纳了频繁子图挖掘方法的处理流程,分析评价了频繁子图挖掘的典型算法:广度优先搜索和深度优先搜索的频繁子图挖掘算法,概述了频繁子图挖掘研究的平台--图模型及其产生器,并对频繁子图挖掘方法未来研究方向进行了展望. 相似文献
52.
Bly Cells的红外动态景象产生器的响应速度和空间分辨率是制约其应用的两个关键因素,并由其主要部件--转换薄膜的动态特性和空间特性所确定.以Bly Cell型薄膜红外动态景象产生器转换薄膜为研究对象,根据转换薄膜的工作原理,建立了它的动态温度分布模型,计算了其在环形脉冲源作用下的不同时刻温度场及其温度变化特性,分析了转换薄膜的动态特性和空间特性.计算结果表明,导热系数和密度越小,薄膜的表面发射率越大,则其时间响应越快;导热系数、密度、发射率越小,空间分辨率越高. 相似文献
53.
基于MAX038的单片机多波调频信号产生器的设计 总被引:5,自引:0,他引:5
文章介绍了MAX038的特性和功能,以及由单片机、MAX038和D/A转换器构成的多波形数字调频信号产生器的系统结构、控制方式、软件设计和参数配置。单片机通过D/A转换器对MAX038的控制实现频率和占空比的调控,在0.1Hz~12MHz内产生三角波、正弦波和方波,可应用于各种电子测量和控制场合。 相似文献
54.
55.
本文设计了八通道信号产生器,以适应通信对抗装备的发展。JESD204B是一种高速串行总线协议,主要应用于转换器与FPGA的数据传输接口,和并行数据总线相比有着明显的优势。AD9154是一款具有JESD204B接口的四通道模数转换器(DAC)。现场可编程门阵列(FPGA)可产生数字波形信号,其高速串行收发器接口可通过JESD204B总线协议将波形数据发送给AD9154芯片产生模拟信号。使用2片AD9154与1片FPGA为核心器件,完成硬件电路和软件程序设计,最后测试了产生信号的技术指标。 相似文献
56.
基于FPGA的GPS C/A码仿真器的设计与实现 总被引:1,自引:0,他引:1
利用FPGA设计并实现了GPSC/A码仿真器,它可以广泛的应用于GPS接收机中.详细说明了设计原理并对其中的关键部件码产生器IP核和码控制器IP核进行了分析,同时阐述整个应用程序的流程以及两个IP核的驱动程序的开发,最终仿真并验证了其结果,它可以产生任意GPS时间以及卫星号的C/A码. 相似文献
57.
58.
在搭建层次化验证平台时,产生器是一个重要的模块,它能否根据需要产生随机向量直接关系到测试平台的可靠性.传统的激励产生方法由于是用人工生成的,效率低且性能也不令人满意,已经不能满足当前大规模芯片验证的需求.介绍了一种基于事务的随机向量产生器,它把基于事务的验证策略和随机向量产生器结合起来,通过产生受限的随机数据,提高了激励的覆盖率.与传统的向量产生方法相比,基于事务的随机向量产生器能够使验证平台更可靠,同时减轻了验证工程师的工作,加快了芯片上市的时间. 相似文献
59.
60.
逻辑内建自测试(logic buit-in self-test,LBIST)是一种可测试性设计技术,利用芯片、板级或系统上的部分电路测试数字逻辑电路本身。LBIST对于许多应用来说至关重要,尤其是国防、航空航天、自动驾驶等生命和任务关键型的应用。这些应用需要执行片上、板上或系统内自检,以提高整个系统的可靠性及执行远程诊断的能力。该文首先给出了常用的LBIST分类,并描述了经典的,也是工业界应用最成功的LBIST架构——使用多输入特征寄存器和并行移位序列产生器的自测试架构;其次,对国内外研究团队、研究进展进行了总结;再次,详细剖析了LBIST的基本原理、时序控制、确定性自测试设计、低功耗设计、“X”容忍等关键技术点,列举出了主流的LBIST商业工具,并逐一分析了其软件架构和技术特点;最后,讨论当前LBIST技术仍需进一步解决的问题,并进行展望。 相似文献