On GID-Testable Two-Dimensional Iterative Arrays

A new approach is presented for easily testable two-dimensional iterative arrays.It is an improvement of GI-testability (Group Identical testability)and is referred to as GID-testability (Group Identical and Different testability).In a GID-testable two-dimensional array,the primary x and y outputs are organized into groups and every group has more than one output.This is similar to the GI-testable arrays.However,GID-testability not only ensures that identical test responses can be obtained from every output in the same group when an array is fault free,but also ensures that at least one output has different test responses (from the other outputs in a group)when a cell in the array is faulty.Therefore,all faults can be detected under the assumption of a single faulty cell model.It is proved that an arbitrary two-dimensional iterative array is GID-testable if seven x-states and seven y-states are added to the original flow table of the basic cell of the array.GID-testability simplifies the response verification of built-in-self-testing in a way similar to PI-and GI-testability^[6-9].Therefore,it is suitable for BIST design.     

超声测强法混凝土灌注桩质量检测中的应用探讨

超声测强法不能普遍应用于大直径混凝土灌注桩的主要困难是因为仪器零读数和桩体内部声测管间距难以准确确定，本文根据工程实践经验，提出了解决超声法测定大直径混凝土灌注桩桩体混凝土强度的方法，具有一定的实用价值。     

超声检测研究的若干进展

超声检测技术在近些年来得到了较大的发展，这主要是由于微机技术、现代信号处理技术以及新的超声较能技术有了较大进步的结果。本文根据作者涉及到的研究领域，对若干的研究进展作了简要的介绍，它包括：应力测量、层间结合状况检测、厚度测量、温度测量、浓度检测、流量计量、新材料无损评价等方面。     

C语言动态内存操作错误的自动检测

该文指出了Ｃ程序动态内存分配、使用和释放过程中极易出现的各种错误类型，论述了错误自动检测的原理和方法，并给出了一个测试示例。     

改进的斑点法测量自聚焦透镜光学参数

改进的斑点法测量自聚焦透镜的主要参数是利用直径不同的近轴平行光束垂直入射到自聚焦透镜端面，在出射端面测量光束光斑大小之差，从而确定了自聚焦透镜的周期长度ｐ，焦距ｆ以及中心折射率ｎ０和分布常数Ａ。     

提高涂层防腐性能评价技术的探讨

界面防腐技术是油气田三维大跨度的大型结构群体综合防护治理的主要方法之一，但我国现行的涂层检测方法还存在较大的局限性和失真度，不能反映实际工况下涂层的防护质量。文章指出了我国涂层与防护质量评价技术的现状和与国外的差距，介绍了80年代以来国外在涂层质量评价方面采用的一些新技术和先进的综合评价方法，最后提出了采用表面分析技术和电化学方法相结合的评价技术，以及对现行评价方法的再创造等建议。     

空间网架结构挠度的检测与计算

通过对北京国家民委三社网架挠度的检测与计算，介绍检测与计算方法，供网架施工人员参考。     

制革助剂检测的探讨

本文概述了皮革化工产品助剂类的检测意义，表面活性剂离子类型的鉴定方法。     

从信号的集中检测谈多点测量仪表

在工业生产中,随着生产的日益现代化、高度集中化,需要检测的参数越来越多,信号的集中检测已成为测量众多参数必不可少的手段。信号集中检测常用设备是多点测量仪表,通常又称为巡检仪,其基本原理如图1所示。多点测量仪表由多路切换开关及显示仪两部分所组成。显示仪就相当于单点测量仪表,其可靠性是比较高的。因而整个多点测量仪表能否正常工作主要决定于多路切换开关的工作是否可靠。在老式仪表中,多点切换开关大多是机