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71.
认为止水材料的蠕变和应力松弛是由于材料参数的变化而引起的,把描述橡胶类材料应变能密度函数中的物理参数假设成与时间有关的黏弹性函数。在此基础上改进材料应力张量与应变张量的关系式,得到了改进的Mooney-Rivlin公式,给出了一种考虑止水材料黏弹性性质的伸缩式水封仿真计算方法。分析得出,止水材料由于受周边结构的限制,材料黏弹性阶段除顶点垂直位移不变,关键结点的其它位移并没有因材料的蠕变而显著变化,材料的蠕变有提高封头顶点接触应力的趋势,不会降低水封的水密性。通过工程实例,给出了140m水头下、封头与面板间隙控制在30mm内的可行并较优的伸缩式水封的断面。 相似文献
72.
P2井特殊烃组分气测异常显示层探讨 总被引:6,自引:1,他引:5
正常的油气显示层气测组分分布遵循一定的规律,而准噶尔盆地西北部的P2井在钻探过程中发现了不符合正常气测分布规律的气测异常显示层,由此引起多方关注与争议。在简述该井气测异常特点及特殊性基础上,对其产生原因进行了探讨,认为第一气测异常层无C1、C2值是由于该层原油为未成熟原油,裂解、降解不彻底所致,第二、第三显示层只有C1则是由于该层为稠油层,C1是微生物降解的结果。通过对相邻区块资料分析,进一步提出了以气测全烃曲线形态为主结合垒烃相对幅度与全烃饱满程度图板的气测异常显示解释评价方法,对于指导其他区块类似情况的研究具有参照作用。 相似文献
73.
In many data analysis problems, it is useful to consider the data as generated from a set of unknown (latent) generators or sources. The observations we make of a system are then taken to be related to these sources through some unknown function. Furthermore, the (unknown) number of underlying latent sources may be less than the number of observations. Recent developments in independent component analysis (ICA) have shown that, in the case where the unknown function linking sources to observations is linear, such data decomposition may be achieved in a mathematically elegant manner. In this paper, we extend the general ICA paradigm to include a very flexible source model, prior constraints and conditioning on sets of intermediate variables so that ICA forms one part of a hierarchical system. We show that such an approach allows for efficient discovery of hidden representation in data and for unsupervised data partitioning. 相似文献
74.
分析比较了进口锡与国产锡的成分和性能。设计出了新型的引线热浸镀锡合金,它具有较低的工作温度、优良的抗氧化性、流动性和可焊性。 相似文献
75.
The reachability of a strongly connected network may be destroyed after link damage,Since many networds have directed links with the potential for reversal,the reachability may be restored by reversing the direction of links.In this paper,the reliability of a network that allows reversal of links in discussed. 相似文献
76.
孙涌 《计算机工程与科学》1997,19(1):37-41
本文提出一种新型的图形描述算法,该算法以各种规则图形作为图形的最小处理单位。利用本算法构造的图形管理系统可广泛用于环境实时监控、采样数据动态显示等领域 相似文献
77.
In this paper we analyze the algebraic formulations of certain geometry statements appearing in recent literature related to mechanical geometry theorem proving and give several examples to show that one of these formulations can cause serious problems. We clarify a formulation which is essentially due to W. T. Wu and, in our opinion, is the most satisfactory.This author was supported by NSF Grants DCR-8503498 and CCR-8702108. 相似文献
78.
在对同杆4回线解耦的基础上,提出了一种适合于同杆4回线的故障测距方法。同杆4回线内部发生故障时,可以将故障分量分解为12序分量,且利用该12序分量进行故障测距。考虑到在任何故障类型下,同杆4回线内部都会存在反序分量,所以提出了基于反序环流分量的故障测距方法。当同杆4回线内部发生故障时,从线路两端计算到故障点的反序环流分量电压相等,利用该关系可以求出故障点的精确位置。由于相互独立的12序分量完全能够解决线间耦合问题,文中提出的测距算法能够精确测距,测距精度不受故障类型影响。大量ATP仿真结果表明所提出的测距算法完全适用于同杆4回线的故障测距,测距精度不受过渡电阻、系统运行方式、线路两端功角的影响。 相似文献
79.
零部件通用是目前研究的一个热点问题,但是绝大多数文章都是针对零部件通用对库存水平的影响。本文从战略的角度,分析了零部件通用对企业竞争战略的影响,发现它不仅对降低费用有着积极的影响,而且对缩短新产品开发周期、制造过程重组等方面也有着积极的作用。因此,零部件的通用性已经从战术上的节约费用上升为战略上的竞争武器。 相似文献
80.
M. Nicolaidis 《Journal of Electronic Testing》1991,1(4):257-273
It has been noted by several authors that the classical stuck-at logical fault model might not be an appropriate representation of certain real failures occurring in integrated circuits. Shorts are an important class of such faults. This article gives a detailed analysis of the effects of shorts in self-checking circuits and proposes techniques for dealing with them. More precisely, we show that, unlike other faults such as stuck-at, stuck-on, and stuck-open—which produce only single errors in the place they occur—shorts can produce double errors on the two shorted lines. In particular, feedback shorts can produce double errors on the two shorted lines. The double error is unidirectional for some feedback shorts and non-unidirectional for some others. Furthermore, in some technologies (e.g., CMOS), non-feedback shorts can also produce double non-unidirectional errors. We also show that unlike stuck-at, stuck-on, and stuck-open faults, redundant shorts can destroy the SFS property. Then we propose several techniques for coping with these problems and we illustrate the results by circuit implementation examples.The present study is given for NMOS and CMOS circuits but we show that it is valid for any other technology. 相似文献