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现代工业的快速发展离不开模具,模具被广泛用于航空航天、船舶等各个行业,对制造业影响巨大,特别是对生产金属制品行业,工厂需要采用热处理技术,利用模具制造出高质量产品。 相似文献
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针对目前基于模式噪声方法处理夜间场景下图像来 源检测准确效果较差问题,提出一种综合纹理和 亮度的夜间场景图像来源检测方法。首先基于夜间场景图片会存在同张图片不同区域会有不 同纹理和亮度 从而会影响提取模式噪声质量不同这一理论依据,将图片根据纹理和亮度分成若干大小相等 的块;然后对 不同块按纹理平缓亮度良好、纹理复杂亮度差、纹理平缓亮度差、温度复杂亮度良好四种情 况处理,其中 对于纹理复杂的区域提取的噪声要抑制纹理干扰、对于亮度条件差的区域提取的模式噪声需 要增强、对于 亮度差且纹理又复杂的区域提取的模式噪声、既要抑制纹理的干扰又要增强模式噪声。实验 结果表明,本 文方法在夜间场景情况对图像检测整 体识别率均在在80%以上,与传 统模式噪声提取算法相比,该算法正确率能够提高4到12个百 分点。 相似文献
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以沙角A电厂200MW/300MW机组为例,设计出顺序控制功能控制锅炉油燃烧器的方案,并论证该方案的可行性和可能带来的问题.实践证明,这一方案是完全可行的. 相似文献
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利用激光脉冲沉积法(PLD)制备了Na掺杂ZnO∶Nax薄膜(0≤x≤0.1),并较全面地研究了Na含量对ZnO∶Nax薄膜结晶质量和光电性能的影响。研究结果表明Na含量低于5%时,ZnO∶Nax薄膜能够保持良好的c轴择优取向生长。随着Na含量的增加,薄膜由本征n型转变为p型。并且当Na含量为2%时,获得p型性能良好的薄膜:电阻率为53.5Ωcm,迁移率为0.55cm2V-1s-1,空穴浓度为2.1×1017cm-3。结合XPS测试结果,我们认为p型转变是因为Na掺杂在ZnO中主要形成受主态NaZn。PL测试表明ZnO∶Na0.0 2薄膜在377nm处具有良好的室温紫外带边发射。 相似文献
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采用脉冲激光沉积(PLD)法制备出一种新型的p型非晶氧化物-半导体非晶CuNiSnO(CNTO)。CNTO薄膜分别在室温(RT)与300℃的生长条件下获得,对其结构、光学和电学性能进行研究。研究结果表明,所得的CNTO薄膜为非晶态,表面平整,元素分布均匀。当衬底温度由RT升高至300℃时,CNTO薄膜的粗糙度由0.38nm下降至0.26nm;电阻率由高阻态转变为p型导电态,空穴浓度为4.06×10~(14)/cm~3。在300℃下生长的非晶CNTO薄膜表现为明显的p型导电,气敏测试结果进一步佐证了这一结论。此外,非晶CNTO薄膜可见光透过率达80%以上,为宽禁带非晶氧化物半导体,有望向透明显示领域发展。 相似文献
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