挤压成形半固态ZA27合金组织的SEM分析

为了有效地解决铸造锌铝合金ZA27的宏观偏析问题，采用半固态成形的手段对ZA27合金进行挤压处理，可以得到不产生Zn宏观偏析的ZA27合金组织。本文运用扫描电子显微镜(SEM)分析、研究了挤压成形半固态ZA27合金的组织形貌。     

矢量传感器误差校正与补偿

当阵列模型存在误差时，子空间类方法的高分辨性能会显著下降，因此必须进行有效的校正。由于矢量天线本身的复杂性，其相位误差很难精确校准且原有的基于标量天线相位误差的估计方法已经不再适应于矢量天线。该文在到达角已知情况下，给出了一种估计矢量天线阵列相位误差的新方法，并导出了各通道相位误差的计算公式。最后的数值模拟结果说明了本文方法是简单有效的。     

声化学法制备Sn-Bi纳米微粒的电镜观察

本文介绍了一种直接以块状Sn-Bi合金为原料进行超声辐射制备低熔点Sn-Bi纳米微粒的方法。该法具有操作简单、条件易控且原料易得等优点。     

SEM对OCr13不锈钢衬里结构的分析

钨极氩弧焊是在普通氩弧焊基础上发展起来的一种焊接工艺，由于采用了可控的脉冲电流取代了连续电流，因此它特别适用于一些热敏感的金属材料薄板、超薄板构件，也用于薄壁管子的全位置焊接等。本文利用扫描电子显微镜研究了薄板液压支柱中的OCr13不锈钢板衬里焊接参数的基值电流、脉     

基于均匀光纤光栅的DWDM系统PMD补偿方法

提出一种基于均匀光纤Bragg光栅(FBG)的透射型密集波分复用(DWDM)系统多信道偏振模色散(PMD)补偿方案。当FBG受到横向挤压时，会产生双折射现象。当一波长的光信号从光栅带隙附近透射时，就会在快轴和慢轴之间产生时延差(DGD)。通过改变外力的大小来调节DGD的大小可以实现对PMD的补偿。通过将多个补偿光栅级联，就可以实现对DWDM系统多信道PMD的补偿。在100N外力作用下，5cm长的光栅最大可以补偿121ps的PMD，而对相邻0．8nm的信道，只引入0．2ps的DGD。     

入射光的偏振和强度对分光镜透／反比的影响

采用能量流分析法推导了一束线偏振光经分光镜分光形成透射／反射光的能量表达式。分别讨论了入射光强度不变而偏振方向变化以及二者同时变化对分光镜透／反比的影响。通过旋转主光路中的偏振片来模拟入射光的偏振方向和强度变化，实验验证了分光比的变化规律。     

半导体制造中的电子显微分析

集成电路的特征尺寸越来越小，电子显微分析在微电子制造中成为不可缺少、不可替代的重要分析手段。本文根据扫描电子显微镜（SEM）及透射电子显微镜（TEM）在实际分析中的特长和局限，主要就仪器分辨率与结果的精确度的问题，讨论如何将两种分析技术有机地结合起来，扬长避短，取得最佳效果。     

透射电镜样品台移动的自动化设计

随着自动化技术的迅速发展，现代的透射电子显微镜技术也步入了自动化或数字化时代。除了成像部分，真空系统等提高了电路的集成度以外，机械运动部分的自动化程度也大幅度提高。但是，目前在国内尚有一批20世纪末期以前的电镜产品，还处于手动或半自动化状态，且仍在发挥着重要作用。如JEM-100CX、JEM-200FX、HT-800等。我们针对     

薄膜的截面TEM样品制备

薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄，对其微结构的研究十分困难，许多表征方法难以采用。透射电子显微分析（TEM）是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易，但由于薄膜依附于基材生长，且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征，因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究，可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂，难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法，对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。     

负载Fe的ZSM-5分子筛催化剂的显微结构研究

ZSM-5是一种由Si(Al)O4四面体单元构成的沸石分子筛，具有正交结构，n=2．010nm、b=1．910nm、c=1．340nm。沿着[010]和[100]方向分别有直线型和正弦型的十圆环孔道，已有研究提出ZSM-5中掺入过渡族金属会促进烷烃的脱氢反应。本工作利用高分辨电子显微学方法配合EDS分析研究了在Fe掺杂