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171.
研究了折射率 n 与电子数浓度 Ne及高度h之间的关系，并通过数值模拟对电子数浓度的高度剖面和折射率随高度的变化规律进行了分析。将模拟和实际观测出的频高图进行对比，发现在高电离层模拟值与实际值较相近，在低电离层则由于非线性关系及 Es 层存在的效应，模拟值与实际值有较大的误差。 相似文献