掺杂Fe2O3对氧化锌压敏陶瓷微结构的影响

利用正电子湮没辐技术测试ZnO压敏陶瓷符合正电子湮没辐射Doppler展宽谱,研究了分别掺杂微量Fe2O3杂质对ZnO压敏陶瓷微结构的影响。研究结果表明:随Fe2O3掺杂量的增加,ZnO压敏陶瓷的漏电流和Doppler展宽的商谱谱峰先升高后降低,掺杂量为1.00%出现最大值。     

过渡金属元素中d和f电子行为的正电子湮没研究

采用双探头符合技术,大幅度地降低了正电子湮没辐射Doppler展宽谱的本底,使谱线的峰高与本底之比高于104,从谱线的高能端提取正电子与过渡金属原子中d或f电子湮没的信息.测量了Zr、Nb、Mo、Ag、Hf、Pt、Au等纯金属和单晶Si样品的符合Doppler展宽谱,并以单晶Si样品为参考作出了这些金属的商谱.结果表明:金属Zr、Nb、Mo、Ag的商谱随原子的4d电子数目的增多而升高;金属Hf、Pt、Au的商谱出现了双峰,其峰高均随原子序数的增加而升高.     

NiTi形状记忆合金中缺陷和电子密度的正电子湮没研究

用正电子寿命谱测量法研究了Ni50.78Ti49.22合金B2相、R相和B19'相的微观缺陷和自由电子密度.通过比较Ni50.78Ti49.22合金在285和227 K时的寿命谱参数,可以发现R相的自由电子密度比B2相的低;R相缺陷的开空间较大,但其缺陷浓度比B2相的低.在100 K时Ni50.78Ti49.22合金处于B19'相.与R相相比,B19'相的自由电子密度增加,缺陷的开空间减小,同时缺陷浓度增大.随着温度的降低,Ni50.78Ti49.22合金中的微观缺陷和自由电子在多阶段马氏体转变中(B2→R→B19'相转变)起着重要作用.     

电能自动抄表技术及相关思考

综述了与电能量自动抄取相关的电子式电度表及电能数据远传通讯技术在近几年的发展状况,又注意到电能、燃气、水及热量自动抄表技术融为一体的进步趋势,并对网络化测量条件下电能自动抄表技术可能的进展做了预测。     

净化室—图形转移的关键场所

图形转移是印制板制作中的一个重要步骤,也是最复杂最不易控制的制作工序之一,随着线路细线化,板厚薄形化,布线的高密化的发展趋势,提出了对感光膜厚度(Resistthickness),感光膜分辨力(Resolution),光源的平行性(Light coilimation),底片的分辨力(Art-work resolution),无尘室的清洁度(Cleanness),铜箔厚度分布的均匀性(Uniformity),显影点(Break-point)及蚀刻因子(Etch-factor)控制等的新要求,感光膜厚度由2mil～1.5mil向1.2mil甚至更薄过度,感光膜分辨力向<2mil的方向发展,大量釆用平行光甚至LDI[已经有适于LDI(Laser DirectImaging)的干膜和激光系统雏型],LDI主要是将CAD的矢量数据转化为UV Laser的光栅数     

Cr和Mo对Fe3Al合金中微观缺陷和电子密度的影响

测量了二元Ｆｅ３Ａｌ及含Ｃｒ或Ｍｏ的Ｆｅ３Ａｌ合金的正电子寿命谱参数,计算了合金基体和缺陷处的价电子密度。实验结果表明,Ａｌ和Ｆｅ结合形成Ｆｅ３Ａｌ合金时,Ａｌ原子提供价电子与Ｆｅ原子的３ｄ电子形成局域的共价键。Ｆｅ３Ａｌ合金中金属键和共价键共存。Ｆｅ３Ａｌ合金晶界缺陷的开空间大于Ｆｅ空位或Ａｌ空位的开空间,晶界缺陷处价电子密度比基体低,晶界的键合力较弱。在Ｆｅ３Ａｌ合金中加入Ｍｏ,降低了合金中的     

油脂对明胶生产的危害及骨粒脱脂方法

<正>在明胶生产过程中,油脂对明胶产品质量 的影响是众所周知的。它不但降低明胶产品 的透过率,造成产品色泽欠佳,更严重的是影 响了产品的冻力和粘度等重要质量指标,使产 品的档次大为下降。究其原因是: 1.由于油脂的存在,明胶溶液在加药处理     

压水堆核电厂气态流出物环境累积效应研究

核电厂运行寿期内放射性气载流出物通过烟囱向环境排放，其中部分放射性物质会沉降并在环境中累积。为评估其累积效应，本文选取³H、¹⁴C和以气溶胶形式存在的⁸⁸Kr/⁸⁸Rb、⁶⁰Co、¹³¹I和¹³⁷Cs作为代表性核素，采用³H、¹⁴C平衡模型和气溶胶迁移扩散模型，分析了核电厂运行寿期内各核素的环境累积活度浓度。分析结果表明：代表性核素显示出了环境累积效应，绝大多数代表性核素的环境累积活度浓度远小于0.1 Bq/kg，但³H和¹⁴C的环境累积活度浓度略高，分别达2.51 Bq/kg和2.35 Bq/kg；各核素环境累积活度浓度预测结果远低于EPR-RSR给出的相应限值，不会对土地再利用造成影响；以气溶胶形式存在的放射性核素的环境浓度表现出较明显的累积增长趋势，增长趋势与半衰期和放射性核素在环境中的迁移行为相关。根据研究结果，对我国核电厂环境影响评价中典型核素的环境累积效应预测和环境监测提出了建议。     

用正电子湮没技术研究深低温下Al—Li—Cu—Mg—Zr合金中的缺陷和电子密度

测量了欠时效和峰值时效的Ａｌ—Ｌｉ—Ｃｕ—Ｍｇ－Ｚｒ合金从深低温到室温升温过程的正电子湮没寿命谱．对ｅ＋寿命谱特征参数的分析表明．两种样品中的缺陷在升温过程中的运动规律是相似的。但峰值时效样品比欠时效样品回复缺陷的量更多；缺陷的平均开空间更大．而且随着δ＇（Ａｌ３Ｌｉ）相粒子的长大，样品基体中自由电子密度提高，增加了合金基体的强度．     

氢对Ni3Al合金中微观缺陷的影响

对二元Ｎｉ３Ａｌ和含０．５２ａｔ．％的Ｎｉ３Ａｌ合金样品进行电解充氢，并测量其ｅ＾＋寿命谱。结果可见，ｅ＾＋在合金缺陷中的寿命最初随充氢时间的增加而下降，随后达到一个最小值，接着随充氢时间的增加而增加。含０．５２ａｔ．％Ｂ的Ｎｉ３Ａｌ合金比二元Ｎｉ３Ａｌ合金的氢效应程度小，这说明加入少量的硼可提高Ｎｉ３Ａｌ合金的抗氢能力。