城域光网建设的若干技术分析

阐述目前国内常见的建设城域网的技术并深入分析比较几种技术的优势和劣势 ,并就CWDM技术的发展和应用方案实例作了简要描述     

DAM中波发射机输出网络的幅频特性及测量

数字调幅 (DAM )发射机是目前世界上最先进的中波广播发射机。近年来 ,我国许多中波发射台相续更新了国产的DAM中波发射机 ,并在发射机的运行指标、稳定性、可靠性以及工作效率等方面都取得了很好的效果。本文介绍了DAM发射机输出网络的幅频特性 ,以及几种常用输出阻抗的输出网络幅频特性的测试方法。为DAM发射机输出网络的生产调试和维护检修提供了非常实用的测试手段。也为以后DAM发射机过渡到高音质的DRM中波数字音频广播作好准备     

miPP/ziPP共混体系的流动性能

首次对茂金属聚丙烯(miPP)／齐格勒-纳塔聚丙烯(ziPP)共混体系的流动性进行了系统的研究。研究发现，在miPP／ziPP共混体系中，miPP含量的变化改变了共混体系的相结构，这种相结构会随着温度和剪切速率的变化而产生明显的变化，从而改变了体系的流动性能，且该共混体系在不同剪切速率下的流动曲线可以分别通过两个模型进行模拟。     

夏天·女人·护肤

夏天,这个季节的主角是女性。经历3个季度的漫长等待,女人在这一季节,当仁不让地宣告美丽。1 肌肤是女人自信的锋芒 有些女人敢于挑战身材,拥有青春资本的她们大口吃着冰淇淋,却继续保持着曼妙身姿;有些女人敢向情感宣战,越是放纵自己,越是得到男人宠爱。可是很少有女人敢与肌肤作对。因为聪明的女人知道,肌肤就如女人本身,她是美丽的,妖艳多变的,也是脆弱的,所以肌肤不知不觉中就成为她们展露的锋芒。     

让“科技生活化，生活科技化”——访扬智科技股份有限公司总经理吴钦智博士

扬智科技股份有限公司(以下简称扬智)成立于1987年,从原先的PC系统芯片组到现在的五大产品线,基本上在3C的各个领域郜已经有一定的市场占有率.并拥有丰富的IP。在系统芯片组(Computer)领域,扬智在1992时排名全球第三。该公司于2003年分别推出了支持K8和P4 800MHz CPU的芯片组。在消费类电子(Consumer)领域,扬智在1990年代中期市场仍以商用的PC为主的时候,就看好消费     

“味都”与企业同行

<正> “味都”牌干面制品是上海红东食品有限公司(前身为上海制面厂)的著名产品。该产品2001年曾获得中国面制品业高峰会最佳包装设计金奖,2001年至今连续三次荣获上海市名牌产品殊荣,2002年公司还获得上海市食用农产品流通安全示范单位,并连续两届被评为上海市文明单位。近年来,公司在不断地发展壮大,由数百万的资产发展至拥有数千万的资产规模,产销超万吨,拥有近七十种产品,销售网络遍及全国各省市,且有部分产品出口。与此同时,历经数年的市场磨练,“味都”品牌在全国挂面行业中已挤身最著名品牌之一,产品深受广大消费者的青睐。“味都”品牌策略走的是与企业发展同行之路,用的是产品品质取胜之法。     

高桥地区化工新材料产业发展建议

对上海浦东高桥地区(特别是高桥石化公司)化工新材料的现状和优势，以及十五期间化工新材料发展规划等作一描述，并对下一个五年计划化工新材料的发展提出了建议。     

涡街流星传感器开展“现场校准”的探索

一、引言 随着工业大生产运动的不断推进,社会的分工越来越明确,采取集中供热方式后,产热方、供热方、用热方经济利益的矛盾有时会越来越突出。由此带来了对计量器具的准确度要求也越来越高,计量器具实行定期检定已经到了刻不容缓的时期。但由于目前市场上所提供的绝     

第四次战略机遇与第四次快速发展

有学者说 ,中国经济迎来了加快发展的第四次战略机遇期。也有专家说 ,中国非织造布产业面临着第四次快速增长期。第四次快速增长欣逢第四次战略机遇 ,这不是偶然的巧合 ,而是新时代的必然 ,是我国吹响全面建设小康社会号角的客观要求。第四次战略机遇 ,可以从一句广告促销语说起。 2 0 0 3年伊始 ,最具国际名牌价值实力的可口可乐公司 ,色彩鲜明地向中国的消费者拜年 ,推出“可口更可乐 ,羊年喜洋洋”的贺词。羊年饮“可乐” ,不仅保持着一种流行与时尚 ,而且更加融入了民族化和本土化。从日常生活的一桩琐事 ,不难看出经济全球化迅猛发展已…     

新型高K栅介质ZrO2薄膜材料的制备及表征

采用超高真空电子束蒸发法制备了新型高 K栅介质-非晶 ZrO2薄膜. X射线光电子能谱 (XPS) 中 Zr3d5/2 和 Zr3d3/2 对应的结合能分别为 182.1eV和 184.3eV, Zr元素的主要存在形式为 Zr4+,说明薄膜由完全氧化的 ZrO2组成 ,并且纵向分布均一.扩展电阻法( SRP)显示 ZrO2薄膜的 电阻率在 108Ω@ cm以上,通过高分辨率透射电镜( HR- XTEM)可以观察 ZrO2/Si界面陡直,没有 界面反应产物 ,证明 600℃快速退火后 ZrO2薄膜是非晶结构.原子力显微镜( AFM)表征了薄膜的 表面粗糙度,所有样品表面都很平整,其中 600℃快速退火样品 (RTA)的 RMS为 0.480nm.