基于局部信息的全局数据挖掘研究*

重点综述了基于局部信息的全局数据挖掘方法。根据数据挖掘的过程,将该问题的研究划分成三个阶段,即利用粒度数据表示进行挖掘、利用局部信息改善全局挖掘的效率和利用局部模式结果获得全局数据理解,并对每个阶段进行了分类论述。最后总结了全文并指明了未来的研究方向。     

.动力学演化算法的模糊控制器多参数优化*

模糊控制是一种非线性的控制方法,其性能在很大程度上取决于模糊控制规则、量化因子及比例因子,但传统的靠专家经验设计规则的方法不能根据被控对象的状态对模糊控制规则进行实时、动态的调整,而且对量化因子和比例因子也是根据经验选取,因此控制效果有时很难保证。提出了一种利用动力学演化算法自动对控制规则的调整因子、量化因子及比例因子进行优化。仿真实例表明了这种设计方法的可行性和良好的控制效果。     

基于Web 服务的证书发放系统的设计与实现

为了改善PKI数字证书发放易用性差、集成度低和运营成本高的缺陷,在认证中心与应用系统之间引入注册代理,统一了用户数字证书发放和应用系统用户权限设置流程。给出了数字证书申请流程,基于Web 服务实现了证书发放系统,系统具有系统无关性和平台无关性。实际应用表明证书发放系统提高了PKI数字证书发放的易用性、集成度,降低了运营成本。     

一种改进的面向ERP的工作流管理系统*

根据ERP的领域需求及特点,开发出一种改进的基于活动网络图的工作流模型,并引入了事件管理器和事件订阅器(event subscriber)。经过改进的工作流管理系统能够很好地满足ERP系统的业务要求,可以有效增加系统的柔性,简化系统建模的难度。     

文本分类中基于位置和类别信息的一种特征降维方法*

从文本特征项所处的位置角度提出了特征项基于位置的降维方法;同时结合特征的类别分布进行了二次特征降维。这种基于位置和类别相结合的特征降维方法在最大程度减少信息损失的条件下,实现了特征维数的有效压缩。实验表明,该方法有较高的文本分类效率。     

基于IXP2350的协同免疫三层防御IDS设计

介绍了基于Intel IXP2350网络处理器实现的一种新的入侵检测系统架构——具有协同人工免疫特性的三层防御入侵检测系统。将基于主机的检测和基于网络的检测结合起来,如人体免疫系统一样,为计算机系统提供综合的、多层次的保护。它使用网络处理器作为数据分析引擎。充分利用了Intel IXP2350网络处理器的可编程高速并行处理特性,使入侵检测系统具有更强的灵活性和可扩展性。     

一种为三维物体表面添加纹理的精确方法*

针对真实物体进行三维数字化重建的工程中,物体的空间位置及色彩等特征的数据采集始终是一项困难的,同时却又是十分重要的工作,设计的三维光学数字成像系统可以同时采集物体在同一个方向的深度图像和与它精确对应的纹理图像,在深度图像合成的同时进行纹理图像的融合.在进行多视角的纹理图像融合时,对权函数的设定提出了新的准则,使融合后的纹理图像更加逼真,可以产生高真实感的物体三维数字化模型.     

不平衡数据分类的研究现状*

不平衡数据在实际应用中广泛存在,它们已对机器学习领域构成了一个挑战,如何有效处理不平衡数据也成为目前的一个新的研究热点.综述了这一新领域的研究现状,包括该领域最新研究内容、方法及成果.     

信号分形维数估计的研究与实现*

基于序列分形自仿射特性,提出一种实现一维信号分形维数估计的方法。按不同尺度将信号序列分段为映射区间和象区间,采用搜索算法确定与各象区间最优匹配的映射区间,并根据迭代函数系统理论估计信号的分形维数。以分形维数已知的MackeyGlass和Lorenz信号为例,仿真表明提出的方法能准确估计信号的分形维数,对实际应用具有一定的参考价值。     

Consistent indexing of a (set of) single crystal SAED pattern(s) with the ProcessDiffraction program

A computer program called "ProcessDiffraction" helps indexing a set of single crystal selected area electron diffraction (SAED) patterns by determining which of the presumed structures can fit all the measured patterns simultaneously. Distances and angles are measured in the digitalized patterns with a graphical tool by clicking on the two shortest non-collinear vectors (spots), using user-supplied calibration data. Centers of the spots and center of the pattern are optionally refined by the program. Suggested individual indexing solutions (consistent with an assumed unit cell) are listed by the program for each pattern. Simulated patterns are also consulted to check if the shortest calculated distances coincide with measured ones. Common solutions for the set are selected by checking the angles between the suggested zone axes against the angles between the experimental goniometer settings. The indexing process is manually controlled by selecting the candidate structures (one-by-one) for indexing and by specifying the tolerances for d-values, plane angles and zone angles. Patterns of any crystal system can be indexed successfully. Although error bars are larger in electron diffraction than in X-ray diffraction (XRD), frequently, many unrelated indexings are possible for any one electron diffraction pattern (irrespective of the indexing method), a set of SAED patterns can generally be indexed unambiguously, i.e. the three-dimensional reciprocal space can be identified correctly. Two other tools also help planning tilting experiments: zones along a plane can be listed (with their angles extended from a pre-selected zone in that plane) and zones lying at a given angle (specified with a tolerance) from a zone can also be identified (as they are situated between two cones). Another tool searches the XRD database directly either for advice on possible structures for a composition or to help calibration.