X射线底片数字化存储管理及发展前景

X射线底片数字化存储基本原理是运用计算机技术将底片作为景物图像经扫描器扫描，经数字化进行图像处理，把底片负象转变成数字信号，数字信号经计算机转换成光学图像在显示器上显示，进而存入磁盘或转录到磁带上作永久存储，系统软件构成主要由6个模块组成，底片的存储主要有以下特点：（1）存储无失真，可以任意复制，便于交流；（2）系统操作简单，观察更清晰，更全面，更准确。（3）节省大量的存储空间，科学地分类管理使查阅更快捷，更准确。（4）系统采用了精确的稳定控制技术，具有很高的稳定性和精确性，现代计算机技术和网络技术的进步将极大地促进底片数字化存储管理系统的广泛应用和迅速发展，另外，底片数字化存储系统的开发应用将促进无损检测缺陷智能的实现。     

钨酸根抑制不绣刚局部腐蚀的机理

用X射线光电子能谱(XPS)研究了AISI304不锈钢在含WO2-4+Cl-的模拟闭塞电池中形成钝化膜的组成与结构及WO2-4抑制其局部腐蚀的机理.研究表明,闭塞区内AISI304不锈钢表面的钝化膜的外层主要为WO2-4、CrO3、CrCl3、FeCl2和FeCl3,此外,还有少量的Ni2O3、Fe2O3、CrO2-4、γ-FeOOH以及Fe(OH)3;溅射5 min时膜内层主要为Cr2O3、CrOOH、Cr(OH)3、FeCl2、FeCl3和WO3,还有少量的WO2和WO2-4.WO2-4对钝化膜的影响在于WO2-4迁入闭塞区后吸附在金属表面,可全部或部分取代吸附在钢表面的Cl-,并与腐蚀产物Fe2+发生氧化还原反应生成Fe3+和WO2,WO2-4与Fe2+、Fe3+反应生成难溶化合物FeWO4和Fe2(WO4)3覆盖在阳极上,形成较耐蚀的保护膜,降低闭塞区内自催化效应速度,从而抑制局部腐蚀的进一步发展.     

利用ActiveX Automation技术开发AutoCAD的工具菜单栏

详细阐述了如何运用高级语言 ,通过ActiveXAutomation技术来控制AutoCAD绘图 ,并开发出类似天正CAD的菜单。这项技术的应用 ,可以很容易地编制实用程序 ,从而调用AutoCAD自动完成相应的绘图功能。这对于水电领域的工程设计自动化有很大的意义。     

V和X系列接口到E1信道的转换设计

在简要介绍了相关技术的基础上，提出了一种用FPGA实现V和X系列接口到E1信道转换的设计方案。同时根据设计要求，给出了采用ALTERA公司的FPGA芯片EPF10K10TC144设计的典型应用电路。     

X5045电路及其应用

X5045是一种集看门狗、电压监控和串行EEPROM三种功能于一身的可编程控制电路，文中介绍了它的主要特点和工作原理，同时结合8051单片机给出了MPU与X5045的接口电路与相应的读写程序。     

美能达X—700相机快门故障维修一例

近年来,许多摄影类刊物常介绍一些关于照相机维修的文章,像单镜头反光取景式的美能达X-700、X-300等,这类相机也是影友常用的器材之一。笔者在维修工作中发现美能达X-700还有一个常见的快门故障,现整理出来供同行参考。     

自由电子激光的新进展

1 向X射线激光器迈进2000年2月在汉堡市DESY实验室超导TESLA试验装置（TTF）工作的国际研究小组创造了自由电子激光最短波长记录。从9个国家38个院所来的140名学者取得的成就是获得波长109nm的远紫外辐射振荡。以前使用同类自放大自发辐射自由电子激光器（SASE FEL)取得的最佳结果是波长530nm。后来经过数个星期的艰辛工作，又将波长降低至80nm（图1）[1]。为了取得这项成果，研究组运用了TTF的超导直线加速器的电子束。为了能在～６nm软X射线区工作，目前正对该装置做进一步的完善，可望于2003年准备就绪。该装置的建成为实现主…     

美国两用技术

高分辨数字平板X光探测器及软件技术，AMU计划降低了防御卫星系统耗费，多晶氮氧化铝材料(ALON)成功用于军事和商业领域，复合材料真空模注修复系统用于商业生产，微波反应堆技术成功用于消除太空船中危害性原料。     

X射线光电子能谱(XPS)

在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的。而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征。其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段。 X射线光电子能谱的基本原理(图1)是当一束特定能量的X射线辐照样品,在样品表面发生光电效应,就会产生与被测元素内层电子能级有关的具有特征能量的光电子,对这些光电子的能量分布进行分析,便得到光电子能谱图。XPS起始于发现光电效应之后不久,1914年Rutherford即成功地表述了XPS的基本方程:     

Kevex SIGMA^TM定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用

本文介绍了X—Ray能谱定性分析的原理，并结合Kevex SIGMA系统，详细介绍了定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用。