基于分布式无线TEV传感器的电缆终端局部放电监测系统

电力电缆是城市输配电系统的重要组成成分,其绝缘状态关系着城市供电的可靠性。局部放电检测是识别潜在绝缘故障的有效方法,可用于电力电缆的绝缘诊断。暂态对地电压法(TEV)是一种非电接触且应用较为灵活的局部放电带电检测手段,能够有效检测电缆终端或接头的局部放电。然而,由于电缆附件监测点分布较广,时效性要求较强且电磁环境差别较大,目前的TEV带电检测应用方法存在一定局限性。本文首先分析了电缆终端及接头处内部局部放电信号的时频特性,设计了能够有效耦合暂态对地电压的电容性TEV传感单元及信号预处理电路,并基于TEV物联网传感单元,建立了分布式TEV无线传感网络。本文对暂态对地信号的耦合原理、信号调理和采集、以及数据处理方法进行了研究,通过各传感节点放电量、趋势及模式识别,实现了关联故障预警。     

基于电活性聚合物薄膜柔性器件的触觉传感特性

针对电活性聚合物(EAP)薄膜制造柔性智能器件的发展要求,分析了电活性聚合物薄膜的正/逆力-电特性及发电机理,采用静电诱导自组装技术在电活性聚合物表面制备了碳纳米管薄膜电极,然后构建了柔性传感器件。实验研究了EAP柔性器件的手指关节弯曲姿态及脚踏运动触觉的传感特性。扫描电子显微(SEM)形貌观察表明:碳纳米管薄膜呈网状结构且质地致密均匀。基于EAP柔性器件的手指弯曲姿态实验结果表明:在手指弯曲度为15~90°时,输出电压峰值为1.2~3.7V,展示了输出电压峰值与手指弯曲度之间的高线性度,线性相关系数为0.9951。此外,采用EAP薄膜器件对踏步触觉进行了实验测试,其输出电压峰值在1V左右,而且具有响应快、可重复性好等优势。本文的研究为电活性聚合物薄膜型电子皮肤及触觉传感器的发展提供了理论基础和实验依据。     

国外果蔬脱水技术

介绍了近几年来国外果蔬脱水方面的研究成果,并对目前国内应用较多的热风干燥和发展较快的冷冻干燥做了较为详细的介绍。     

时滞型岩爆的研究与预防综述

在地下工程建设过程中,随着深度的增加,时滞型岩爆频繁发生,给现场施工带来了巨大的困难和挑战,成为影响施工安全的重要因素。从硬岩蠕变试验、受载硬岩声发射监测、岩爆的监测预防3个方面总结了时滞型岩爆的研究进展。建立更加完善的岩爆孕育理论模型;结合岩石的声学信号变化,利用云计算、人工智能等新兴技术是未来时滞型岩爆研究和预测的发展方向。     

面向对象虚拟DPU的实现

为适应对大型工业过程及其控制系统的分析、优化和训练需求．国际上集散控制系统DCS(Distributed Control System)的全范围仿真正在向所谓“虚拟”技术方向发展。虚拟DCS可划分为虚拟分散处理单元DPU(Distributed Process Unit)和虚拟人机接口HMI(Human Machine Interface)两部分。主要阐述运用面向对象的方法在通用的Windows平台上实现虚拟DPU的技术思路。     

一种快速浮点加法器的设计与优化方法

本文提出了一种快速单精度浮点加法器的设计方法，重点介绍了该浮点加法器所采用的各种优化技术，如双数据通道划分、3级流水线结构、PN编码、简化的四舍五入模式及并行前缀加法器等，使得该浮点加法器的频率能够达到300MHz，能在高性能浮点DSP中得到很好的应用。     

火箭助飞鱼雷纵向通道制导系统参数设计及仿真

在纵向通道制导系统中给出了实现比例导引和攻角归零的控制器结构和控制参数设计方法,采用比例式过载控制和积分式过载控制分别实现了攻角归零和比例导引,并根据给定的标准弹道选择了若干特征点,利用频域法设计了控制参数,然后进行了纵向通道制导系统数学仿真,仿真结果表明,所设计的制导系统可以实现火箭助飞鱼雷位置的准确控制。     

基于功能分析原理进行传统机床数控化改造的技术构思

功能分析原理的目的在于围绕预期的功能目标，对实现各种功能的技术原理和结构要素进行分析、创新和提高，以便设计出更好的替代方案，它是现代创新设计中常用的方法。这里简介了功能分析原理，并以数控车床为例，详细分析了在传统机床数控化改造的技术构思中功能分析原理的应用方法。     

一种实现PCB设计自动评审工艺软件

电子产品的可制造性分析正在受到越来越多的重视，但是实施可制造性是个非常复杂的费时费力的过程，通常要具备丰富经验的技术人员付出繁重的劳动，尽管如此，由于人的主观性，很多的问题仍旧遗漏到了新品试制和投产阶段，降低了DFM的效果．正是由于这个现状，华莱公司提供了他们DFM的优秀工具Trilogy5000,我们结合本公司的实际，重点对其可制造行模块进行了推广应用，使之成为PCB设计之后投产之前进行自动评审的有力工具，提高了单板设计的一次成功率。     

双面回流焊接过程中掉片问题的研究

针对目前双面回流焊接的日益增多及用户在对双面回流时担心的元件掉落问题，对其进行较为系统的试验验证，为双面回流提供技术支持数据。