溅射参数对SmCo/Cr薄膜铬底层晶面取向及磁学性能的影响

采用直流磁控溅射法制备SmCo／Cr薄膜磁记录材料，通过改变Cr底层制备过程中的功率、靶基距、溅射压强和溅射时间，得到了磁性能不同的SmCo／Cr薄膜。利用X射线衍射法对Cr底层晶面取向和磁控溅射参数之间的关系进行了研究，结果表明：如果改变溅射参数，使沉积cr原子获得较大的能量，则有利于Cr底层最终以(110)晶面择优取向。本实验中Cr底层以(110)晶面择优取向的最佳实验条件为：溅射功率在50～70w左右，靶基距为6cm，压强为0．5Pa，溅射时间为15min。利用振动样品磁强计(VSM)测定SmCo／Cr薄膜的磁学性能，结果表明，如果Cr底层能以(110)晶面择优取向，所得到的SmCo／Cr薄膜的磁学性能较好。     

Si（337）—另一个较稳定的高密勒指数晶面

我们的ＬＥＥＤ实验结果发现：偏离（１１２）约４°的Ｓｔ（３３７）表面，在超高真空中经Ｘｅ离子轰击并加～８００℃退火后，呈现较清晰的（１×１）结构．在同样条件下，Ｓｉ（１１２）表面没有产生好的ＬＥＥＤ图样，从而预料：Ｓｉ（３３７）可能是异质外延ＧａＡｓ和ＧａＰ等极性化台物半导体的好衬底．     

黑镜表面纳米颗粒HREM照片的图象处理

中国古代两种黑镜表层的主要ＳｎＯ２是一种有原子掺 杂的纳米晶体。对这些纳米晶体的晶格条纹像进行计算机图象处理，可精确测量出纳米晶体的晶面间距离，从而建立了一种精确测定纳米晶体的面间距的方法。     

晶体连生体的简易检验法

本文报导了一种检测晶体连生体的简易方法。利用 X 射线定向仪直接测出两个或两个以上不同方位的同一平面两单晶的面指数及其角差来判定连晶体的存在、连晶体的种类及其双晶律。     

ZnO超微粒子薄膜表面精细结构STM研究

利用扫描隧道显微镜对氧化锌超微粒子薄膜在大气环境中进行了观测分析，获得了其表面具有原子数量级尺寸的构像；同时，结合X射线衍射谱图对其表面精细结构进行了研究和探讨，并由此建立了氧化锌超微粒子薄膜的生长、形成机理模型。     

利用X-射线衍射仪评价防膨剂效果的实验方法

以水化膨胀能力最强的钠蒙脱石为研究对象,利用X'Pert Pro粉晶X-射线衍射仪测试蒙脱石(001)晶面间距的原理,探索性地建立了使用X-射线衍射仪直接、快速评价防膨剂防膨效果的方法和实验流程.系统总结了钠蒙脱石在去离子水、有机防膨剂、无机防膨剂中的(001)晶面间距变化情况.研究表明,蒙脱石(001)晶面间距的变化能够直观的反应防膨剂的防膨效果.并且采取了先抑后膨、先膨后抑的方法对防膨剂的稳定性、持续性进行了评价,拓宽了评价防膨剂的性能参数.     

(100)高氯T颗粒乳剂中非T颗粒的产生

(100)高氯T颗粒乳剂是一种新型的T颗粒感光乳剂，颗粒的两个(100)主晶面为正方形或矩形。乳剂中常出现棒状大颗粒、四面体状大颗粒、厚颗粒以及立方体和近似球形的小颗粒等非T颗粒。非T颗粒的存在降低了T颗粒的比例，影响乳剂的照相性能。本文通过在制备过程中取样、观察，分析了非T颗粒产生的时间、成因、影响因素以及减少非T颗粒的措施。     

Ni基单晶高温合金取向测定方法的研究

论述了在普通的多晶衍射仪上,利用固定2θ角,进行Omega扫描的非对称X射线衍射方法来测定Ni基单晶高温合金[001]取向的原理,对三个具有不同取向角度的Ni基单晶高温合金进行了取向测定,讨论了该方法可测试的单晶体偏差角的范围和进一步扩大测试范围的可能解决方法,以及测试中应注意的问题.利用带有偏差角的非对称扫描方法得到了单晶的(002)晶面的衍射线,讨论了得到该衍射线的意义.